ASTM E1672-12
計(jì)算機(jī)層析X射線攝影 (CT) 系統(tǒng)選擇的標(biāo)準(zhǔn)指南

Standard Guide for Computed Tomography (CT) System Selection

被代替

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標(biāo)準(zhǔn)號

ASTM E1672-12

發(fā)布

2012年

總頁數(shù)

12頁

發(fā)布單位

美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)

替代標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E1672-12(2020)

當(dāng)前最新

ASTM E1672-12(2020)

 

 

引用標(biāo)準(zhǔn)

ASTM E1316 ASTM E1441 ASTM E1570 ASTM E2339 ASTM E2767

適用范圍

本指南將幫助購買者生成 CT 系統(tǒng)規(guī)格。本指南涵蓋了將購買者的要求轉(zhuǎn)換為準(zhǔn)備有用的 CT 系統(tǒng)規(guī)范所必須發(fā)生的系統(tǒng)組件的過程?？梢酝ㄟ^與潛在供應(yīng)商或獨(dú)立顧問的討論來獲得更多信息。本指南適用于尋求掃描服務(wù)的購買者。本指南適用于需要為特定檢查應(yīng)用采購 CT 系統(tǒng)的購買者。
1.1 本指南涵蓋了將應(yīng)用要求轉(zhuǎn)化為計(jì)算機(jī)斷層掃描 (CT) 系統(tǒng)要求/規(guī)范的指南，并建立了通用術(shù)語來指導(dǎo)購買者和供應(yīng)商CT 系統(tǒng)選擇過程。本指南適用于 CT 系統(tǒng)和掃描服務(wù)的購買者。計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)是復(fù)雜的儀器，由許多組件組成，這些組件必須正確交互才能產(chǎn)生重復(fù)再現(xiàn)令人滿意的檢查結(jié)果的圖像。計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)購買者通常關(guān)心應(yīng)用需求。計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)供應(yīng)商通常關(guān)心系統(tǒng)組件的選擇，以滿足購買者的性能要求。本指南無意進(jìn)行限制或約束，而是旨在解決應(yīng)用要求與性能規(guī)范之間的關(guān)系，正確選擇 CT 系統(tǒng)時(shí)必須理解和考慮這些關(guān)系。
1.2 計(jì)算機(jī)斷層掃描 (CT) 可用于新的應(yīng)用或代替放射線照相或射線檢查，前提是披露構(gòu)成接受/拒絕標(biāo)準(zhǔn)的物理特征或指示的能力已完整記錄并可供審查。一般來說，CT 的空間分辨率比膠片放射線照相術(shù)低，但與數(shù)字放射線照相術(shù)或放射線檢查的空間分辨率相當(dāng)，除非使用放大倍數(shù)。放大可用于 CT 或放射線照相/放射線檢查，以提高空間分辨率，但同時(shí)會(huì)損失視野。
1.3 計(jì)算機(jī)斷層掃描 (CT) 系統(tǒng)使用一組傳輸測量，這些測量沿著一組從許多不同方向投射穿過物體的路徑進(jìn)行。這些視圖中的每個(gè)透射測量值都被數(shù)字化并存儲在計(jì)算機(jī)中，隨后在計(jì)算機(jī)中對它們進(jìn)行調(diào)節(jié)（例如歸一化和校正）并重建，通常通過各種方法之一將其重建為垂直于一組投影路徑的物體切片。的技術(shù)。如果重建許多切片，則獲得對象的三維表示。指南 E1441 中對 CT 原理進(jìn)行了深入探討。
1.4 計(jì)算機(jī)斷層掃描（CT）與傳統(tǒng)射線照相和射線透視檢查一樣，廣泛適用于穿透輻射束可以穿過和檢測的任何材料或物體，包括金屬、塑料、陶瓷、金屬/非金屬復(fù)合材料和組件。 CT 的主要優(yōu)點(diǎn)是它有可能提供穿過物體的薄橫截面的密度（即放射密度和幾何形狀）圖像。在許多較新的系統(tǒng)中，橫截面現(xiàn)在被組合成 3D 數(shù)據(jù)體以進(jìn)行額外的解釋。由于不存在結(jié)構(gòu)疊加，圖像可能比傳統(tǒng)的放射圖像更容易解釋。新購買者可以快速學(xué)會(huì)讀取 CT 數(shù)據(jù)，因?yàn)榕c傳統(tǒng)的投影放射學(xué)相比，圖像更符合人類思維可視化 3D 結(jié)構(gòu)的方式。此外，由于CT圖像是數(shù)字化的，與數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)相比，圖像可以被增強(qiáng)、分析、壓縮、存檔、作為數(shù)據(jù)輸入到性能計(jì)算中......

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