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GB/T 4937.35-2024
半導體器件機械和氣候試驗方法第35部分：塑封電子元器件的聲學顯微鏡檢查

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopic examination of plastically encapsulated electronic components

GBT4937.35-2024, GB4937.35-2024

標準號: GB/T 4937.35-2024
別名: GBT4937.35-2024, GB4937.35-2024
發(fā)布: 2024年
發(fā)布單位: 國家質檢總局
當前最新: GB/T 4937.35-2024

介紹: 本標準規(guī)定了塑封電子元器件進行聲學顯微鏡檢查的具體試驗方法，適用于檢測這類元件內部結構和缺陷。通過該方法可以有效評估塑封封裝的質量及其可靠性，為半導體行業(yè)的生產和質量控制提供了重要的技術依據(jù)。

***此介紹可能不準確，請注意參考原文。

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