JIS K 0145:2002
表面化學(xué)分析.X射線光電子分光計.能量刻度的校準(zhǔn)

Surface chemical analysis -- X-ray photoelectron spectrometers -- Calibration of energy scales

標(biāo)準(zhǔn)號

JIS K 0145:2002

發(fā)布

2002年

發(fā)布單位

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會

當(dāng)前最新

JIS K 0145:2002

 

 

この規(guī)格は，通常の分析用途に用いる場合の，単色化しないAlとMg,単色化したAlを勵起X線源として用いるX線光電子分光裝置の結(jié)合エネルギー軸目盛を校正する方法を定める。この規(guī)格は，測定試料をスパッタクリーニングすることが可能なイオン銃を備えた裝置に限って有効である。更に，この規(guī)格は，結(jié)合エネルギー軸目盛の直線性を確認(rèn)するためにいつ校正を行うべきかという日程を...

專題

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