JIS K 0163:2010
表面化學(xué)分析.次級離子質(zhì)譜法.離子注入標(biāo)樣中相對靈敏度系數(shù)的測定

Surface chemical analysis -- Secondary-ion mass spectrometry -- Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials

標(biāo)準(zhǔn)號

JIS K 0163:2010

發(fā)布

2010年

發(fā)布單位

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會

當(dāng)前最新

JIS K 0163:2010

 

 

引用標(biāo)準(zhǔn)

JIS K 0147

JIS K 0163:2010 中可能用到的儀器設(shè)備

專題

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