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GB/T 15972.21-2008
光纖試驗方法規(guī)范.第21部分:尺寸參數(shù)的測量方法和試驗程序.涂覆層幾何參數(shù)

Specifications for optical fibre test methods.Part 21:Measurement methods and test procedures for dimensions.Coating geometry

GBT15972.21-2008, GB15972.21-2008


標準號
GB/T 15972.21-2008
別名
GBT15972.21-2008, GB15972.21-2008
發(fā)布
2008年
總頁數(shù)
11頁
采用標準
IEC 60793-1-21:2001 MOD
發(fā)布單位
國家質(zhì)檢總局
當前最新
GB/T 15972.21-2008
 
 
引用標準
GB/T 15972.10-2008 GB/T 15972.20-2008
被代替標準
GB/T 15972.2-1998
適用范圍
GB/T 15972的本部分規(guī)定了測量光纖預(yù)涂覆層幾何參數(shù)的試驗方法,確立了測量的統(tǒng)一試驗程序和技術(shù)要求。 本部分適用于對A類多模光纖和B類單模光纖的測量和成品光纖電纜的商業(yè)性檢驗。
術(shù)語描述
WRB primary coating
Primary Coating
在光纖拉制過程中或之后施加的第一層保護涂層,提供基本的保護功能(例如250微米保護層)。
secondary or 'buffer' coating
Secondary or Buffer Coating
在單/多層預(yù)涂覆光纖上再施加的保護涂層,為光纖提供額外保護或形成特殊結(jié)構(gòu)(如900微米緩沖層)。

GB/T 15972.21-2008 中提到的儀器設(shè)備

側(cè)視光分布法裝置

激光光源、掃描器件和檢測器組,配備透鏡系統(tǒng)
通過測量激光光束透過光纖的偏轉(zhuǎn)函數(shù)來獲得涂覆層幾何參數(shù)。
電子測微計系統(tǒng)

雙通路邁克爾遜干涉儀
用于精確測量平砧間移動,以評估涂覆層不圓度和同心度誤差。

其他標準


專題


GB/T 15972.21-2008相似標準


GB/T 15972.21-2008系列標準

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誰引用了GB/T 15972.21-2008 更多引用





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