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近場掃描光學(xué)顯微鏡中

本專題涉及近場掃描光學(xué)顯微鏡中的標(biāo)準(zhǔn)有20條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中,近場掃描光學(xué)顯微鏡中涉及到有色金屬、分析化學(xué)、長度和角度測量、空氣質(zhì)量、光學(xué)設(shè)備、詞匯。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中,近場掃描光學(xué)顯微鏡中涉及到放大鏡與顯微鏡、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、、技術(shù)管理。


韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局,關(guān)于近場掃描光學(xué)顯微鏡中的標(biāo)準(zhǔn)

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織,關(guān)于近場掃描光學(xué)顯微鏡中的標(biāo)準(zhǔn)

  • ISO 27911:2011 表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.近場光學(xué)顯微鏡橫向分辨率的定義與校準(zhǔn)

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會,關(guān)于近場掃描光學(xué)顯微鏡中的標(biāo)準(zhǔn)

  • BS ISO 27911:2011 表面化學(xué)分析.掃描探針顯微鏡.近場光學(xué)顯微鏡橫向分辨率的定義和校準(zhǔn)
  • 10/30165036 DC BS ISO 27911 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 近場光學(xué)顯微鏡橫向分辨率的定義和校準(zhǔn)
  • 13/30203227 DC BS ISO 13083 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 掃描擴(kuò)散電阻顯微鏡和掃描電容顯微鏡的空間分辨率定義和校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)

巴林國家計量局,關(guān)于近場掃描光學(xué)顯微鏡中的標(biāo)準(zhǔn)

  • BH GSO ISO 27911:2016 表面化學(xué)分析 掃描探針顯微鏡 近場光學(xué)顯微鏡橫向分辨率的定義和校準(zhǔn)

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-商品檢驗(yàn),關(guān)于近場掃描光學(xué)顯微鏡中的標(biāo)準(zhǔn)

美國材料與試驗(yàn)協(xié)會,關(guān)于近場掃描光學(xué)顯微鏡中的標(biāo)準(zhǔn)

  • ASTM E2382-04 掃描隧道顯微鏡學(xué)和原子力顯微鏡學(xué)中掃描器和與觸點(diǎn)相關(guān)物品的指南
  • ASTM E2382-04(2012) 掃描隧道顯微鏡學(xué)和原子力顯微鏡學(xué)中掃描器和與觸點(diǎn)相關(guān)物品的標(biāo)準(zhǔn)指南

海灣阿拉伯國家合作委員會標(biāo)準(zhǔn)組織,關(guān)于近場掃描光學(xué)顯微鏡中的標(biāo)準(zhǔn)

  • GSO ISO 27911:2013 表面化學(xué)分析 微探針掃描 近光學(xué)顯微鏡橫向溶解的定義和校準(zhǔn)

俄羅斯標(biāo)準(zhǔn)局,關(guān)于近場掃描光學(xué)顯微鏡中的標(biāo)準(zhǔn)

  • GOST R ISO 27911-2015 確保測量一致性的國家系統(tǒng). 表面化學(xué)分析. 掃描探針顯微鏡. 近場光學(xué)顯微鏡橫向分辨率的定義和校準(zhǔn)

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會,關(guān)于近場掃描光學(xué)顯微鏡中的標(biāo)準(zhǔn)

  • JIS K 3850-1:2006 空中纖維分子的測定.第1部分:光學(xué)顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
  • JIS K 3850-1:2000 空氣中纖維粒子的測量方法.第1部分:光學(xué)顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法

中國團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn),關(guān)于近場掃描光學(xué)顯微鏡中的標(biāo)準(zhǔn)





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