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紫外 雙光瀾測(cè)試方法

本專題涉及紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)有247條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中,紫外 雙光瀾測(cè)試方法涉及到陶瓷、玻璃、無機(jī)化學(xué)、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、半導(dǎo)體材料、光學(xué)設(shè)備、光纖通信、電信系統(tǒng)、電燈及有關(guān)裝置、消防、環(huán)境試驗(yàn)、危險(xiǎn)品防護(hù)、塑料、建筑材料、道路車輛裝置、粒度分析、篩分、太陽能工程、涂料配料、制藥學(xué)、農(nóng)業(yè)和林業(yè)、試驗(yàn)條件和規(guī)程綜合、粘合劑和膠粘產(chǎn)品、紡織工藝、有機(jī)化學(xué)、信息技術(shù)應(yīng)用、皮革技術(shù)、化工產(chǎn)品、紙漿、電信設(shè)備用部件和附件、造船和海上構(gòu)筑物綜合、道路車輛內(nèi)燃機(jī)、光電子學(xué)、激光設(shè)備、黑色金屬、涂料和清漆、增強(qiáng)塑料、橡膠和塑料制品、建筑構(gòu)件、航空航天發(fā)動(dòng)機(jī)和推進(jìn)系統(tǒng)、焊接、釬焊和低溫焊、印制電路和印制電路板、電子管。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中,紫外 雙光瀾測(cè)試方法涉及到特種陶瓷、特種玻璃、無機(jī)化工原料綜合、光電子器件綜合、工業(yè)技術(shù)玻璃、儀器、儀表用材料和元件、半金屬與半導(dǎo)體材料綜合、金相檢驗(yàn)方法、、光通信設(shè)備、、陶瓷、玻璃綜合、通信線路設(shè)備、、、、、、、太陽能、元素半導(dǎo)體材料、數(shù)據(jù)媒體、皮革加工與制品綜合、日用玻璃、陶瓷、搪瓷、塑料制品綜合、通信網(wǎng)設(shè)備互通技術(shù)要求和通信網(wǎng)接口、火工產(chǎn)品、通信網(wǎng)綜合、郵政機(jī)械設(shè)備、標(biāo)準(zhǔn)化、質(zhì)量管理、合成樹脂、塑料、光學(xué)計(jì)量儀器、數(shù)據(jù)通信設(shè)備、化合物半導(dǎo)體材料、半導(dǎo)體光敏器件、加工工藝綜合、印制電路、半導(dǎo)體發(fā)光器件、電子束管。


國家質(zhì)檢總局,關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

國家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì),關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 41050-2021 納米技術(shù) 光催化納米材料降解苯性能測(cè)試方法
  • GB/T 39716-2020 光催化材料及制品空氣凈化性能測(cè)試方法 氮氧化物的去除
  • GB/T 38256-2019 多光路光軸平行性測(cè)試方法

未注明發(fā)布機(jī)構(gòu),關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

  • GB/T 23761-2020 光催化材料及制品空氣凈化性能測(cè)試方法 乙醛(或甲醛)的降解
  • GB/T 23761-2020 光催化材料及制品空氣凈化性能測(cè)試方法 乙醛(或甲醛)的降解
  • GB/T 23762-2020 光催化材料水溶液凈化性能測(cè)試方法

工業(yè)和信息化部,關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

  • YD/T 4018-2022 基于非接觸式標(biāo)識(shí)的光分配網(wǎng)絡(luò)資源管理測(cè)試方法
  • YD/T 4014-2022 軟件定義光傳送網(wǎng)(SDOTN)測(cè)試方法
  • YD/T 3287.22-2021 智能光分配網(wǎng)絡(luò) 接口測(cè)試方法 第22部分:基于Socket的智能光分配網(wǎng)絡(luò)設(shè)施與智能光分配網(wǎng)絡(luò)管理系統(tǒng)的接口
  • YD/T 3918-2021 接入網(wǎng)設(shè)備測(cè)試方法 支持網(wǎng)絡(luò)切片的光線路終端(OLT)
  • YD/T 2798.2-2020 用于光通信的光收發(fā)合一模塊測(cè)試方法 第2部分:多波長型
  • YD/T 3566-2019 智能光分配網(wǎng)絡(luò) 管理系統(tǒng)測(cè)試方法
  • YD/T 3287.4-2019 智能光分配網(wǎng)絡(luò) 接口測(cè)試方法 第4部分:智能光分配網(wǎng)絡(luò)管理系統(tǒng)與OSS的接口
  • YD/T 3599-2019 分組增強(qiáng)型光傳送網(wǎng)(OTN)互通測(cè)試方法
  • YD/T 3287.3-2018 智能光分配網(wǎng)絡(luò) 接口測(cè)試方法 第3部分:智能管理終端與智能光分配網(wǎng)絡(luò)管理系統(tǒng)的接口
  • YD/T 702-2018 PIN-FET光接收組件測(cè)試方法
  • YD/T 3433-2018 用于OTDR測(cè)試的ONU光模塊內(nèi)置波長選擇性反射器技術(shù)要求和測(cè)試方法
  • YD/T 3422-2018 智能光分配網(wǎng)絡(luò) 管理終端測(cè)試方法
  • YD/T 3404-2018 分組增強(qiáng)型光傳送網(wǎng)設(shè)備測(cè)試方法
  • YD/T 3287.1-2017 智能光分配網(wǎng)絡(luò) 接口測(cè)試方法 第1部分:智能光分配網(wǎng)絡(luò)設(shè)施與智能管理終端的接口
  • YD/T 3287.21-2017 智能光分配網(wǎng)絡(luò) 接口測(cè)試方法 第21部分:基于SNMP的智能光分配網(wǎng)絡(luò)設(shè)施與智能光分配網(wǎng)絡(luò)管理系統(tǒng)的接口
  • YD/T 1353-2015 光通信用高速光探測(cè)器-前置放大器組件技術(shù)要求及測(cè)試方法
  • YD/T 2897-2015 光傳送設(shè)備節(jié)能參數(shù)和測(cè)試方法 OTN設(shè)備
  • YD/T 2898-2015 光傳送設(shè)備節(jié)能參數(shù)和測(cè)試方法 PTN設(shè)備
  • YD/T 2798.1-2015 用于光通信的光收發(fā)合一模塊測(cè)試方法 第1部分:單波長型

中國團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn),關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

  • T/CSA 071-2022 光醫(yī)療設(shè)備中柔性光源性能測(cè)試方法
  • T/GDCKCJH 027-2020 稀土摻雜激光玻璃光吸收和熒光特性測(cè)試方法
  • T/BSPT 003-2020 粉體技術(shù) 光散射原理細(xì)顆粒物(PM2.5)質(zhì)量濃度測(cè)量儀性能測(cè)試方法
  • T/IAWBS 012-2019 碳化硅單晶拋光片表面質(zhì)量和微管密度測(cè)試方法 ——共焦點(diǎn)微分干涉光學(xué)法
  • T/CBMF 72-2019 光催化材料及制品空氣凈化性能測(cè)試方法氮氧化物的去除
  • T/CSPSTC 25-2019 硅基薄膜光伏組件光致衰減測(cè)試方法
  • T/CSPSTC 25-2019 硅基薄膜光伏組件光致衰減測(cè)試方法
  • T/CSP T/BSPT003-2018 光散射原理細(xì)顆粒物(PM2.5)質(zhì)量濃度測(cè)量儀性能測(cè)試方法

海關(guān)總署,關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

  • SN/T 5315-2021 光催化自潔陶瓷性能測(cè)試方法 熒光探針法

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織,關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

  • ISO 22197-5:2021 精細(xì)陶瓷(高級(jí)陶瓷 高級(jí)技術(shù)陶瓷) - 半導(dǎo)體光催化材料的空氣純化性能測(cè)試方法 - 第5部分:去除甲硫醇
  • ISO 22197-4:2021 精細(xì)陶瓷(高級(jí)陶瓷 高級(jí)技術(shù)陶瓷) - 半導(dǎo)體光催化材料的空氣凈化性能測(cè)試方法 - 第4部分:去除甲醛
  • ISO 21111-4-2020 道路車輛 - 車內(nèi)以太網(wǎng) - 第4部分:光千兆以太網(wǎng)組件的一般要求和測(cè)試方法
  • ISO 787-15-2019 顏料和擴(kuò)展劑的一般測(cè)試方法 - 第15部分:與類似顏色的著色顏料的光的耐光性的比較
  • ISO 17168-2:2018 陶瓷-室內(nèi)光環(huán)境中反圣光催化劑材料的空氣凈化性能測(cè)試方法-第二部分:去除乙酰醛
  • ISO/IEC 10373-5-2014 識(shí)別卡. 測(cè)試方法. 第5部分: 光存儲(chǔ)卡
  • ISO/IEC 10373-9:2011 身份證——測(cè)試方法第9部分:光存儲(chǔ)卡——全息記錄法
  • ISO 10676-2010 精細(xì)陶瓷(高級(jí)陶瓷,高級(jí)工藝陶瓷).利用活性氧形成能力測(cè)定半導(dǎo)體光催化材料的水凈化性能的測(cè)試方法
  • ISO/TR 26369:2009 化妝品和化妝品;防曬測(cè)試方法——防曬產(chǎn)品光防護(hù)評(píng)估方法的回顧與評(píng)價(jià)
  • ISO 27447-2009 精細(xì)陶瓷.(高級(jí)陶瓷,高級(jí)工業(yè)陶瓷).半導(dǎo)體光催化材料的抗菌活性用測(cè)試方法
  • ISO/IEC 10373-5-2006 識(shí)別卡.測(cè)試方法.第5部分:光存儲(chǔ)卡
  • ISO/IEC 10373-5-1998 識(shí)別卡 測(cè)試方法 第5部分:光存儲(chǔ)卡

美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì),關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

  • ASTM E662-21a 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM F1515-21 通過顏色變化測(cè)量彈性地板的光穩(wěn)定性的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-21 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM B822-20 金屬粉末和相關(guān)化合物通過光散射的粒度分布的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D4001-20 通過光散射測(cè)定聚合物的重均分子量的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM C609-20 用于測(cè)量陶瓷片之間的光反射率值和小色差的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-19 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM C609-07(2019) 用于測(cè)量陶瓷片之間的光反射率值和小色差的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM C978-04(2019) 使用偏光顯微鏡和光學(xué)延遲補(bǔ)償程序?qū)ν该鞑AЩw中的殘余應(yīng)力進(jìn)行光彈性測(cè)定的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-18 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM F2602-18 用多角度光散射檢測(cè)(SEC-MALS)通過尺寸排阻色譜法測(cè)定殼聚糖和殼聚糖鹽的摩爾質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D6567-18 用于測(cè)量軋制侵蝕控制產(chǎn)品(RECP)的光穿透性的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D6567-17 用于測(cè)量軋制侵蝕控制產(chǎn)品(RECP)的光穿透性的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-17a 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM B822-17 金屬粉末和相關(guān)化合物通過光散射的粒度分布的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-17 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E1458-12(2016) 使用光掩模網(wǎng)的激光衍射粒度測(cè)量儀的校準(zhǔn)驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D3658-01(2016) 用于確定紫外線(UV)光固化玻璃/金屬粘合劑接頭的扭矩強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM F1515-15 通過顏色變化測(cè)量彈性地板的光穩(wěn)定性的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-15a 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-15 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D4093-95(2014) 透明或半透明塑料材料中雙折射和殘余應(yīng)變光彈性測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-14 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM C978-04(2014) 使用偏光顯微鏡和光學(xué)延遲補(bǔ)償程序?qū)ν该鞑AЩw中的殘余應(yīng)力進(jìn)行光彈性測(cè)定的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM C609-07(2014) 用于測(cè)量陶瓷片之間的光反射率值和小色差的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D4001-13 通過光散射測(cè)定聚合物的重均分子量的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-13d 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM F2602-13 用多角度光散射檢測(cè)(SEC-MALS)通過尺寸排阻色譜法測(cè)定殼聚糖和殼聚糖鹽的摩爾質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-13c 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-13b 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-13a 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-13 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-12a 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E1458-12 使用光掩模網(wǎng)的激光衍射粒度測(cè)量儀的校準(zhǔn)驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-12 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D4093-95(2010) 透明或半透明塑料材料中雙折射和殘余應(yīng)變光彈性測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM B822-10 金屬粉末和相關(guān)化合物通過光散射的粒度分布的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM C978-04(2009) 使用偏光顯微鏡和光學(xué)延遲補(bǔ)償程序?qū)ν该鞑AЩw中的殘余應(yīng)力進(jìn)行光彈性測(cè)定的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-09 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM F1515-03(2008) 通過顏色變化測(cè)量彈性地板的光穩(wěn)定性的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D3658-01(2008) 用于確定紫外線(UV)光固化玻璃/金屬粘合劑接頭的扭矩強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM F2602-08 用多角度光散射檢測(cè)(SEC-MALS)通過尺寸排阻色譜法測(cè)定殼聚糖和殼聚糖鹽的摩爾質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM F2602-08e1 用多角度光散射檢測(cè)(SEC-MALS)通過尺寸排阻色譜法測(cè)定殼聚糖和殼聚糖鹽的摩爾質(zhì)量的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM C609-07 用于測(cè)量陶瓷片之間的光反射率值和小色差的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-06 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-06e1 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D6567-00(2006) 用于測(cè)量草皮加強(qiáng)墊的光穿透的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D4001-93(2006) 通過光散射測(cè)定聚合物的重均分子量的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-05 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D4093-95(2005)e1 透明或半透明塑料材料中雙折射和殘余應(yīng)變光彈性測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM C978-04 使用偏光顯微鏡和光學(xué)延遲補(bǔ)償程序?qū)ν该鞑AЩw中的殘余應(yīng)力進(jìn)行光彈性測(cè)定的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-03 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-03e1 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-03e2 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM C978-87(1996) 使用偏光顯微鏡和光學(xué)延遲補(bǔ)償程序?qū)ν该鞑AЩw中的殘余應(yīng)力進(jìn)行光彈性測(cè)定的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM C978-02 使用偏光顯微鏡和光學(xué)延遲補(bǔ)償程序?qū)ν该鞑AЩw中的殘余應(yīng)力進(jìn)行光彈性測(cè)定的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM B822-02 金屬粉末和相關(guān)化合物通過光散射的粒度分布的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM B822-97 金屬粉末和相關(guān)化合物通過光散射的粒度分布的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-97 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-01 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D3658-01 用于確定紫外線(UV)光固化玻璃/金屬粘合劑接頭的扭矩強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D3658-90(1995) 用于確定紫外線(UV)光固化玻璃/金屬粘合劑接頭的扭矩強(qiáng)度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E1458-92 使用光掩模網(wǎng)的激光衍射粒度測(cè)量儀的校準(zhǔn)驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D4093-95(2001)e1 透明或半透明塑料材料中雙折射和殘余應(yīng)變光彈性測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D4093-95 透明或半透明塑料材料中雙折射和殘余應(yīng)變光彈性測(cè)量的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D6567-00 用于測(cè)量草皮加強(qiáng)墊的光穿透的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D4001-93(1999) 通過光散射測(cè)定聚合物的重均分子量的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E485-94(1999)e1 通過點(diǎn)到平面技術(shù)對(duì)高爐鐵的光發(fā)射真空光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D1494-1997 增強(qiáng)塑料板的散射光透射系數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D1494-1997(2001)e1 增強(qiáng)塑料板的散射光透射系數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM D1494-1997(2001) 增強(qiáng)塑料板的散射光透射系數(shù)的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E1260-1995 用光學(xué)無圖信號(hào)光散射儀確定噴射時(shí)液滴尺寸特性的測(cè)試方法
  • ASTM E662-2017 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法
  • ASTM E662-2019 由固體材料產(chǎn)生的煙霧的特定光密度的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法

國際電工委員會(huì),關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

  • IEC 61290-1-3:2021 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第1-3部分:功率和增益參數(shù) - 光功率計(jì)方法
  • IEC 61290-1-1-2020 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第1-1部分:功率和增益參數(shù) - 光譜分析儀方法
  • IEC 61290-1-1:2020 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第1-1部分:功率和增益參數(shù) - 光譜分析儀方法
  • IEC 61290-4-1:2016 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第4-1部分:增益瞬態(tài)參數(shù) - 雙波長方法
  • IEC 61290-4-1-2016 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第4-1部分:增益瞬態(tài)參數(shù) - 雙波長方法
  • IEC 61290-1-1:2015 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第1-1部分:功率和增益參數(shù) - 光譜分析儀方法
  • IEC 61290-1-3:2015 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第1-3部分:功率和增益參數(shù) - 光功率計(jì)方法
  • IEC 61290-1:2014 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第1部分:功率和增益參數(shù)
  • IEC 61290-10-5:2014 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第10-5部分:多通道參數(shù) - 分布式拉曼放大器增益和噪聲系數(shù)
  • IEC 61290-3-3:2013 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第3-3部分:噪聲系數(shù)參數(shù) - 信號(hào)功率達(dá)到總功率比
  • IEC 61290-4-1:2011 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第4-1部分:增益瞬態(tài)參數(shù) - 雙波長方法
  • IEC 61290-4-2:2011 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第4-2部分:增益瞬態(tài)參數(shù) - 寬帶源法
  • IEC 61290-10-1:2009 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第10-1部分:多通道參數(shù) - 使用光開關(guān)和光譜分析儀的脈沖方法
  • IEC 61290-3:2008 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第3部分:噪聲系數(shù)參數(shù)
  • IEC 61290-3-2:2008 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第3-2部分:噪聲系數(shù)參數(shù) - 電譜分析儀方法
  • IEC 61290-11-1:2008 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第11-1部分:極化模式色散參數(shù) - 瓊斯矩陣特征分析(jme)
  • IEC 61290-10-2:2007 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第10-2部分:多通道參數(shù) - 使用門控光譜分析儀的脈沖方法
  • IEC 61290-7-1:2007 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第7-1部分:帶外插入損耗 - 濾光光功率計(jì)方法
  • IEC 61290-1-1:2006 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第1-1部分:功率和增益參數(shù) - 光譜分析儀方法
  • IEC 61290-5-1:2006 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第5-1部分:反射參數(shù) - 光譜分析儀方法
  • IEC 61290-1-2:2005 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第1-2部分:功率和增益參數(shù) - 電氣頻譜分析儀方法
  • IEC 61290-1-3:2005 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第1-3部分:功率和增益參數(shù) - 光功率計(jì)方法
  • IEC 61290-11-2:2005 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第11-2部分:極化模式色散參數(shù) - 龐加萊球分析方法
  • IEC 61290-5-2:2003 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第5-2部分:反射參數(shù) - 電譜分析儀方法
  • IEC 61290-3-1:2003 光放大器 - 測(cè)試方法 - 第3-1部分:噪聲系數(shù)參數(shù) - 光譜分析儀方法
  • IEC 61290-5-3:2002 光放大器測(cè)試方法基本規(guī)范 - 第5-3部分:反射率參數(shù)測(cè)試方法 - 使用電譜分析儀的反射率公差測(cè)試方法

,關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

  • STAS 6926/18-1970 機(jī)動(dòng)車.測(cè)試方法.光核對(duì)印鑒法和信號(hào)設(shè)備

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-郵電通信,關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

  • YD/T 1351-2018 粗波分復(fù)用光收發(fā)合一模塊技術(shù)要求和測(cè)試方法
  • YD/T 2899-2015 光傳送設(shè)備節(jié)能參數(shù)和測(cè)試方法MSTP設(shè)備
  • YD/T 2489-2013 可重構(gòu)的光分插復(fù)用(ROADM)設(shè)備測(cè)試方法
  • YD/T 2148-2010 光傳送網(wǎng)(OTN)測(cè)試方法
  • YD/T 2006-2009 光通道功率可調(diào)合波器技術(shù)要求和測(cè)試方法
  • YD/T 1812.2-2009 10Gbit/s同軸連接型光發(fā)射組件(TOSA)和同軸連接型光接收組件(ROSA)技術(shù)要求和測(cè)試方法.第2部分:10Gbit/s有制冷TOSA
  • YD/T 1812.1-2008 10 Gbit/s同軸連接型光發(fā)射組件(TOSA)和同軸連接型光接收組件(ROSA)技術(shù)要求及測(cè)試方法 第1部分:10 Gbit/s無制冷 TOSA
  • YD/T 1812.3-2008 10 Gbit/s同軸連接型光發(fā)射組件(TOSA)和同軸連接型光接收組件(ROSA)技術(shù)要求及測(cè)試方法 第3部分:10Gbit/s ROSA
  • YD/T 1689-2007 機(jī)械式光開關(guān)技術(shù)要求和測(cè)試方法
  • YD/T 1351-2005 粗波分復(fù)用光收發(fā)合一模塊技術(shù)要求和測(cè)試方法
  • YD/T 1353-2005 光通信用高速光探測(cè)器——前置放大器 組件技術(shù)要求及測(cè)試方法
  • YD/T 1354-2005 光梳狀分波器技術(shù)要求及測(cè)試方法
  • YD/T 1339-2005 城市光傳送網(wǎng)波分復(fù)用(WDM)環(huán)網(wǎng)測(cè)試方法
  • YD/T 702-1993 PIN/FET 光接收組件測(cè)試方法

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì),關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

  • JIS R1701-1-2016 精細(xì)陶瓷(高級(jí)陶瓷、高級(jí)工業(yè)陶瓷).光催化材料的空氣凈化性能測(cè)試方法.第1部分:氧化氮的清除
  • JIS R1701-1-2010 精細(xì)陶瓷(高級(jí)陶瓷、高級(jí)工業(yè)陶瓷).光催化材料的空氣凈化性能測(cè)試方法.第1部分:氧化氮的清除

國家軍用標(biāo)準(zhǔn)-總裝備部,關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

  • GJB 8539-2015 結(jié)構(gòu)光視覺測(cè)量系統(tǒng)標(biāo)定與精度測(cè)試方法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子,關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

  • SJ/T 11494-2015 硅單晶中III-V族雜質(zhì)的光致發(fā)光測(cè)試方法
  • SJ 3246-1989 鋁鎵砷(AlxGa1-x As)材料中鋁組分的光熒光測(cè)試方法
  • SJ 2354.10-1983 PIN、雪崩光電二極管列陣串光因子的測(cè)試方法
  • SJ 2215.12-1982 半導(dǎo)體光耦合器入出間隔離電容的測(cè)試方法
  • SJ 2215.8-1982 半導(dǎo)體光耦合器輸出飽和壓降的測(cè)試方法
  • SJ 2215.13-1982 半導(dǎo)體光耦合器入出間絕緣電阻的測(cè)試方法
  • SJ 2215.6-1982 半導(dǎo)體光耦合器(二極管)結(jié)電容的測(cè)試方法
  • SJ 2215.1-1982 半導(dǎo)體光耦合器測(cè)試方法總則
  • SJ 2215.7-1982 半導(dǎo)體光耦合器集電極-發(fā)射極反向擊穿電壓的測(cè)試方法
  • SJ 2215.2-1982 半導(dǎo)體光耦合器(二極管)正向壓降的測(cè)試方法
  • SJ 2215.5-1982 半導(dǎo)體光耦合器(二極管)反向擊穿電壓的測(cè)試方法
  • SJ 2215.9-1982 半導(dǎo)體光耦合器(三極管)反向截止電流的測(cè)試方法
  • SJ 2215.4-1982 半導(dǎo)體光耦合器(二極管)反向電流的測(cè)試方法
  • SJ 2215.11-1982 半導(dǎo)體光耦合器脈沖、上升、下降、延遲、貯存時(shí)間的測(cè)試方法
  • SJ 2215.10-1982 半導(dǎo)體光耦合器直流電流傳輸比的測(cè)試方法
  • SJ 2215.3-1982 半導(dǎo)體光耦合器(二極管)正向電流的測(cè)試方法
  • SJ 2215.14-1982 半導(dǎo)體光耦合器入出間絕緣耐壓的測(cè)試方法
  • SJ/T 10861-1996 鉻版光密度的測(cè)試方法
  • SJ 2658.6-1986 半導(dǎo)體紅外發(fā)光二極管測(cè)試方法.輸出光功率的測(cè)試方法
  • SJ/T 10938-1996 彩色顯像管用屏玻璃光透射比(τ546)的測(cè)試方法
  • SJ 2658.13-1986 半導(dǎo)體紅外發(fā)光二極管測(cè)試方法.輸出光功率溫度系數(shù)的測(cè)試方法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-輕工,關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

韓國標(biāo)準(zhǔn),關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

  • KS L ISO 10676-2012 精細(xì)陶瓷(高級(jí)陶瓷、高級(jí)工藝陶瓷).利用活性氧形成能力測(cè)定半導(dǎo)體光催化材料的水凈化性能的測(cè)試方法
  • KS L ISO 27447-2011 精細(xì)陶瓷(高級(jí)陶瓷、高級(jí)工業(yè)陶瓷).半導(dǎo)體光催化材料的抗菌活性用測(cè)試方法
  • KS L ISO 27447-2011 精細(xì)陶瓷(高級(jí)陶瓷、高級(jí)工業(yè)陶瓷).半導(dǎo)體光催化材料的抗菌活性用測(cè)試方法
  • KS B 0857-1971 光焊接測(cè)試方法(鋼)

印度尼西亞標(biāo)準(zhǔn),關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

國際電信聯(lián)盟,關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

  • ITU-T G.661-2007 光放大器件和子系統(tǒng)的相關(guān)通用參數(shù)的定義和測(cè)試方法

加拿大標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì),關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

國家軍用標(biāo)準(zhǔn)-國防科工委,關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

  • GJB 3196.30A-2005 槍彈試驗(yàn)方法.第30部分:速度測(cè)試.光幕靶法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-郵政,關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì),關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

  • ANSI/TIA-455-209-2000 FOTP209.IEC 61290-2-1.光纖放大器.基礎(chǔ)規(guī)范.第2-1部分:光功率參數(shù)的測(cè)試方法.光譜分析儀
  • ANSI/TIA/EIA 455-206-2000 FOTP206-IEC 61290-1-2-光纖放大器. 基本規(guī)范 .第1-1部分: 增益參數(shù)測(cè)試方法.光頻譜分析儀
  • ANSI/TIA/EIA 455-212-2000 FOTP212-IEC 61290-6-1-光纖放大器. 基本規(guī)范.第6-1部分:泵泄漏參數(shù)測(cè)試方法.光多路分配器
  • ANSI/TIA/EIA 455-211-2000 FOTP211-IEC 61290-2-3-光纖放大器. 基本規(guī)范.第2-3部分: 光功率參數(shù)測(cè)試方法.光功率計(jì)多路分配器
  • ANSI/TIA/EIA 455-209-2000 FOTP209-IEC 61290-2-1-光纖放大器. 基本規(guī)范 .第2-1部分: 光功率參數(shù)測(cè)試方法.光頻譜分析儀
  • ANSI/TIA/EIA 455-210-2000 FOTP210-IEC 61290-2-2-光纖放大器. 基本規(guī)范 .第2-2部分: 光功率參數(shù)測(cè)試方法.電頻譜分析儀
  • ANSI/TIA-455-210-2000 FOTP209.IEC 61290-2-1.光纖放大器.基礎(chǔ)規(guī)范.第2-2部分:光功率參數(shù)的測(cè)試方法.電頻譜分析儀

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì),關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

  • BS EN 61290-6-1-1998 光纖放大器.基本規(guī)范.泵漏參數(shù)測(cè)試方法.光信號(hào)分離器

澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì),關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

  • AS/NZS 1580.205.1-1997 油漆及類似材料 測(cè)試方法 應(yīng)用性質(zhì) 擦光
  • AS/NZS 4257.4-1994 塑料屋頂和墻面覆蓋層材料.測(cè)試方法.漫射光透光率的測(cè)定

美國電子電路和電子互連行業(yè)協(xié)會(huì),關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

美國電信工業(yè)協(xié)會(huì),關(guān)于紫外 雙光瀾測(cè)試方法的標(biāo)準(zhǔn)

  • TIA TSB-62-1993 光纖、光纜、光電源和光電探測(cè)器、傳感器、連接和終端器件及其他光元件的信息測(cè)試方法

紫外 雙光瀾測(cè)試方法紫外燈測(cè)試方法,紫外分光測(cè)試方法紫外光譜測(cè)試方法,紫外變色測(cè)試方法紫外吸收測(cè)試方法,紫外線吸收測(cè)試方法,紫外吸光度測(cè)試方法,雙光度紫外測(cè)試方法,紫外光譜儀測(cè)試方法紫外吸收的測(cè)試方法,紫外 雙鍵,雙鍵 紫外。

 

可能用到的儀器設(shè)備

 

納米傅里葉紅外光譜儀

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QUANTUM量子科學(xué)儀器貿(mào)易(北京)有限公司

 

傅里葉變換太赫茲光譜儀SPS-300

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北京先鋒泰坦科技有限公司

 

傅里葉變換紅外光譜儀

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沈陽科晶自動(dòng)化設(shè)備有限公司

 

開元5E-IRS3600自動(dòng)紅外測(cè)硫儀

開元5E-IRS3600自動(dòng)紅外測(cè)硫儀

長沙開元弘盛科技有限公司

 

5E-IRSⅡ紅外測(cè)硫儀

5E-IRSⅡ紅外測(cè)硫儀

長沙開元弘盛科技有限公司

 

 




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