ASTM E1695-95(2006)e1
計(jì)算機(jī)層析X射線攝影(CT)系統(tǒng)性能測量的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法

Standard Test Method for Measurement of Computed Tomography (CT) System Performance

被代替

標(biāo)準(zhǔn)號(hào)

ASTM E1695-95(2006)e1

發(fā)布

1995年

總頁數(shù)

5頁

發(fā)布單位

美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)

替代標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E1695-95(2013)

當(dāng)前最新

ASTM E1695-20e1

 

 

適用范圍

影響 CT 圖像質(zhì)量的兩個(gè)因素是幾何不清晰度和隨機(jī)噪聲。幾何不清晰度限制了 CT 系統(tǒng)的空間分辨率，即其對物體精細(xì)結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)進(jìn)行成像的能力。隨機(jī)噪聲限制了 CT 系統(tǒng)的對比靈敏度，即其檢測物體中存在或不存在特征的能力?？臻g分辨率和對比敏感度可以通過多種方式測量。 ASTM 規(guī)定空間分辨率以調(diào)制傳遞函數(shù) (MTF) 量化，對比敏感度以對比度辨別函數(shù) (CDF) 量化（參見指南 E 1441 和實(shí)踐 E 1570）。該測試方法允許 CT 系統(tǒng)或服務(wù)的購買者或提供者（或兩者）測量和指定空間分辨率和對比敏感度。
1.1 該測試方法提供了確定 X 射線和 射線計(jì)算中的空間分辨率和對比敏感度的說明。斷層掃描 (CT) 圖像。該確定基于對均勻材料圓盤的 CT 圖像的檢查?？臻g分辨率測量源自對光盤邊緣清晰度的圖像分析。對比敏感度測量源自對圓盤中心的統(tǒng)計(jì)噪聲的圖像分析。
1.2 與其他方法相比，該測試方法更加定量且不易解釋，因?yàn)樗璧膱A盤易于制造，并且分析不受影響。拔罐文物。如果磁盤映像占據(jù)的視野少于大部分，則此測試方法可能不會(huì)產(chǎn)生有意義的結(jié)果。
1.3 此測試方法也可用于評估其他性能參數(shù)。使用此測試方法可檢測到的 CT 系統(tǒng)的特征包括：重建內(nèi)核的中頻增強(qiáng)、檢測器串?dāng)_的存在（或不存在）、視圖欠采樣以及非物理（即，負(fù)）CT 編號(hào)（參見空軍技術(shù)報(bào)告 WL-TR-94-4021）。通過該測試方法很可能也可以檢測到其他特性。
1.4 以 SI 單位表示的值應(yīng)被視為標(biāo)準(zhǔn)。英寸-磅單位僅供參考。本標(biāo)準(zhǔn)并不旨在解決與其使用相關(guān)的所有安全問題（如果有）。本標(biāo)準(zhǔn)的使用者有責(zé)任在使用前建立適當(dāng)?shù)陌踩徒】祵?shí)踐并確定監(jiān)管限制的適用性。

ASTM E1695-95(2006)e1 中可能用到的儀器設(shè)備

專題

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