DIN 50447:1995
半導(dǎo)體工藝材料的檢驗.用渦流法無接點測量半導(dǎo)體層的表面電阻
Testing of materials for semiconductor technology - Contactless determination of the electrical sheet resistance of semiconductor layers with the eddy-current method
DIN 50447:1995 發(fā)布歷史
DIN 50447:1995由德國標準化學會 DE-DIN 發(fā)布于 1995-04。
DIN 50447:1995 在中國標準分類中歸屬于: H82 元素半導(dǎo)體材料，在國際標準分類中歸屬于: 29.045 半導(dǎo)體材料。
DIN 50447:1995 半導(dǎo)體工藝材料的檢驗.用渦流法無接點測量半導(dǎo)體層的表面電阻的最新版本是哪一版？
最新版本是 DIN 50447:1995 。
DIN 50447:1995的歷代版本如下：
- 1995年 DIN 50447:1995 半導(dǎo)體工藝材料的檢驗.用渦流法無接點測量半導(dǎo)體層的表面電阻
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- 標準號
- DIN 50447:1995
- 發(fā)布
- 1995年
- 總頁數(shù)
- 3頁
- 發(fā)布單位
- 德國標準化學會
- 當前最新
- DIN 50447:1995