納米熒光量子點(diǎn)

本專題涉及納米熒光量子點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)有3條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，納米熒光量子點(diǎn)涉及到光學(xué)和光學(xué)測(cè)量。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，納米熒光量子點(diǎn)涉及到基礎(chǔ)學(xué)科綜合。

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于納米熒光量子點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 36081-2018 納米技術(shù) 硒化鎘量子點(diǎn)納米晶體表征 熒光發(fā)射光譜法

國際電工委員會(huì)，關(guān)于納米熒光量子點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)

• IEC TS 62607-3-3-2020 納米制造.關(guān)鍵控制特性.第3-3部分:發(fā)光納米材料.用時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)法（TCSPC）測(cè)定半導(dǎo)體量子點(diǎn)的熒光壽命
• IEC TS 62607-3-3:2020 納米制造.關(guān)鍵控制特性.第3-3部分:發(fā)光納米材料.用時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)法（TCSPC）測(cè)定半導(dǎo)體量子點(diǎn)的熒光壽命

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