單原子 顯微鏡
本專題涉及單原子 顯微鏡的標準有130條。
國際標準分類中，單原子 顯微鏡涉及到分析化學、光學設備、物理學、化學、光學和光學測量、長度和角度測量、航空航天制造用材料、熱力學和溫度測量、飼料、詞匯、試驗條件和規(guī)程綜合、空氣質(zhì)量、計量學和測量綜合、醫(yī)療設備、焊接、釬焊和低溫焊、建筑材料、核能工程、教育、光電子學、激光設備、電子元器件組件。
在中國標準分類中，單原子 顯微鏡涉及到基礎標準與通用方法、放大鏡與顯微鏡、、電子光學與其他物理光學儀器、畜禽飼料與添加劑、醫(yī)療器械綜合、計量綜合、電磁計量、教育、學位、學銜、一般與顯微外科器械、技術管理、物理學與力學、基礎學科綜合、光電子器件綜合、勘探采礦和工藝監(jiān)測核儀器、記錄儀器及光線示波器、光學設備、化學計量、檢驗專用設備、教學專用儀器、電子元件綜合、溫度與壓力儀表、化學試劑綜合。
國家質(zhì)檢總局，關于單原子 顯微鏡的標準
- GB/T 32189-2015 氮化鎵單晶襯底表面粗糙度的原子力顯微鏡檢驗法
- GB/T 22064-2008 顯微鏡.35mm 單反照相機鏡頭的接口
- GB/T 31227-2014 原子力顯微鏡測量濺射薄膜表面粗糙度的方法
- GB 7667-1996 電子顯微鏡X射線泄漏劑量
- GB 7667-2003 電子顯微鏡X射線泄漏劑量
- GB/T 27760-2011 利用Si（111）晶面原子臺階對原子力顯微鏡亞納米高度測量進行校準的方法
- GB/T 18907-2002 透射電子顯微鏡選區(qū)電子衍射分析方法
美國材料與試驗協(xié)會，關于單原子 顯微鏡的標準
- ASTM E2530-06 用Si(111)單原子層級對原子力顯微鏡進行次納米位移級的Z倍率校準的標準規(guī)程
- ASTM E2382-04(2020) 掃描隧道顯微鏡和原子力顯微鏡中的掃描儀和尖端相關人工標準指南
- ASTM E2859-11(2017) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子的標準指南
- ASTM E285-08(2015) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子的標準指南
- ASTM E2382-04 掃描隧道顯微鏡學和原子力顯微鏡學中掃描器和與觸點相關物品的指南
- ASTM E2382-04(2012) 掃描隧道顯微鏡學和原子力顯微鏡學中掃描器和與觸點相關物品的標準指南
- ASTM E2859-11(2023) 使用原子力顯微鏡測量納米粒子尺寸的標準指南
- ASTM E2859-11 利用原子力學顯微鏡進行尺寸測量的標準指南
- ASTM E766-98(2003) 校準掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)
- ASTM E766-98 校準掃描電子顯微鏡的放大倍數(shù)
韓國科技標準局，關于單原子 顯微鏡的標準
- KS B 5613-1996 單物鏡雙目顯微鏡
- KS D ISO 22493-2012(2017) 微束分析掃描電子顯微鏡詞匯
- KS D ISO 22493:2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS D ISO 22493:2012 微光束分析.掃描電子顯微鏡.術語
- KS B ISO 11884-2-2011(2016) 光學和光子學立體顯微鏡最低要求第2部分:高性能顯微鏡
- KS B ISO 11884-2-2011(2021) 光學和光子學立體顯微鏡最低要求第2部分:高性能顯微鏡
- KS B ISO 11884-2:2011 光學和光子學.立體顯微鏡的最低要求.第2部分:高性能顯微鏡
- KS B ISO 11884-2-2021 光學與光子學 體視顯微鏡的最低要求 第2部分：高性能顯微鏡
- KS I 0051-1999(2019) 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
- KS I 0051-2019 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
- KS M 0044-1999 掃描電子顯微鏡的一般規(guī)則
- KS P ISO 10936-2:2020 光學和光子學 - 操作顯微鏡 - 第2部分:眼部手術中使用的顯微鏡??的輕微危險
- KS I 0051-1999 掃描電子顯微鏡試驗方法通則
- KS D ISO 16700:2013 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
國際標準化組織，關于單原子 顯微鏡的標準
- ISO 8036:2006 光學和光子學.顯微鏡.光學顯微鏡浸液
- ISO 23729:2022 表面化學分析.原子力顯微鏡.有限探針尺寸放大原子力顯微鏡圖像的恢復程序指南
- ISO/TS 21383:2021 微束分析.掃描電子顯微鏡.定量測量用掃描電子顯微鏡的鑒定
- ISO/CD 25498:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區(qū)電子衍射分析
- ISO/DIS 25498:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區(qū)電子衍射分析
- ISO 15932:2013 微光束分析.分析電子顯微鏡.詞匯
- ISO/CD 19214:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測定線狀晶體表觀生長方向的方法
- ISO 11884-2:2007 光學和光子學.立體顯微鏡的最低要求.第2部分:高性能顯微鏡
- ISO 21222:2020 表面化學分析.掃描探針顯微鏡.用原子力顯微鏡和兩點JKR法測定柔順材料彈性模量的程序
- ISO 11884-1:2006 光學和光子學.體視顯微鏡的最低要求.第1部分:通用體視顯微鏡
- ISO 22493:2008 微光束分析.掃描電子顯微鏡方法.詞匯
- ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
- ISO 16700:2016 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
- ISO 19214:2017 微束分析. 分析電子顯微術. 采用透射電子顯微鏡術測定絲狀晶體顯著增長方向的方法
ESDU - Engineering Sciences Data Unit，關于單原子 顯微鏡的標準
- SPB-M6-3-2010 08 年 4 月：原子力顯微鏡（技術背景）
- SPB-M2-1-2007 通過原子力顯微鏡研究瀝青質(zhì)的界面和流變學特性
GSO，關于單原子 顯微鏡的標準
- GSO ISO 13095:2015 表面化學分析 原子力顯微鏡 用于納米結構測量的原子力顯微鏡探針卡盤的原位表征程序
- OS GSO ISO 8036:2015 光學和光子學 顯微鏡 光學顯微鏡用浸沒液體
- GSO ISO 8036:2015 光學和光子學 顯微鏡 用于光學顯微鏡的浸沒液
- BH GSO ISO 25498:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區(qū)電子衍射分析
- OS GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區(qū)電子衍射分析
- GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析掃描電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區(qū)電子衍射分析
- GSO ISO 15932:2015 微量分析 分析電子顯微鏡 詞匯
- BH GSO ISO 15932:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
- BH GSO ISO 22493:2017 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- OS GSO ISO 15932:2015 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
- GSO ISO 22493:2015 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
英國標準學會，關于單原子 顯微鏡的標準
- BS ISO 23729:2022 表面化學分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴張的原子力顯微鏡圖像恢復程序指南
- 21/30412880 DC BS ISO 23729 表面化學分析 原子力顯微鏡 有限探針尺寸擴張的原子力顯微鏡圖像恢復程序指南
- BS ISO 25498:2018 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進行選區(qū)電子衍射分析
- BS ISO 11884-2:2007 光學和光子學.立體顯微鏡的最低要求.高性能顯微鏡
- BS ISO 8036:2006 光學和光子學.顯微鏡.光學顯微學的浸液
- BS ISO 11884-1:2006 光學和光子學.體視顯微鏡的最低要求.通用體視顯微鏡
- 18/30319114 DC BS ISO 20171 微束分析 掃描電子顯微鏡 用于掃描電子顯微鏡（TIFF/SEM）的標記圖像文件格式
- PD ISO/TS 10797:2012 納米技術 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
- 24/30474499 DC BS ISO 19214 微束分析 分析電子顯微鏡 透射電子顯微鏡測定線狀晶體表觀生長方向的方法
- BS ISO 21222:2020 表面化學分析 掃描探針顯微鏡 使用原子力顯微鏡和兩點 JKR 方法測定柔順材料彈性模量的程序
- BS EN ISO 14880-1:2005 光學和光子學.顯微透鏡系列.詞匯
- 19/30351707 DC BS ISO 21222 表面化學分析 掃描探針顯微鏡 使用原子力顯微鏡和兩點 JKR 方法測定柔順材料彈性模量的程序
- BS ISO 16700:2004 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.圖像放大校準指南
美國國防部標準化文件（含MIL標準），關于單原子 顯微鏡的標準
- DOD A-A-54628-1992 顯微鏡滑片(簡單的)
- DOD A-A-54873-1993 塑料顯微鏡載片盒子
- DOD A-A-53609-1988 顯微鏡防護玻璃罩鑷子
中國團體標準，關于單原子 顯微鏡的標準
- T/CSTM 00003-2019 二維材料厚度測量 原子力顯微鏡法
- T/QGCML 1940-2023 掃描電子顯微鏡原位高溫力學測試裝置
- T/GDASE 0008-2020 石墨烯薄膜楊氏模量的測定 原子力顯微鏡法
- T/CSTM 00162-2020 透射電子顯微鏡校準方法
IN-BIS，關于單原子 顯微鏡的標準
- IS 4328-1967 單筒解剖顯微鏡規(guī)范
行業(yè)標準-機械，關于單原子 顯微鏡的標準
- JB/T 5480-1991 電子顯微鏡用光闌
- JB/T 5481-1991 電子顯微鏡用燈絲
- JB/T 9352-1999 透射電子顯微鏡 試驗方法
- JB/T 6842-1993 掃描電子顯微鏡試驗方法
- JB/T 5383-1991 透射電子顯微鏡技術條件
- JB/T 5384-1991 掃描電子顯微鏡.技術條件
- JB/T 5584-1991 透射電子顯微鏡放大率測試方法
- JB/T 5585-1991 透射電子顯微鏡分辨力測試方法
- JB/T 5586-1991 透射電子顯微鏡分類和基本參數(shù)
行業(yè)標準-農(nóng)業(yè)，關于單原子 顯微鏡的標準
- GB/T 14698-2017(XG1-2019) 飼料原料顯微鏡檢查方法《第1號修改單》
日本工業(yè)標準調(diào)查會，關于單原子 顯微鏡的標準
- JIS K 0132:1997 掃描電子顯微鏡總則
- JIS K 3850-1:2006 空中纖維分子的測定.第1部分:光學顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
- JIS K 3850-1:2000 空氣中纖維粒子的測量方法.第1部分:光學顯微鏡法和掃描電子顯微鏡法
德國標準化學會，關于單原子 顯微鏡的標準
- DIN SPEC 52407:2015-03 納米技術 使用原子力顯微鏡(AFM)和透射掃描電子顯微鏡(TSEM)進行粒子測量的準備和評估方法
- DIN 58272:2009 醫(yī)療器械.精制顯微鏡鑷子
- DIN 58272:1983 醫(yī)療器械；精制顯微鏡鑷子
- DIN 58272:2016 醫(yī)療器械.精制顯微鏡鑷子
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于單原子 顯微鏡的標準
- GB/T 14698-2017 飼料原料顯微鏡檢查方法
- GB/T 34269-2017 飼料原料顯微鏡檢查圖譜
- GB/T 33834-2017 微束分析 掃描電子顯微術 生物試樣掃描電子顯微鏡分析方法
- GB/T 32262-2015 用于原子力顯微鏡檢測的脫氧核糖核酸樣品的制備方法
行業(yè)標準-醫(yī)藥，關于單原子 顯微鏡的標準
- YY 1296-2016 光學和光子學手術顯微鏡眼科用手術顯微鏡的光危害
KR-KS，關于單原子 顯微鏡的標準
- KS D ISO 22493-2022 微束分析.掃描電子顯微鏡.詞匯
- KS P ISO 10936-2-2020 光學和光子學 - 操作顯微鏡 - 第2部分:眼部手術中使用的顯微鏡??的輕微危險
法國標準化協(xié)會，關于單原子 顯微鏡的標準
- NF ISO 15932:2014 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
- FD T16-209:2012 納米技術 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
- NF X21-005:2006 微電子束分析.掃描電子顯微鏡.校準圖像放大指南
SCC，關于單原子 顯微鏡的標準
- BS ISO 22493:2008 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- 06/30128226 DC ISO 22493 微束分析 掃描電子顯微鏡 詞匯
- 12/30245653 DC BS ISO 15932 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
- DANSK DS/ISO/TS 10797:2012 納米技術 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
- BS PD ISO/TS 10797:2012 納米技術 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
- BS ISO 19012-2:2009 光學和光子學 顯微鏡物鏡的命名 色彩校正
- AWWA WQTC71603 利用原子力顯微鏡研究水質(zhì)對銅腐蝕初期發(fā)展的影響
國家計量技術規(guī)范，關于單原子 顯微鏡的標準
- JJF 1916-2021 掃描電子顯微鏡校準規(guī)范
國家計量檢定規(guī)程，關于單原子 顯微鏡的標準
- JJG(地質(zhì)) 1016-1990 透射電子顯微鏡檢定規(guī)程
- JJG(教委) 11-1992 掃描電子顯微鏡檢定規(guī)程
- JJG(教委) 12-1992 透射電子顯微鏡檢定規(guī)程
- JJG 550-1988 掃描電子顯微鏡試行檢定規(guī)程
行業(yè)標準-教育，關于單原子 顯微鏡的標準
- JY/T 011-1996 透射電子顯微鏡方法通則
- JY/T 0581-2020 透射電子顯微鏡分析方法通則
- JY/T 0584-2020 掃描電子顯微鏡分析方法通則
- JY/T 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則
國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于單原子 顯微鏡的標準
- GB/T 40066-2021 納米技術 氧化石墨烯厚度測量 原子力顯微鏡法
- GB/T 35098-2018 微束分析 透射電子顯微術 植物病毒形態(tài)學的透射電子顯微鏡鑒定方法
德國機械工程師協(xié)會，關于單原子 顯微鏡的標準
- DVS 2803-1974 顯微鏡下的電子束焊接（調(diào)查）
行業(yè)標準-核工業(yè)，關于單原子 顯微鏡的標準
- EJ/T 20176-2018 金剛石刀具刃口鋒利度的原子力顯微鏡測量方法
丹麥標準化協(xié)會，關于單原子 顯微鏡的標準
- DS/ISO/TS 10797:2012 納米技術 使用透射電子顯微鏡表征單壁碳納米管
美國電子電路和電子互連行業(yè)協(xié)會，關于單原子 顯微鏡的標準
- IPC J-STD-035-1999 非氣密封裝電子元件聲學顯微鏡
- IPC TM-650 2.6.22-1995 塑封電子元器件用的聲學顯微鏡
RU-GOST R，關于單原子 顯微鏡的標準
- GOST 21006-1975 電子顯微鏡.術語、定義和字母符號
