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estructura de análisis de difracción de rayos x

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en estructura de análisis de difracción de rayos x son: Química analítica, químicos inorgánicos, Metales no ferrosos, Refractarios, Protección de radiación, Productos de la industria química., óptica y medidas ópticas., Educación, Plástica, pruebas de metales, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Materiales de construcción, Centrales eléctricas en general, Vocabularios, Pruebas no destructivas.

PT-IPQ, estructura de análisis de difracción de rayos x

• E E 14-1971 AN?LISE POR DIFRAC??O DE RAIOS X

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), estructura de análisis de difracción de rayos x

• KS M 0043-2009 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
• KS M 0043-2009(2019) Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, estructura de análisis de difracción de rayos x

• GB/T 30904-2014 Productos químicos inorgánicos para uso industrial. Análisis de forma cristalina. Método de difracción de rayos X.
• GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
• GB/T 5225-1985 Materiales metálicos--Análisis de fase cuantitativo--Método de difracción de rayos X del "valor K"
• GB/T 8359-1987 Carburos en acero rápido. Análisis de fase cuantitativa. Método de difractómetro de rayos X.

Association Francaise de Normalisation, estructura de análisis de difracción de rayos x

• NF T25-111-3:1991 Fibras de carbono- Textura y estructura- Parte 3: Análisis azimutal de la difracción de los rayos X
• NF EN 15305:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
• NF B49-422-2*NF EN 12698-2:2008 Análisis químico de refractarios de carburo de silicio unidos con nitruro - Parte 2: Métodos XRD.

工業(yè)和信息化部, estructura de análisis de difracción de rayos x

• YS/T 1178-2017 Método de difracción de rayos X de análisis de fase de escoria de aluminio.
• YB/T 172-2020 Análisis de fase cuantitativa de ladrillos de sílice mediante el método de difracción de rayos X.
• SH/T 1827-2019 Determinación de la cristalinidad de plásticos mediante el método de difracción de rayos X.
• YS/T 1344.3-2020 Método de análisis químico de polvo de óxido de indio dopado con esta?o Parte 3: Análisis de fase Método de análisis de difracción de rayos X

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, estructura de análisis de difracción de rayos x

• YB/T 172-2000 Análisis cuantitativo de fases de ladrillos de sílice. Método de difracción de rayos X.
• YB/T 5320-2006 Método del valor K de difracción de rayos X para el análisis de fase cuantitativo de materiales metálicos
• YB/T 5336-2006 Análisis cuantitativo de la fase de carburo en acero de alta velocidad mediante el método de difracción de rayos X

American National Standards Institute （ANSI), estructura de análisis de difracción de rayos x

• ANSI N43.2-2001 Seguridad radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), estructura de análisis de difracción de rayos x

• JIS K 0131:1996 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標準化管理委員會, estructura de análisis de difracción de rayos x

• GB/T 36923-2018 Identificación de polvo de perlas: análisis de difracción de rayos X.
• GB/T 40407-2021 Método de análisis de difracción de rayos X en polvo para determinar las fases en el clinker de cemento portland

Professional Standard - Machinery, estructura de análisis de difracción de rayos x

• JB/T 11144-2011 difractómetro de rayos X
• JB/T 9400-2010 Especificación del difractómetro de rayos X.
• JB/T 9400-1999 Especificación para difractómetro de rayos X.

Professional Standard - Agriculture, estructura de análisis de difracción de rayos x

• 57藥典 四部-2020 0451 Método de difracción de rayos X
• 77藥典 四部-2015 0451 Método de difracción de rayos X

Professional Standard - Education, estructura de análisis de difracción de rayos x

• JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares peque?os mediante difracción de rayos X de cristal único
• JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares peque?os mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos

水利部, estructura de análisis de difracción de rayos x

• SL 547-2011 Método de prueba para la tensión residual de estructuras metálicas hidráulicas. Método de difracción de rayos X.

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, estructura de análisis de difracción de rayos x

• GBZ 115-2002 Estándares radiológicos para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X

Professional Standard - Electricity, estructura de análisis de difracción de rayos x

• DL/T 1151.22-2012 Métodos analíticos de incrustaciones y productos de corrosión en centrales eléctricas. Parte 22: métodos de prueba estándar de espectrometría de fluorescencia de rayos X y difracción de rayos X.

German Institute for Standardization, estructura de análisis de difracción de rayos x

• DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008, corrección de errores según DIN EN 15305:2009-01; Versión alemana EN 15305:2008/AC:2009
• DIN EN 15305:2009-01 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008
• DIN EN 12698-2:2007 Análisis químico de refractarios de carburo de silicio unidos con nitruro. Parte 2: métodos XRD Versión en inglés de DIN EN 12698-2:2007-06

SCC, estructura de análisis de difracción de rayos x

• DANSK DS/EN 15305:2008 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
• AENOR UNE-EN 15305:2010 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
• NS-EN 15305:2008 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensión residual mediante difracción de rayos X
• DANSK DS/EN 15305/AC:2009 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
• 05/30137047 DC EN 15305. Ensayos no destructivos. Método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X.
• VDI/VDE 5575 BLATT 10-2019 Sistemas ópticos de rayos X - rejillas de difracción

GSO, estructura de análisis de difracción de rayos x

• NB/SH/T 6058-2022 Determinación de la cristalinidad relativa del tamiz molecular ZSM-22 mediante el método de difracción de rayos X

Professional Standard - Petroleum, estructura de análisis de difracción de rayos x

• SY/T 5163-1995 Método de análisis de difracción de rayos X para el contenido relativo de minerales arcillosos en rocas sedimentarias

Professional Standard - Energy, estructura de análisis de difracción de rayos x

• NB/SH/T 6024-2021 Determinación de la cristalinidad relativa del método de difracción de rayos X de tamiz molecular ZSM-5

British Standards Institution (BSI), estructura de análisis de difracción de rayos x

• BS EN 15305:2008(2009) Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensión residual mediante difracción de rayos X

European Committee for Standardization (CEN), estructura de análisis de difracción de rayos x

• EN 12698-2:2007 Análisis químico de refractarios de carburo de silicio unidos con nitruro - Parte 2: Métodos XRD

American Society for Testing and Materials (ASTM), estructura de análisis de difracción de rayos x

• ASTM UOP905-08 Aglomeración de platino por difracción de rayos X
• ASTM UOP905-91 Aglomeración de platino por difracción de rayos X

RU-GOST R, estructura de análisis de difracción de rayos x

• GOST 16865-1979 Aparatos de rayos X para análisis estructurales y espectrales. Términos y definiciones

Spanish Association for Standardization (UNE), estructura de análisis de difracción de rayos x

• UNE-EN 15305:2010 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X

Danish Standards Foundation, estructura de análisis de difracción de rayos x

• DS/EN 15305:2008 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
• DS/EN 15305/AC:2009 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X

Lithuanian Standards Office , estructura de análisis de difracción de rayos x

• LST EN 15305-2008/AC-2009 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X
• LST EN 15305-2008 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X

Universal Oil Products Company?(UOP), estructura de análisis de difracción de rayos x

• UOP 905-2008 Aglomeración de platino por difracción de rayos X

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