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Cristal de difractómetro de rayos X

Cristal de difractómetro de rayos X, Total: 62 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Cristal de difractómetro de rayos X son: pruebas de metales, óptica y medidas ópticas., Química analítica, Productos de la industria química., producción de metales, Educación, Pruebas no destructivas, Plástica, Protección de radiación, químicos inorgánicos, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Cristal de difractómetro de rayos X

• JJG 629-1989 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
• JJG(地質(zhì)) 1014-1990 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
• JJG 629-2014 Difractómetros de rayos X policristalinos

Professional Standard - Machinery, Cristal de difractómetro de rayos X

• JB/T 9399-2010 Serie de parámetros principales para la instrumentación analítica de rayos X.
• JB/T 11144-2011 difractómetro de rayos X
• JB/T 5482-2011 Aparato de orientación de rayos X.
• JB/T 9400-1999 Especificación para difractómetro de rayos X.
• JB/T 9400-2010 Especificación del difractómetro de rayos X.
• JB/T 5482-2004 Condiciones técnicas del instrumento de orientación de cristales de rayos X.

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會, Cristal de difractómetro de rayos X

• GB/T 37983-2019 Métodos de prueba de difracción de rayos X para determinar la orientación de materiales cristalinos por rotación.

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Cristal de difractómetro de rayos X

• JIS H 7805:2005 Método para la determinación del tama?o de cristalitos en catalizadores metálicos mediante difractometría de rayos X.

Professional Standard - Education, Cristal de difractómetro de rayos X

• JY/T 0587-2020 Principios generales de los métodos de difracción de rayos X de policristales.
• JY/T 009-1996 Principios generales del método de derivación de rayos X de policristales con objetivo giratorio
• JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares peque?os mediante difracción de rayos X de cristal único
• JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares peque?os mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos

British Standards Institution (BSI), Cristal de difractómetro de rayos X

• BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
• BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
• BS EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
• BS EN 13925-2:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
• BS EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
• BS EN 13925-1:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Cristal de difractómetro de rayos X

• GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor
• GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
• GB/T 8362-1987 Austenita retenida en acero--Determinación cuantitativa--Método de difractómetro de rayos X
• GB/T 30904-2014 Productos químicos inorgánicos para uso industrial. Análisis de forma cristalina. Método de difracción de rayos X.

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會, Cristal de difractómetro de rayos X

• GB/T 34612-2017 Método de medición de la curva de oscilación de difracción de doble cristal de rayos X de cristales de zafiro

AENOR, Cristal de difractómetro de rayos X

• UNE-EN 13925-3:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• UNE-EN 13925-2:2004 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos

SCC, Cristal de difractómetro de rayos X

• AENOR UNE-EN 13925-3:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• NS-EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• DANSK DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• DANSK DS/EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
• NS-EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 2: Procedimientos.

German Institute for Standardization, Cristal de difractómetro de rayos X

• DIN EN 13925-3:2005-07 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
• DIN EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
• DIN EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
• DIN EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
• DIN EN 13925-2:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003

Association Francaise de Normalisation, Cristal de difractómetro de rayos X

• NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: instrumentos.
• NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 2: procedimientos.
• NF EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos

Danish Standards Foundation, Cristal de difractómetro de rayos X

• DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• DS/EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos

European Committee for Standardization (CEN), Cristal de difractómetro de rayos X

• EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos

Lithuanian Standards Office , Cristal de difractómetro de rayos X

• LST EN 13925-3-2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
• LST EN 13925-2-2004 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos

工業(yè)和信息化部, Cristal de difractómetro de rayos X

• YB/T 5338-2019 Método de difractómetro de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita en acero.
• SH/T 1827-2019 Determinación de la cristalinidad de plásticos mediante el método de difracción de rayos X.

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Cristal de difractómetro de rayos X

• YB/T 5338-2006 Método de difracción de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita retenida en acero

Professional Standard - Agriculture, Cristal de difractómetro de rayos X

• 57藥典 四部-2020 0451 Método de difracción de rayos X
• 77藥典 四部-2015 0451 Método de difracción de rayos X

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Cristal de difractómetro de rayos X

• JJF 1256-2010 Especificación de calibración para equipos de orientación de monocristales de rayos X

PT-IPQ, Cristal de difractómetro de rayos X

• E E 14-1971 AN?LISE POR DIFRAC??O DE RAIOS X

Professional Standard - Nuclear Industry, Cristal de difractómetro de rayos X

• EJ/T 553-1991 Determinación de los parámetros de las células minerales Método de difracción de rayos X en polvo

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Cristal de difractómetro de rayos X

• KS M 0043-2009 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.

Professional Standard - Energy, Cristal de difractómetro de rayos X

• NB/SH/T 6033-2021 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del método de difracción de rayos X del tamiz molecular ZSM-22
• NB/SH/T 6015-2020 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del tamiz molecular ZSM-23 mediante el método de difracción de rayos X
• NB/SH/T 6024-2021 Determinación de la cristalinidad relativa del método de difracción de rayos X de tamiz molecular ZSM-5

IT-UNI, Cristal de difractómetro de rayos X

• UNI 6966-1971 Determinación cuantitativa de las figuras polares y policristales mediante difusión de trapos X

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, Cristal de difractómetro de rayos X

• GBZ 115-2002 Estándares radiológicos para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X

GSO, Cristal de difractómetro de rayos X

• NB/SH/T 6058-2022 Determinación de la cristalinidad relativa del tamiz molecular ZSM-22 mediante el método de difracción de rayos X

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