IEC 60444-2:1980
用π型網(wǎng)絡(luò)零相位技術(shù)測(cè)量石英晶體元件參數(shù) 第2部分:測(cè)量石英晶體元件動(dòng)態(tài)電容的相位偏置法

Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a -network; part 2 : phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units

IEC 60444-2:1980 發(fā)布?xì)v史

IEC 60444-2:1980由國(guó)際電工委員會(huì) IX-IEC 發(fā)布于 1980。

IEC 60444-2:1980 在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中歸屬于: L21 石英晶體、壓電元件，在國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中歸屬于: 31.140 頻率控制和選擇用壓電器件與介質(zhì)器件。

IEC 60444-2:1980 用π型網(wǎng)絡(luò)零相位技術(shù)測(cè)量石英晶體元件參數(shù) 第2部分:測(cè)量石英晶體元件動(dòng)態(tài)電容的相位偏置法的最新版本是哪一版？

最新版本是 IEC 60444-2:1980 。

IEC 60444-2:1980的歷代版本如下：

• 1980年 IEC 60444-2:1980 用π型網(wǎng)絡(luò)零相位技術(shù)測(cè)量石英晶體元件參數(shù) 第2部分:測(cè)量石英晶體元件動(dòng)態(tài)電容的相位偏置法

描述了一種適合在 1 MHz 至 125 MHz 頻率范圍內(nèi)進(jìn)行測(cè)量的方法，總測(cè)量誤差約為 5%。該方法基于諧振頻率及其附近的相位測(cè)量。動(dòng)議的價(jià)值

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

IEC 60444-2:1980

發(fā)布

1980年

發(fā)布單位

國(guó)際電工委員會(huì)

當(dāng)前最新

IEC 60444-2:1980

 

 

IEC 60444-2:1980相似標(biāo)準(zhǔn)

誰引用了IEC 60444-2:1980 更多引用