ASTM E2627-13
使用完全再結(jié)晶多晶材料中的電子背散射衍射 (EBSD) 測定平均粒徑的標(biāo)準(zhǔn)實施規(guī)程

Standard Practice for Determining Average Grain Size Using Electron Backscatter Diffraction (EBSD) in Fully Recrystallized Polycrystalline Materials

被代替

標(biāo)準(zhǔn)號: ASTM E2627-13
發(fā)布: 2013年
總頁數(shù): 10頁
發(fā)布單位: 美國材料與試驗協(xié)會
替代標(biāo)準(zhǔn): ASTM E2627-13(2019)
當(dāng)前最新: ASTM E2627-13(2019)

引用標(biāo)準(zhǔn): ASTM E112 ASTM E1181 ASTM E1382 ASTM E177 ASTM E691 ASTM E7 ASTM E766

適用范圍: 1.1 這種做法用于通過多晶材料的自動電子背散射衍射 (EBSD) 掃描對晶粒面積的測量來確定晶粒尺寸。
1.2 這種做法的目的是標(biāo)準(zhǔn)化自動 EBSD 儀器的操作，以直接從晶體取向測量 ASTM G。 E112 的指南和注意事項此處適用，但該標(biāo)準(zhǔn)的重點是 EBSD 實踐。
1.3 這種做法僅適用于完全再結(jié)晶的材料。
1.4 這種做法適用于任何能夠產(chǎn)生足夠質(zhì)量的 EBSD 圖案的晶體材料，可以使用自動索引軟件對高比例的圖案進(jìn)行可靠索引。 1.5本實踐適用于任何類型的晶粒結(jié)構(gòu)或晶粒尺寸分布。 1.6 以 SI 單位表示的值被視為標(biāo)準(zhǔn)值。本標(biāo)準(zhǔn)不包含其他計量單位。
1.7 本標(biāo)準(zhǔn)并不旨在解決與其使用相關(guān)的所有安全問題（如果有）。本標(biāo)準(zhǔn)的使用者有責(zé)任在使用前建立適當(dāng)?shù)陌踩徒】祵嵺`并確定監(jiān)管限制的適用性。