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Cristal de difractómetro de rayos X

Cristal de difractómetro de rayos X, Total: 62 artículos.

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National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Cristal de difractómetro de rayos X

Professional Standard - Machinery, Cristal de difractómetro de rayos X

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會, Cristal de difractómetro de rayos X

  • GB/T 37983-2019 Métodos de prueba de difracción de rayos X para determinar la orientación de materiales cristalinos por rotación.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Cristal de difractómetro de rayos X

  • JIS H 7805:2005 Método para la determinación del tama?o de cristalitos en catalizadores metálicos mediante difractometría de rayos X.

Professional Standard - Education, Cristal de difractómetro de rayos X

  • JY/T 0587-2020 Principios generales de los métodos de difracción de rayos X de policristales.
  • JY/T 009-1996 Principios generales del método de derivación de rayos X de policristales con objetivo giratorio
  • JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares peque?os mediante difracción de rayos X de cristal único
  • JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares peque?os mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos

British Standards Institution (BSI), Cristal de difractómetro de rayos X

  • BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
  • BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
  • BS EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
  • BS EN 13925-2:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
  • BS EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
  • BS EN 13925-1:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Cristal de difractómetro de rayos X

  • GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor
  • GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
  • GB/T 8362-1987 Austenita retenida en acero--Determinación cuantitativa--Método de difractómetro de rayos X
  • GB/T 30904-2014 Productos químicos inorgánicos para uso industrial. Análisis de forma cristalina. Método de difracción de rayos X.

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會, Cristal de difractómetro de rayos X

  • GB/T 34612-2017 Método de medición de la curva de oscilación de difracción de doble cristal de rayos X de cristales de zafiro

AENOR, Cristal de difractómetro de rayos X

  • UNE-EN 13925-3:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
  • UNE-EN 13925-2:2004 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos

SCC, Cristal de difractómetro de rayos X

  • AENOR UNE-EN 13925-3:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
  • NS-EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
  • DANSK DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
  • DANSK DS/EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
  • NS-EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 2: Procedimientos.

German Institute for Standardization, Cristal de difractómetro de rayos X

  • DIN EN 13925-3:2005-07 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
  • DIN EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
  • DIN EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
  • DIN EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
  • DIN EN 13925-2:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003

Association Francaise de Normalisation, Cristal de difractómetro de rayos X

  • NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: instrumentos.
  • NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 2: procedimientos.
  • NF EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos

Danish Standards Foundation, Cristal de difractómetro de rayos X

  • DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
  • DS/EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos

European Committee for Standardization (CEN), Cristal de difractómetro de rayos X

  • EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
  • EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos

Lithuanian Standards Office , Cristal de difractómetro de rayos X

  • LST EN 13925-3-2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
  • LST EN 13925-2-2004 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos

工業(yè)和信息化部, Cristal de difractómetro de rayos X

  • YB/T 5338-2019 Método de difractómetro de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita en acero.
  • SH/T 1827-2019 Determinación de la cristalinidad de plásticos mediante el método de difracción de rayos X.

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Cristal de difractómetro de rayos X

  • YB/T 5338-2006 Método de difracción de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita retenida en acero

Professional Standard - Agriculture, Cristal de difractómetro de rayos X

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Cristal de difractómetro de rayos X

  • JJF 1256-2010 Especificación de calibración para equipos de orientación de monocristales de rayos X

PT-IPQ, Cristal de difractómetro de rayos X

Professional Standard - Nuclear Industry, Cristal de difractómetro de rayos X

  • EJ/T 553-1991 Determinación de los parámetros de las células minerales Método de difracción de rayos X en polvo

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Cristal de difractómetro de rayos X

  • KS M 0043-2009 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.

Professional Standard - Energy, Cristal de difractómetro de rayos X

  • NB/SH/T 6033-2021 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del método de difracción de rayos X del tamiz molecular ZSM-22
  • NB/SH/T 6015-2020 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del tamiz molecular ZSM-23 mediante el método de difracción de rayos X
  • NB/SH/T 6024-2021 Determinación de la cristalinidad relativa del método de difracción de rayos X de tamiz molecular ZSM-5

IT-UNI, Cristal de difractómetro de rayos X

  • UNI 6966-1971 Determinación cuantitativa de las figuras polares y policristales mediante difusión de trapos X

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, Cristal de difractómetro de rayos X

  • GBZ 115-2002 Estándares radiológicos para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X

GSO, Cristal de difractómetro de rayos X

  • NB/SH/T 6058-2022 Determinación de la cristalinidad relativa del tamiz molecular ZSM-22 mediante el método de difracción de rayos X




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