GB/T 15972.21-2008
光纖試驗方法規(guī)范.第21部分:尺寸參數(shù)的測量方法和試驗程序.涂覆層幾何參數(shù)
Specifications for optical fibre test methods.Part 21:Measurement methods and test procedures for dimensions.Coating geometry
GBT15972.21-2008, GB15972.21-2008
GB/T 15972.21-2008 中，可能用到以下儀器設(shè)備
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- 標(biāo)準(zhǔn)號
- GB/T 15972.21-2008
- 別名
- GBT15972.21-2008
GB15972.21-2008 - 發(fā)布
- 2008年
- 總頁數(shù)
- 11頁
- 采用標(biāo)準(zhǔn)
- IEC 60793-1-21:2001 MOD
- 發(fā)布單位
- 國家質(zhì)檢總局
- 當(dāng)前最新
- GB/T 15972.21-2008
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 15972.10-2008 GB/T 15972.20-2008
- 被代替標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 15972.2-1998
GB/T 15972的本部分規(guī)定了測量光纖預(yù)涂覆層幾何參數(shù)的試驗方法，確立了測量的統(tǒng)一試驗程序和技術(shù)要求。 本部分適用于對A類多模光纖和B類單模光纖的測量和成品光纖電纜的商業(yè)性檢驗。
| 術(shù)語 | |
|---|---|
| WRB primary coating | Primary Coating |
| secondary or 'buffer' coating | Secondary or Buffer Coating |
GB/T 15972.21-2008 中提到的儀器設(shè)備
| 側(cè)視光分布法裝置 激光光源、掃描器件和檢測器組，配備透鏡系統(tǒng) | 通過測量激光光束透過光纖的偏轉(zhuǎn)函數(shù)來獲得涂覆層幾何參數(shù)。 |
| 電子測微計系統(tǒng) 雙通路邁克爾遜干涉儀 | 用于精確測量平砧間移動，以評估涂覆層不圓度和同心度誤差。 |
專題
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