IEC 60444-2:1980
用π型網(wǎng)絡(luò)零相位技術(shù)測量石英晶體元件參數(shù) 第2部分:測量石英晶體元件動(dòng)態(tài)電容的相位偏置法
Measurement of quartz crystal unit parameters by zero phase technique in a -network; part 2 : phase offset method for measurement of motional capacitance of quartz crystal units
- 標(biāo)準(zhǔn)號
- IEC 60444-2:1980
- 發(fā)布
- 1980年
- 總頁數(shù)
- 22頁
- 發(fā)布單位
- 國際電工委員會(huì)
- 當(dāng)前最新
- IEC 60444-2:1980
- 適用范圍
- 描述了一種適合在 1 MHz 至 125 MHz 頻率范圍內(nèi)進(jìn)行測量的方法，總測量誤差約為 5%。該方法基于諧振頻率及其附近的相位測量。動(dòng)議的價(jià)值
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