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difracción de monocristal de rayos x

difracción de monocristal de rayos x, Total: 37 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en difracción de monocristal de rayos x son: pruebas de metales, Educación, Productos de la industria química., producción de metales, Química analítica, Plástica, óptica y medidas ópticas., Pruebas no destructivas, químicos inorgánicos, Cerámica, Materiales semiconductores.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, difracción de monocristal de rayos x

• GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor
• GB/T 30904-2014 Productos químicos inorgánicos para uso industrial. Análisis de forma cristalina. Método de difracción de rayos X.

Professional Standard - Education, difracción de monocristal de rayos x

• JY/T 0587-2020 Principios generales de los métodos de difracción de rayos X de policristales.
• JY/T 009-1996 Principios generales del método de derivación de rayos X de policristales con objetivo giratorio
• JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares peque?os mediante difracción de rayos X de cristal único
• JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares peque?os mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), difracción de monocristal de rayos x

• GB/T 34612-2017 Método de medición de la curva de oscilación de difracción de doble cristal de rayos X de cristales de zafiro

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, difracción de monocristal de rayos x

• JJG 629-1989 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
• JJG(地質(zhì)) 1014-1990 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
• JJG 629-2014 Difractómetros de rayos X policristalinos

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), difracción de monocristal de rayos x

• JIS H 7805:2005 Método para la determinación del tama?o de cristalitos en catalizadores metálicos mediante difractometría de rayos X.

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), difracción de monocristal de rayos x

• GB/T 37983-2019 Métodos de prueba de difracción de rayos X para determinar la orientación de materiales cristalinos por rotación.

工業(yè)和信息化部, difracción de monocristal de rayos x

• SH/T 1827-2019 Determinación de la cristalinidad de plásticos mediante el método de difracción de rayos X.

Professional Standard - Machinery, difracción de monocristal de rayos x

• JB/T 11144-2011 difractómetro de rayos X
• JB/T 5482-2011 Aparato de orientación de rayos X.

British Standards Institution (BSI), difracción de monocristal de rayos x

• BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
• BS EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
• BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
• BS EN 13925-2:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
• BS EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
• BS EN 13925-1:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
• BS ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo

Professional Standard - Agriculture, difracción de monocristal de rayos x

• 57藥典 四部-2020 0451 Método de difracción de rayos X
• 77藥典 四部-2015 0451 Método de difracción de rayos X

PT-IPQ, difracción de monocristal de rayos x

• E E 14-1971 AN?LISE POR DIFRAC??O DE RAIOS X

Professional Standard - Nuclear Industry, difracción de monocristal de rayos x

• EJ/T 553-1991 Determinación de los parámetros de las células minerales Método de difracción de rayos X en polvo

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, difracción de monocristal de rayos x

• JJF 1256-2010 Especificación de calibración para equipos de orientación de monocristales de rayos X

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), difracción de monocristal de rayos x

• KS M 0043-2009 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.

Professional Standard - Energy, difracción de monocristal de rayos x

• NB/SH/T 6033-2021 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del método de difracción de rayos X del tamiz molecular ZSM-22
• NB/SH/T 6015-2020 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del tamiz molecular ZSM-23 mediante el método de difracción de rayos X

Professional Standard - Aviation, difracción de monocristal de rayos x

• HB 6742-1993 Determinación de la orientación del cristal de láminas de cristal único mediante fotografía Laue con retrosoplado de rayos X

IT-UNI, difracción de monocristal de rayos x

• UNI 6966-1971 Determinación cuantitativa de las figuras polares y policristales mediante difusión de trapos X

International Organization for Standardization (ISO), difracción de monocristal de rayos x

• ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada): método de prueba para determinar la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo

German Institute for Standardization, difracción de monocristal de rayos x

• DIN 50433-1:1976 Ensayos de materiales inorgánicos semiconductores; determinación de la orientación de monocristales mediante difracción de rayos X

Danish Standards Foundation, difracción de monocristal de rayos x

• DS/EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos

SCC, difracción de monocristal de rayos x

• DANSK DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.

European Committee for Standardization (CEN), difracción de monocristal de rayos x

• EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.

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