探針損傷

本專題涉及探針損傷的標(biāo)準(zhǔn)有11條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，探針損傷涉及到電工器件、電子電信設(shè)備用機(jī)電元件、航空航天用電氣設(shè)備和系統(tǒng)、機(jī)上設(shè)備和儀器、電學(xué)、磁學(xué)、電和磁的測量、水果、蔬菜及其制品。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，探針損傷涉及到連接器、電子元器件、程序語言、電氣系統(tǒng)與設(shè)備。

美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于探針損傷的標(biāo)準(zhǔn)

• ANSI/EIA-364-25D-2010 電連接器的探針損傷試驗程序
• ANSI/EIA 364-25C-1998 電連接器.探針損傷試驗程序

法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于探針損傷的標(biāo)準(zhǔn)

• NF C93-400-16-1-2008 電子設(shè)備用連接器.試驗和測量.第16-1:觸點和終端的機(jī)械試驗.試驗16a:探針損傷
• NF L54-002-132-2002 航空航天系列.電氣及光學(xué)連接元件.試驗方法.第6415部分:光學(xué)元件.檢測探針損傷
• NF L54-002-058-2002 航空航天系列.電氣及光學(xué)連接元件.試驗方法.第415部分:檢測探針損傷(插孔接觸點)

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于探針損傷的標(biāo)準(zhǔn)

• BS EN 2591-6415-2002 電氣和光學(xué)連接元件.試驗方法.光學(xué)元件.檢測探針的損傷
• BS EN 2591-415-2001 電氣和光學(xué)連接元件.試驗方法.測試探針損傷(塞孔接點)

歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會，關(guān)于探針損傷的標(biāo)準(zhǔn)

• EN 2591-415-2001 航空航天系列.光電連接元件的試驗方法.第415部分:測試探針損傷(塞孔接點)
• EN 2591-6415-2001 航空航天系列.光電連接元件的試驗方法.第6415部分:光學(xué)元件.探針損傷測試

美國電子元器件、組件及材料協(xié)會，關(guān)于探針損傷的標(biāo)準(zhǔn)

• ECA EIA-364-25C-1998 TP-25C 電連接器的探針損傷試驗程序 取代MIL-STD-1344,方法2006.1

歐洲航空工業(yè)協(xié)會，關(guān)于探針損傷的標(biāo)準(zhǔn)

• AECMA PREN 2591-D15-1992 航空航天系列.光電連接元件　試驗方法　D15部分:測試探針損傷(塞孔接點)

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