ZH
RU
EN
ES

粒子の散亂サイズ

粒子の散亂サイズは全部で 186 項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)に関連している。

粒子の散亂サイズ 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類(lèi)において、これらの分類(lèi)：粒度分析、スクリーニング、 計(jì)測(cè)學(xué)と測(cè)定の総合、 分析化學(xué)、 金屬材料試験、 空気の質(zhì)、 プラスチック、 ゴムやプラスチックの原料、 光學(xué)および光學(xué)測(cè)定、 地質(zhì)學(xué)、気象學(xué)、水文學(xué)、 包括的なテスト條件と手順、 原子力工學(xué)、 放射線測(cè)定、 水質(zhì)、 塗料とワニス、 天文學(xué)、測(cè)地學(xué)、地理學(xué)、 インク、インク、 化學(xué)製品、 金屬の生産、 発電所総合、 物理學(xué)、化學(xué)、 放射線防護(hù)、 危険物保護(hù)、 航空宇宙用電気機(jī)器およびシステム、 非破壊検査、 風(fēng)力発電システムおよびその他のエネルギー源、 長(zhǎng)さと角度の測(cè)定。

International Organization for Standardization (ISO), 粒子の散亂サイズ

• ISO 21501-2:2007 粒度分布の測(cè)定 単一粒子光干渉法 パート 2: 光散亂液體粒子計(jì)數(shù)器
• ISO 17867:2015 粒子徑分析、小角X線散亂
• ISO 22412:2017 粒子サイズ分析、動(dòng)的光散亂 (DLS)
• ISO 21501-4:2007 粒度分布の測(cè)定 単一粒子光干渉法 パート 4: 無(wú)菌空間光散亂粉塵粒子カウンター
• ISO 21501-4:2018 粒度分布の測(cè)定 単一粒子光干渉法 パート 4: 無(wú)菌空間光散亂粉塵粒子カウンター
• ISO 21501-1:2009 粒度分布の測(cè)定 単一粒子光干渉法 パート 1: 光散亂エアロゾル分光計(jì)
• ISO 21501-4:2018/Amd 1:2023 粒度分布の測(cè)定 単一粒子光學(xué)干渉法 パート 4: 滅菌空間光散亂粉塵粒子計(jì)數(shù)器の修正 1
• ISO 19430:2016 粒子徑分析?粒子飛跡解析（PTA）法
• ISO 21501-2:2019 粒度分布の測(cè)定 単一粒子光相互作用法 パート 2: 光散亂液體粒子計(jì)數(shù)器
• ISO 13067:2011 マイクロビーム分析、後方散亂電子回折、平均粒徑測(cè)定
• ISO 22412:2008 粒子徑分析。 動(dòng)的光散亂 (DLS)
• ISO/CD 22412:2023 粒子サイズ分析 - 動(dòng)的光散亂 (DLS)
• ISO 17867:2020 粒子徑分析、小角X線散亂(SAXS)
• ISO 21501-3:2007 粒度分布の測(cè)定 単一粒子光學(xué)干渉法 パート 3: 消滅型液體媒介粒子計(jì)數(shù)器
• ISO 13067:2020 マイクロビーム分析 - 電子後方散亂回折 - 平均粒徑の測(cè)定
• ISO/DIS 19430 粒子追跡分析 (PTA) による粒子サイズ分布と個(gè)數(shù)濃度の測(cè)定
• ISO/FDIS 23484 小角X線散亂(SAXS)による粒子濃度の測(cè)定
• ISO 23484:2023 小角X線散亂(SAXS)による粒子濃度の測(cè)定
• ISO 6980-1:2006 原子力エネルギー、ベータ粒子放射線基準(zhǔn)、パート 1: 中性子の生成方法
• ISO 20804:2022 小角X線散亂(SAXS)による多孔質(zhì)系および粒子系の比表面積の決定
• ISO/DIS 6980-1:2022 原子力エネルギー參考ベータ線放射線パート 1: 製造方法
• ISO/FDIS 6980-1:2011 原子力エネルギー參考ベータ線放射線パート 1: 製造方法
• ISO 6980-1:2022 原子力エネルギー、基準(zhǔn)ベータ線放射線、パート 1: 製造方法

British Standards Institution (BSI), 粒子の散亂サイズ

• BS ISO 17867:2015 粒子徑分析、小角X線散亂
• BS DD ISO/TS 13762:2002 粒子徑分析 小角X線散亂法
• BS ISO 21501-2:2007 粒度分布測(cè)定 単一粒子光干渉法 光散亂液體粒子計(jì)數(shù)器
• BS ISO 13067:2011 マイクロビーム分析、反射電子回折、平均粒徑測(cè)定
• BS ISO 19430:2016 粒子徑分析?粒子飛跡解析（PTA）法
• BS ISO 21501-4:2018 粒度分布測(cè)定 単一粒子光學(xué)干渉法 無(wú)菌空間光散亂粉塵粒子カウンター
• BS ISO 21501-4:2007 粒度分布測(cè)定 単一粒子光學(xué)干渉法 無(wú)菌空間光散亂粉塵粒子カウンター
• BS ISO 21501-2:2019 粒度分布測(cè)定 単一粒子光相互作用法 - 光散亂液體粒子計(jì)數(shù)器
• BS ISO 21501-1:2009 粒度分布の測(cè)定、単粒子光干渉法、光散亂エアロゾル分光計(jì)
• BS ISO 21501-4:2018+A1:2023 粒度分布測(cè)定 単一粒子光相互作用法 クリーンスペース用光散亂空気粒子計(jì)數(shù)器
• BS ISO 17867:2020 粒子徑分析 小角 X 線散亂 (SAXS)
• DD ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角X線散亂
• 19/30385915 DC BS ISO 21501-2 粒度分布の測(cè)定 単一粒子光相互作用法 パート 2. 光散亂液體粒子計(jì)數(shù)器
• BS ISO 22412:2008 粒子徑分析。 動(dòng)的光散亂 (DLS)
• BS ISO 22412:2017 粒子徑分析。 動(dòng)的光散亂 (DLS)
• BS ISO 13067:2020 マイクロビーム解析 電子後方散亂回折 平均粒徑の測(cè)定
• 19/30365236 DC BS ISO 13067 マイクロビーム分析 後方散亂電子回折 平均粒徑の測(cè)定
• BS ISO 23484:2023 小角X線散亂(SAXS)による粒子濃度の測(cè)定
• 21/30419440 DC BS ISO 21501-4 AMD1 粒子サイズ分布の測(cè)定 単一粒子光相互作用法 パート 4: クリーン スペースで使用する光散亂空気粒子カウンター
• 22/30441138 DC BS ISO 23484 小角 X 線散亂 (SAXS) による粒子濃度の測(cè)定
• BS ISO 6980-1:2023 原子力エネルギーの參照ベータ粒子放射線の生成方法
• BS ISO 6980-1:2022 原子力參考ベータ線製造法
• BS ISO 6980-1:2006 原子力エネルギー、ベータ線基準(zhǔn)線源、製造方法
• BS ISO 20804:2022 小角X線散亂(SAXS)による多孔質(zhì)系および粒子系の比表面積の決定
• BS 3900-J13:2001 塗料の試験方法 塗料粉體の試験 レーザー回折法による粒子徑の分析
• 21/30372607 DC BS ISO 20804 小角 X 線散亂 (SAXS) による多孔質(zhì)および粒子システムの比表面積の決定

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 粒子の散亂サイズ

• KS B 6336-1992(2017) 光散亂式自動(dòng)粒子計(jì)測(cè)器
• KS B 6336-1992(2022) 光散亂式自動(dòng)粒子計(jì)測(cè)器
• KS B 6336-1992 光散亂式自動(dòng)粒子計(jì)數(shù)器
• KS B 6869-2009 光散亂式自動(dòng)液體粒子計(jì)數(shù)器
• KS B 6869-2009(2019) 液體光散亂用の自動(dòng)粒子カウンター
• KS D 2716-2008 ナノ粒子徑測(cè)定技術(shù) 透過(guò)型電子顕微鏡
• KS D 2716-2008(2018) ナノ粒子徑の測(cè)定 - 透過(guò)型電子顕微鏡
• KS A 4048-1995 大気中の放射性粒子濃度の測(cè)定方法
• KS M ISO 8130-13:2008 コーティング用粉末 - パート 13: レーザー回折による粒子サイズの分析
• KS A ISO 6980-1-2009(2019) 原子力エネルギーベンチマーク ベータ線放射線パート 1: 製造方法

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 粒子の散亂サイズ

• JIS B 9921:1997 光散亂式自動(dòng)粒子計(jì)測(cè)器
• JIS B 9925:2010 光散亂液體浮遊粒子カウンター
• JIS B 9925:1997 液體用光散亂式自動(dòng)粒子計(jì)測(cè)器
• JIS B 9921:2010 浄化エリア用の光散亂空気粒子カウンター
• JIS Z 8828:2013 粒子徑分析。 動(dòng)的光散亂 (DLS)
• JIS Z 8828:2019 粒子サイズ分析、動(dòng)的光散亂 (DLS)
• JIS Z 8826:2005 粒子サイズ分析、光子相関分光法
• JIS H 7804:2005 電子顕微鏡による金屬結(jié)晶の粒子徑の測(cè)定方法
• JIS Z 4512:1995 空気中の放射性粒子濃度の測(cè)定方法

German Institute for Standardization, 粒子の散亂サイズ

• DIN ISO 22412:2018 粒子サイズ分析、動(dòng)的光散亂 (DLS) (ISO 22412-2017)
• DIN ISO 13067:2021-08 マイクロビーム解析 電子後方散亂回折 平均粒徑測(cè)定
• DIN ISO 22412:2018-09 粒子サイズ分析 動(dòng)的光散亂 (DLS)
• DIN ISO 13067:2015 マイクロビーム分析、後方散亂電子回折、平均粒徑測(cè)定 (ISO 13067-2011)
• DIN ISO 13067:2021 マイクロビーム解析 電子後方散亂回折 平均粒徑の測(cè)定 (ISO 13067:2020)
• DIN 54407:2023-06 イオン交換樹(shù)脂の試験 単分散および異分散イオン交換樹(shù)脂のビーズ サイズ分布の決定

Universal Oil Products Company?(UOP), 粒子の散亂サイズ

• UOP 856-2007 レーザー散亂による粉體の粒度分布測(cè)定

RU-GOST R, 粒子の散亂サイズ

• GOST R ISO 21501-4-2012 粒度分布の測(cè)定 単一粒子光干渉法 パート 4. 無(wú)菌空間光散亂粉塵粒子カウンター
• GOST R ISO 13067-2016 測(cè)定の一貫性を確保するための國(guó)家システム マイクロビーム分析 後方散亂電子回折 平均粒子徑の測(cè)定
• GOST 25645.150-1990 宇宙銀河放射線。 粒子流の決定方法
• GOST 8.033-1984 ГСИ 放射性核子の活動(dòng)および粒子流に関する國(guó)家計(jì)量システムの國(guó)家校正システム図および放射性核種源のα、β 粒子流および光子流の密度測(cè)定器
• GOST 8.033-1996 ГСИ. 放射性核子の活動(dòng)および粒子流に関する國(guó)家計(jì)量システムの國(guó)家校正システム図および放射性核源のα、β 粒子流および光子流の密度測(cè)定器
• GOST R 8.774-2011 國(guó)家測(cè)定一貫性保証システム 液體媒體の分散組成 粒子徑の動(dòng)的光散亂測(cè)定
• GOST R 8.698-2010 測(cè)定の一貫性を確保するための國(guó)家制度 ナノ粒子および膜の空間パラメータ 小角X線散亂回折裝置を用いた測(cè)定方法

Association Francaise de Normalisation, 粒子の散亂サイズ

• NF X21-014:2012 マイクロビーム分析、後方散亂電子回折、平均粒子徑の測(cè)定
• XP CEN/TS 17434:2020 周?chē)炜諝?- 電子移動(dòng)度粒子徑分析法 (MPSS) を使用した大気エアロゾルの粒子徑分布の測(cè)定
• NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 ナノテクノロジーは透過(guò)型電子顕微鏡により粒子サイズと形狀分布を測(cè)定します
• XP CEN ISO/TS 19590:2019 ナノテクノロジー - 単一粒子モード誘起プラズマ質(zhì)量分析による水性媒體中の無(wú)機(jī)ナノ粒子のサイズ分布と濃度の測(cè)定
• NF M60-515-1*NF ISO 6980-1:2006 原子力エネルギー、基準(zhǔn)ベータ線放射線、パート 1: 製造方法
• NF T16-403*NF ISO 19749:2021 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形狀分布を測(cè)定します

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 粒子の散亂サイズ

• GB/T 36165-2018 電子後方散亂回折 (EBSD) 法による金屬の平均粒徑の測(cè)定
• GB/T 38532-2020 マイクロビーム分析 電子後方散亂回折 平均粒徑の決定
• GB/T 29022-2012 粒子サイズ分析 動(dòng)的光散亂 (DLS)
• GB/T 5758-2001 イオン交換樹(shù)脂の粒子徑、有効粒子徑、均一係數(shù)の決定
• GB/T 3780.17-1995 カーボンブラック粒徑を間接的に測(cè)定するための反射率法
• GB/T 29024.2-2016 粒度分析 ～単一粒子の光學(xué)測(cè)定法～ 第２部：液體粒子対光散亂法
• GB/T 5758-2023 イオン交換樹(shù)脂の粒子徑、有効粒子徑、均一係數(shù)の求め方
• GB/T 42208-2022 ナノテクノロジーの多相系におけるナノ粒子サイズを測(cè)定するための透過(guò)型電子顕微鏡畫(huà)像法
• GB/T 13221-2004 X線小角散亂法によるナノパウダーの粒度分布の測(cè)定
• GB/T 3780.17-2008 カーボンブラック パート 17: 粒子徑の間接測(cè)定 反射率法
• GB/T 26570.1-2011 ガス中の粒子含有量の測(cè)定 光散亂法パート 1: パイプラインガス中の粒子含有量の測(cè)定
• GB/T 21779-2008 金屬粉末および関連化合物の粒度分布の光散亂試験法
• GB/T 16698-1996 大面積比例計(jì)數(shù)管法によるアルファ線放射率測(cè)定
• GB/T 16698-2008 アルファ線放射率測(cè)定 大面積比例計(jì)數(shù)管法

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), 粒子の散亂サイズ

• GB/T 29024.4-2017 粒度分析のための単一粒子の光學(xué)測(cè)定法 第 4 部: クリーンルーム用光散亂粉塵計(jì)數(shù)器
• GB/T 3780.17-2017 カーボンブラック パート 17: 反射率法による粒子サイズの間接測(cè)定
• GB/T 34955-2017 大気放射線の影響を受けるアビオニクス システムの単一粒子影響試験のガイドライン
• GB/T 34956-2017 大気放射線の影響を受ける航空電子機(jī)器のシングルイベント効果保護(hù)のための設(shè)計(jì)ガイド

KR-KS, 粒子の散亂サイズ

• KS D 2716-2023 ナノ粒子徑の測(cè)定 - 透過(guò)型電子顕微鏡
• KS M ISO 23202-2016 アルミニウムの製造に使用されるアルミナ粒子を目開(kāi)き 20 ミクロンのふるいを通過(guò)して測(cè)定

Professional Standard - Electron, 粒子の散亂サイズ

• SJ 2798-1987 電子グレードのガス中の粒子を測(cè)定する方法、光散亂法

Danish Standards Foundation, 粒子の散亂サイズ

• DS/ISO 21501-4:2007 粒度分布の測(cè)定 単一粒子の光相互作用法 パート 4: 清掃空間用の光散亂浮遊粒子計(jì)數(shù)器
• DS/ISO 19749:2021 ナノテクノロジーは走査型電子顕微鏡により粒子サイズと形狀分布を測(cè)定します

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), 粒子の散亂サイズ

• GB/T 29022-2021 粒子サイズ分析 動(dòng)的光散亂 (DLS)
• GB/T 38949-2020 多孔質(zhì)膜の細(xì)孔徑を測(cè)定するための標(biāo)準(zhǔn)粒子法
• GB/T 38431-2019 靜的多重光散亂法を用いた粒子分散系の安定性評(píng)価

American Society for Testing and Materials (ASTM), 粒子の散亂サイズ

• ASTM E2627-13 完全に再結(jié)晶化された多結(jié)晶材料の電子後方散亂回折 (EBSD) を使用して平均粒子サイズを決定するための標(biāo)準(zhǔn)的な手法
• ASTM UOP856-85 レーザー散亂による粉體の粒度分布測(cè)定
• ASTM E521-96 荷電粒子照射法による中性子線損傷シミュレーション手順
• ASTM E521-96(2003) 荷電粒子照射法による中性子線損傷シミュレーション手順
• ASTM F328-98 ほぼ単一の発散球狀粒子材料を使用した浮遊粒子計(jì)數(shù)器の計(jì)數(shù)およびサイズ精度の決定
• ASTM D1890-15 水のベータ粒子放射能の標(biāo)準(zhǔn)試験方法
• ASTM E2834-12(2018) 懸濁液中のナノ材料粒子サイズ分布のナノ粒子追跡分析 (NTA) 測(cè)定の標(biāo)準(zhǔn)ガイド
• ASTM E2834-12(2022) 懸濁液中のナノ材料粒子サイズ分布のナノ粒子追跡分析 (NTA) 測(cè)定の標(biāo)準(zhǔn)ガイド
• ASTM D2067-97(2020) 印刷インキ分散液中の粗大粒子の標(biāo)準(zhǔn)試験方法
• ASTM D1943-05 水のアルファ粒子放射能の標(biāo)準(zhǔn)試験法
• ASTM D1890-96 水のベータ粒子放射能の標(biāo)準(zhǔn)試験方法
• ASTM D1890-05 水のベータ粒子放射能の標(biāo)準(zhǔn)試験方法
• ASTM D1943-96 水のアルファ粒子放射能の標(biāo)準(zhǔn)試験法
• ASTM D1890-05(2012) 水のベータ粒子放射能の標(biāo)準(zhǔn)試験方法
• ASTM D1943-05(2012) 水のアルファ粒子放射能の標(biāo)準(zhǔn)試験法
• ASTM D1943-20 水のアルファ粒子放射能の標(biāo)準(zhǔn)試験法
• ASTM E2834-12 ナノ粒子追跡分析 (NTA) による懸濁液中のナノマテリアルの粒度分布測(cè)定のための標(biāo)準(zhǔn)ガイド
• ASTM E521-96(2009)e2 荷電粒子照射法を使用した中性子線損傷のシミュレーションの標(biāo)準(zhǔn)的な手法
• ASTM E521-96(2009) 荷電粒子照射法を使用した中性子線損傷のシミュレーションの標(biāo)準(zhǔn)的な手法
• ASTM E521-96(2009)e1 荷電粒子照射法を使用した中性子線損傷のシミュレーションの標(biāo)準(zhǔn)的な手法
• ASTM D1890-15(2017) 水質(zhì)中のベータ粒子放射能の標(biāo)準(zhǔn)試験方法
• ASTM D4464-00 レーザー散亂による觸媒材料の粒度分布測(cè)定のための標(biāo)準(zhǔn)試験方法
• ASTM D4464-00(2005) レーザー散亂による觸媒材料の粒度分布測(cè)定のための標(biāo)準(zhǔn)試験方法
• ASTM E2627-13(2019) 電子後方散亂回折 (EBSD) による完全に再結(jié)晶化された多結(jié)晶材料の平均粒徑を決定するための標(biāo)準(zhǔn)的な方法
• ASTM E521-16 荷電粒子照射を使用した中性子線損傷の影響を研究するための標(biāo)準(zhǔn)的な手法
• ASTM D4464-15(2020) レーザー散亂による觸媒材料の粒度分布の標(biāo)準(zhǔn)試験方法
• ASTM D4464-15 レーザー散亂による觸媒材料の粒度分布の標(biāo)準(zhǔn)試験方法
• ASTM E821-16 荷電粒子照射下での機(jī)械的特性の測(cè)定の標(biāo)準(zhǔn)的な手法
• ASTM F3560-22 積層造形の標(biāo)準(zhǔn)仕様 - データ - 光散亂粒子サイズ分析の共通交換フォーマット
• ASTM D4464-10 レーザー散亂による觸媒材料の粒度分布測(cè)定のための標(biāo)準(zhǔn)試験方法
• ASTM D2460-05 水中のラジウムのアルファ粒子放射性同位體の標(biāo)準(zhǔn)試験方法
• ASTM E821-96(2003) 荷電粒子照射中の機(jī)械的特性の測(cè)定の標(biāo)準(zhǔn)的な方法
• ASTM E821-96 荷電粒子照射中の機(jī)械的特性の測(cè)定の標(biāo)準(zhǔn)的な方法
• ASTM D2460-07(2013) 水中のラジウムのアルファ粒子放射性同位體の標(biāo)準(zhǔn)試験方法
• ASTM E3247-20 動(dòng)的光散亂により水性媒體中のナノ粒子サイズを測(cè)定するための標(biāo)準(zhǔn)的な試験方法

Professional Standard - Machinery, 粒子の散亂サイズ

• JB/T 9395.5-1999 光學(xué)結(jié)晶散亂粒度測(cè)定法
• JB/T 9495.5-1999 光學(xué)結(jié)晶散亂粒度測(cè)定法

未注明發(fā)布機(jī)構(gòu), 粒子の散亂サイズ

• ASTM F328-98(2003) 単分散球狀粒子を使用した浮遊粒子計(jì)數(shù)器の校正の標(biāo)準(zhǔn)的な手法
• DIN EN ISO 21363:2022 ナノテクノロジー – 透過(guò)型電子顕微鏡を使用した粒子サイズと粒子形狀分布の測(cè)定

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, 粒子の散亂サイズ

• JJG 1104-2015 動(dòng)的光散亂粒度分析裝置の校正手順

Institute of Environmental Sciences and Technology, 粒子の散亂サイズ

• IEST RP-CC042.1-2011 光學(xué)式離散粒子計(jì)數(shù)器を使用したサブミクロンの液體浮遊粒子の分畫(huà)と計(jì)數(shù)

CZ-CSN, 粒子の散亂サイズ

• CSN 40 4016-1974 放射性生成物の活動(dòng)量と粒子放出の相対測(cè)定。 4πを通して。 アルファ粒子またはベータ粒子の総フラックスを測(cè)定する比例計(jì)數(shù)法

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 粒子の散亂サイズ

• GJB 9730-2020 粒子線影響検出器の仕様

API - American Petroleum Institute, 粒子の散亂サイズ

• API 4091-1971 自動(dòng)車(chē)および自然ヘイズの光學(xué)的研究: 単一粒子からの散亂 最終報(bào)告書(shū)

Association of German Mechanical Engineers, 粒子の散亂サイズ

• VDI 3945 Blatt 3-2000 環(huán)境気象學(xué) 大気拡散モデル 粒子モデル
• VDI 3867 Blatt 2-2008 周?chē)炜諝葜肖瘟Ｗ訝钗镔|(zhì)の測(cè)定 テストエアロゾルの特性評(píng)価方法 粒子數(shù)濃度と粒子サイズ分布の測(cè)定 凝縮粒子計(jì)數(shù)器 (CPC)

Group Standards of the People's Republic of China, 粒子の散亂サイズ

• T/CSP 6-2019 靜的多重光散亂法を用いた粒子技術(shù)分散系の安定性評(píng)価
• T/AHEMA 22-2022 光散亂法による周?chē)齑髿萘Ｗ訝钗镔|(zhì)の動(dòng)きの監(jiān)視に関する技術(shù)仕様
• T/CEC 217-2019 六フッ化硫黃ガス中の粒子含有量の定量方法 光散亂法
• T/BSPT 003-2018 光散亂原理微小粒子狀物質(zhì)（PM2.5）質(zhì)量濃度測(cè)定裝置の性能試験方法

中國(guó)氣象局, 粒子の散亂サイズ

• QX/T 546-2020 宇宙高エネルギー粒子放射線の影響に関する用語(yǔ)

AT-ON, 粒子の散亂サイズ

• OENORM EN ISO 21363:2021 透過(guò)型電子顕微鏡による粒子サイズと形狀分布のナノテクノロジー測(cè)定 (ISO 21363:2020)

European Committee for Standardization (CEN), 粒子の散亂サイズ

• prEN ISO 21363:2021 透過(guò)型電子顕微鏡による粒子サイズと形狀分布のナノテクノロジー測(cè)定 (ISO 21363:2020)

Heilongjiang Provincial Standard of the People's Republic of China, 粒子の散亂サイズ

• DB23/T 2482-2019 レーザー散亂法による固定汚染源からの排気粒子狀物質(zhì)の定量

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 粒子の散亂サイズ

• CNS 8300-2007 水中のava(α)粒子放射能の試験方法
• CNS 8301-1999 水サンプル中のベータ粒子放射能の測(cè)定
• CNS 8300-1982 水中のアルフ?。ēⅴ毳榨。┝Ｗ臃派淠埭卧囼Y方法
• CNS 7388-1981 放射性同位體分析 – 総ベータ粒子計(jì)數(shù)

國(guó)家能源局, 粒子の散亂サイズ

• SH/T 0951-2017 レーザー散亂法による接觸分解觸媒の粒度分布測(cè)定

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, 粒子の散亂サイズ

• JJF 1343-1990 2πα、2πβ粒子反射率參照動(dòng)作技術(shù)仕様
• JJF 1344-1990 2πα、2πβ粒子放射率サブリファレンス動(dòng)作技術(shù)仕様

American National Standards Institute （ANSI), 粒子の散亂サイズ

• ANSI N43.1-2011 粒子加速器の設(shè)計(jì)と運(yùn)用における放射線の安全性

中華人民共和國(guó)國(guó)家衛(wèi)生和計(jì)劃生育委員會(huì), 粒子の散亂サイズ

• WS/T 206-2001 公共の場(chǎng)所の空気中の吸入性粒子狀物質(zhì)（PM10）の測(cè)定方法 光散亂法

Professional Standard - Nuclear Industry, 粒子の散亂サイズ

• EJ 346-1988 粒子加速器工學(xué)施設(shè)の放射線防護(hù)に関する設(shè)計(jì)仕様

Professional Standard - Agriculture, 粒子の散亂サイズ

• 148藥典 三部-2020 モノグラフ II 治療用ヒト顆粒球刺激因子注射
• 141藥典 三部-2015 モノグラフ II 治療用組換えヒト顆粒球刺激因子注射

Indonesia Standards, 粒子の散亂サイズ

• SNI ISO 6980-1:2014 原子力エネルギー參考ベータ線放射線パート 1: 製造方法

ASHRAE - American Society of Heating@ Refrigerating and Air-Conditioning Engineers@ Inc., 粒子の散亂サイズ

• ASHRAE 4676-2004 異なる換気室におけるエアロゾル粒子の拡散特性の數(shù)値比較

ECSS - European Cooperation for Space Standardization, 粒子の散亂サイズ

• Q-ST-70-06C-2008 宇宙用材料の粒子および紫外線放射試験 (課題 1)

ITU-T - International Telecommunication Union/ITU Telcommunication Sector, 粒子の散亂サイズ

• ITU-T K.124-2016 電気通信システムに対する粒子線の影響の概要 (研究グループ 5)

The American Road & Transportation Builders Association, 粒子の散亂サイズ

• AASHTO T 353-2014 光散亂による水硬性セメントおよび関連材料の粒度分析の標(biāo)準(zhǔn)試験方法

AASHTO - American Association of State Highway and Transportation Officials, 粒子の散亂サイズ

• T 353-2014 光散亂による水硬性セメントおよび関連材料の粒度分析の標(biāo)準(zhǔn)試験方法

その他：   粉塵の粒徑, 粒子散亂, 金ナノ粒子のサイズ, 後方散亂粒子サイズ, ナノ粒子サイズ, 粉塵の飛散, 粒子徑を測(cè)定する, ナノ粒子散亂, 光散亂粒子, 粒度分布標(biāo)準(zhǔn)粒子, 粒子サイズ, 粒子サイズ, ナノ粒子サイズ, ナノ粒子サイズの測(cè)定, ナノ粒子 + 粒子サイズ, 粒子徑分析, 粒度分布, 粒子の散亂サイズ, 動(dòng)的粒子サイズ散亂, 光散亂粒子サイズ.