ASTM E2627-13
使用完全再結(jié)晶多晶材料中的電子背散射衍射 (EBSD) 測定平均粒徑的標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程

Standard Practice for Determining Average Grain Size Using Electron Backscatter Diffraction (EBSD) in Fully Recrystallized Polycrystalline Materials

被代替

說明：

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標(biāo)準(zhǔn)號: ASTM E2627-13
發(fā)布: 2013年
總頁數(shù): 10頁
發(fā)布單位: 美國材料與試驗協(xié)會
替代標(biāo)準(zhǔn): ASTM E2627-13(2019)
當(dāng)前最新: ASTM E2627-13(2019)

引用標(biāo)準(zhǔn): ASTM E112 ASTM E1181 ASTM E1382 ASTM E177 ASTM E691 ASTM E7 ASTM E766

1.1 這種做法用于通過多晶材料的自動電子背散射衍射 (EBSD) 掃描對晶粒面積的測量來確定晶粒尺寸。 1.2 這種做法的目的是標(biāo)準(zhǔn)化自動 EBSD 儀器的操作，以直接從晶體取向測量 ASTM G。 E112 的指南和注意事項此處適用，但該標(biāo)準(zhǔn)的重點是 EBSD 實踐。 1.3 這種做法僅適用于完全再結(jié)晶的材料。 1.4 這種做法適用于任何能夠產(chǎn)生足夠質(zhì)量...

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ASTM E2627-13使用完全再結(jié)晶多晶材料中的電子背散射衍射 (EBSD) 測定平均粒徑的標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程

Standard Practice for Determining Average Grain Size Using Electron Backscatter Diffraction (EBSD) in Fully Recrystallized Polycrystalline Materials

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