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Grundprinzipien der Testmethoden für A/D- und D/A-Wandler für integrierte Schaltkreise

Für die Grundprinzipien der Testmethoden für A/D- und D/A-Wandler für integrierte Schaltkreise gibt es insgesamt 29 relevante Standards.

In der internationalen Standardklassifizierung umfasst Grundprinzipien der Testmethoden für A/D- und D/A-Wandler für integrierte Schaltkreise die folgenden Kategorien: Integrierte Schaltkreise, Mikroelektronik, Gleichrichter, Wandler, geregelte Netzteile.

Professional Standard - Electron, Grundprinzipien der Testmethoden für A/D- und D/A-Wandler für integrierte Schaltkreise

• SJ 20961-2006 Allgemeine Grundlagen der Messmethoden von A/D- und D/A-Wandlern für integrierte Schaltkreise
• SJ/T 10804-2000 Integrierte Halbleiterschaltungen. Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für Pegelumsetzer
• SJ/T 10804-1996 Als Schnittstellenschaltungen verwendete integrierte Halbleiterschaltkreise – Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für Pegelumsetzer
• SJ 2481-1984 Allgemeine Prinzipien der statischen Messung für A/D-Wandler für hybride integrierte Schaltkreise
• SJ 2480-1984 Allgemeine Prinzipien der statischen Messung für D/A-Wandler für hybride integrierte Schaltkreise
• SJ 50597/20-1994 Integrierte Halbleiterschaltungen. Detaillierte Spezifikation für den parallel vervielfachenden 8-Bit-D/A-Wandler Typ JDAC08, JDAC08A
• SJ/T 10818-1996 Integrierte Halbleiterschaltungen – Allgemeine Grunds?tze der Messmethoden für D/A- und A/D-Wandler nichtlinearer Schaltungen
• SJ 50597/21-1994 Integrierte Halbleiterschaltungen. Detailspezifikation des Typs JADC1001, allgemeiner 8-Bit-A/D-Wandler mit Bin?rausgang für
• SJ/T 11003-1996 Detaillierte Spezifikationen für elektronische Komponenten – Integrierte Halbleiterschaltkreise – CB14433 31/2-Bit-A/D-Wandler (gilt für die Zertifizierung)
• SJ/T 10735-1996 Integrierte Halbleiterschaltungen Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für TTL-Schaltungen
• SJ/T 10737-1996 Integrierte Halbleiterschaltungen – Allgemeine Grunds?tze der Messmethoden für ECL-Schaltungen
• SJ/T 10741-2000 Integrierte Halbleiterschaltungen Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für CMOS-Schaltungen
• SJ/T 10736-1996 Integrierte Halbleiterschaltungen – Allgemeine Grundlagen der Messmethoden für HTL-Schaltungen
• SJ/T 10741-1996 Integrierte Halbleiterschaltungen – Allgemeine Prinzipien der Messmethoden für CMOS-Schaltungen
• SJ/T 10805-2000 Integrierte Halbleiterschaltungen. Allgemeine Grunds?tze der Messmethoden für Spannungskomparatoren

IEEE - The Institute of Electrical and Electronics Engineers@ Inc., Grundprinzipien der Testmethoden für A/D- und D/A-Wandler für integrierte Schaltkreise

• IEEE 746-1984 Leistungsmessungen von A/D- und D/A-Wandlern für PCM-Fernsehvideoschaltungen

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Grundprinzipien der Testmethoden für A/D- und D/A-Wandler für integrierte Schaltkreise

• IEEE Std 746-1984 IEEE-Standard für Leistungsmessungen von A/D- und D/A-Wandlern für PCM-Fernsehvideoschaltungen

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Grundprinzipien der Testmethoden für A/D- und D/A-Wandler für integrierte Schaltkreise

• KS C IEC 60748-4-1:2003 Halbleiterbauelemente – Integrierte Schaltkreise – Teil 4: Integrierte Schnittstellenschaltkreise – Abschnitt 1: Blanko-Detailspezifikation für lineare Digital-Analog-Wandler (DAC)
• KS C IEC 60748-4-2:2003 Halbleiterbauelemente – Integrierte Schaltkreise – Teil 4: Integrierte Schnittstellenschaltkreise – Abschnitt 2: Blanko-Detailspezifikation für lineare Analog-Digital-Wandler (ADC)

Professional Standard - Aerospace, Grundprinzipien der Testmethoden für A/D- und D/A-Wandler für integrierte Schaltkreise

• QJ 2614-1994 Testverfahren für dynamische Eigenschaften von Hochgeschwindigkeits-A/D-Wandlern

Defense Logistics Agency, Grundprinzipien der Testmethoden für A/D- und D/A-Wandler für integrierte Schaltkreise

• DLA SMD-5962-88719 REV C-2002 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, 12-BIT, QUAD-D/A-KONVERTER, MONOLITHISCHES SILIKON
• DLA SMD-5962-88650 REV B-2004 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, CMOS, 8-BIT, MIKROPROZESSOR-KOMPATIBEL, A/D-KONVERTER, MONOLITHISCHES SILIZIUM
• DLA SMD-5962-88659 REV B-2002 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, 12-BIT-SPANNUNGSAUSGANG-D/A-KONVERTER, MIKROPROZESSOR-KOMPATIBEL, MONOLITHISCHES SILIZIUM
• DLA SMD-5962-88659 REV C-2013 MIKROSCHALTUNG, LINEAR, 12-BIT-SPANNUNGSAUSGANG-D/A-KONVERTER, MIKROPROZESSOR-KOMPATIBEL, MONOLITHISCHES SILIZIUM

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Grundprinzipien der Testmethoden für A/D- und D/A-Wandler für integrierte Schaltkreise

• GB/T 14114-1993 Allgemeine Prinzipien der Messmethoden von V/F- und F/V-Wandlern für integrierte Halbleiterschaltungen
• GB/T 14030-1992 Allgemeine Prinzipien der Messmethoden von Zeitgeberschaltungen für integrierte Halbleiterschaltungen
• GB 14030-1992 Grundprinzipien zeitbasierter Schaltungstestmethoden für integrierte Halbleiterschaltungen
• GB/T 4377-1996 Integrierte Halbleiterschaltungen. Allgemeine Grunds?tze der Messmethoden von Spannungsreglern
• GB/T 6798-1996 Integrierte Halbleiterschaltungen. Allgemeine Grunds?tze der Messmethoden von Spannungskomparatoren

Sonstige:   Grundprinzipien der Testmethoden für A/D- und D/A-Wandler für integrierte Schaltkreise, Grundprinzipien von Testmethoden für integrierte A/D- und D/A-Wandler.