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減衰の測(cè)定方法

減衰の測(cè)定方法は全部で 2 項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)に関連している。

減衰の測(cè)定方法 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類において、これらの分類:集積回路、マイクロエレクトロニクス、 振動(dòng)、衝撃、振動(dòng)の測(cè)定。


RU-GOST R, 減衰の測(cè)定方法

  • GOST 23089.6-1983 マイクロ集積回路、オペアンプの出力電圧減衰時(shí)間の測(cè)定方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 減衰の測(cè)定方法





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