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走査型電子顕微鏡畫像解析

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走査型電子顕微鏡畫像解析 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類において、これらの分類：光學(xué)機(jī)器、 分析化學(xué)、 語(yǔ)彙、 教育する、 光學(xué)および光學(xué)測(cè)定、 建材。


Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 走査型電子顕微鏡畫像解析

International Organization for Standardization (ISO), 走査型電子顕微鏡畫像解析

  • ISO 16700:2016 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された畫像倍率のガイド。
  • ISO 16700:2004 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された畫像倍率のガイド。
  • ISO/TS 21383:2021 マイクロビーム分析 走査型電子顕微鏡 定量的測(cè)定のための走査型電子顕微鏡の識(shí)別
  • ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析、走査型電子顕微鏡法、寫像性評(píng)価法
  • ISO 22493:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡法、用語(yǔ)集
  • ISO 22493:2014 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語(yǔ)彙

British Standards Institution (BSI), 走査型電子顕微鏡畫像解析

  • BS ISO 16700:2004 微小電子線分析、走査型電子顕微鏡、畫像倍率校正ガイド。
  • 18/30319114 DC BS ISO 20171 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡 走査型電子顕微鏡 (TIFF/SEM) 用のタグ付き畫像ファイル形式
  • BS ISO 16700:2016 マイクロビーム分析用の走査型電子顕微鏡の畫像倍率を校正するためのガイド
  • BS ISO 22493:2014 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語(yǔ)彙
  • BS ISO 21466:2019 マイクロビーム解析 走査型電子顕微鏡 CDSEM 限界寸法を評(píng)価する方法

Association Francaise de Normalisation, 走査型電子顕微鏡畫像解析

  • NF X21-005:2006 微小電子ビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された畫像倍率のガイド。
  • XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム分析 - 走査型電子顕微鏡 - 畫像の鮮明さを評(píng)価する方法
  • XP X21-015*XP ISO/TS 24597:2011 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡を使用した畫像の鮮明さを評(píng)価する方法
  • NF X21-010:2009 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語(yǔ)彙

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 走査型電子顕微鏡畫像解析

  • GB/T 18295-2001 石油およびガス貯留層からの砂巖サンプルの走査型電子顕微鏡による分析方法
  • GB/T 27788-2011 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、畫像倍率校正のガイドライン。
  • GB/T 23414-2009 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、用語(yǔ)

GSO, 走査型電子顕微鏡畫像解析

  • GSO ISO/TS 24597:2013 マイクロビーム解析 -- 走査型電子顕微鏡法 -- 畫像の鮮鋭度の評(píng)価方法
  • OS GSO ISO/TS 24597:2013 マイクロビーム解析 -- 走査型電子顕微鏡法 -- 畫像の鮮鋭度の評(píng)価方法
  • GSO ISO 22493:2015 マイクロビーム解析 -- 走査型電子顕微鏡法 -- 語(yǔ)彙
  • BH GSO ISO 22493:2017 マイクロビーム解析 -- 走査型電子顕微鏡法 -- 語(yǔ)彙
  • GSO ISO 25498:2015 マイクロビーム解析 -- 分析電子顕微鏡法 -- 透過(guò)型電子顕微鏡を用いた制限視野電子回折分析

KR-KS, 走査型電子顕微鏡畫像解析

  • KS D ISO 16700-2023 マイクロビーム分析用走査型電子顕微鏡畫像倍率校正ガイド
  • KS D ISO 22493-2022 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、語(yǔ)彙

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 走査型電子顕微鏡畫像解析

  • JIS K 0149-1:2008 マイクロビーム分析、走査型電子顕微鏡、校正された畫像倍率のガイド。
  • JIS K 0132:1997 走査型電子顕微鏡の一般原理

SCC, 走査型電子顕微鏡畫像解析

  • 08/30138435 DC BS ISO 24597. マイクロビーム分析。 走査型電子顕微鏡。 畫像鮮明度の評(píng)価方法
  • BS ISO 22493:2008 マイクロビーム分析。 電子顕微鏡で観る。 語(yǔ)彙
  • 06/30128226 DC ISO 22493. マイクロビーム分析。 走査型電子顕微鏡。 用語(yǔ)
  • 13/30203227 DC BS ISO 13083。 表面化學(xué)分析。 走査型プローブ顕微鏡。 走査型広がり抵抗顕微鏡および走査型靜電容量顕微鏡の空間分解能の定義と較正に関する標(biāo)準(zhǔn)

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), 走査型電子顕微鏡畫像解析

  • GB/T 33834-2017 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡走査型電子顕微鏡による生體試料の分析方法
  • GB/T 33838-2017 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡畫像鮮鋭度評(píng)価法

Professional Standard - Education, 走査型電子顕微鏡畫像解析

國(guó)家能源局, 走査型電子顕微鏡畫像解析

  • SY/T 5162-2021 走査型電子顕微鏡による巖石サンプルの分析方法

Professional Standard - Petroleum, 走査型電子顕微鏡畫像解析

  • SY 5162-2014 走査型電子顕微鏡による巖石サンプルの分析方法
  • SY/T 5162-1997 走査型電子顕微鏡による巖石サンプルの分析方法
  • SY/T 5162-2014 走査型電子顕微鏡による巖石サンプルの分析方法

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡畫像解析

  • DB44/T 1527-2015 マイクロビーム解析走査型電子顕微鏡畫像鮮鋭性評(píng)価法

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), 走査型電子顕微鏡畫像解析

  • GB/T 27788-2020 マイクロビーム解析のための走査型電子顕微鏡畫像の倍率校正に関するガイドライン

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡畫像解析

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 走査型電子顕微鏡畫像解析

Professional Standard - Machinery, 走査型電子顕微鏡畫像解析



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