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全反射蛍光X線分析

全反射蛍光X線分析は全部で 94 項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)に関連している。

全反射蛍光X線分析 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類において、これらの分類：分析化學(xué)、 放射線防護(hù)、 金屬材料試験、 ブラックメタル、 光學(xué)および光學(xué)測(cè)定、 原子力工學(xué)、 建材、 放射線測(cè)定、 非鉄金屬、 鉄鋼製品、 金屬鉱石、 耐火物、 語(yǔ)彙、 労働安全、労働衛(wèi)生、 合金鉄、 非破壊検査、 鉱山機(jī)械、 発電所総合。


International Organization for Standardization (ISO), 全反射蛍光X線分析

  • ISO 20289:2018 表面化學(xué)分析 - 水の全反射蛍光X線分析
  • ISO/TS 18507:2015 表面化學(xué)分析生物および環(huán)境分析における全反射蛍光X線分析の利用

British Standards Institution (BSI), 全反射蛍光X線分析

  • BS ISO 20289:2018 表面化學(xué)分析 水の全反射蛍光X線分析
  • 24/30482073 DC BS ISO 20289 表面化學(xué)分析。 水の全反射X線蛍光分析
  • PD ISO/TS 18507:2015 表面化學(xué)分析 全反射蛍光X線分光法 生物および環(huán)境分析への応用
  • BS PD ISO/TS 18507:2015 表面化學(xué)分析生物および環(huán)境分析における全反射蛍光X線分析の利用
  • BS ISO 14706:2000 表面化學(xué)分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 分光法を使用したシリコン ウェーハ表面の元素汚染物質(zhì)の測(cè)定
  • BS ISO 14706:2014 表面化學(xué)分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 分光法を使用したシリコン ウェーハ表面の元素汚染物質(zhì)の測(cè)定
  • BS ISO 14706:2001 表面化學(xué)分析 全反射蛍光 X 線 (TXRF) 分光法を使用したシリコン ウェーハ表面の元素汚染物質(zhì)の測(cè)定

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), 全反射蛍光X線分析

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 全反射蛍光X線分析

  • GB/T 42360-2023 水の表面化學(xué)分析 全反射蛍光X線分光分析
  • GB/T 19140-2003 セメントの蛍光X線分析の一般原則
  • GB 16355-1996 X線回折裝置および蛍光分析裝置の放射線防護(hù)基準(zhǔn)
  • GB/T 24578-2024 半導(dǎo)體ウェーハ表面の金屬?zèng)A染の測(cè)定 - 全反射蛍光X線分析法

German Institute for Standardization, 全反射蛍光X線分析

  • DIN 51003 E:2021-05 全反射蛍光X線 - 原理と定義
  • DIN 51003:2022-05 全反射蛍光X線 - 原理と定義
  • DIN 51003:2004 全反射蛍光X線 一般原理と定義
  • DIN 51418-1:1996 X 線分光分析、X 線散亂および蛍光 X 線分析 (RFA) パート 1: 定義と基本原理
  • DIN 51418-1:2008 線分光分析、X 線散亂および蛍光 X 線分析 (XRF) パート 1: 定義と基本原理
  • DIN 51418-1:2008-08 放射線分光法 X 線放射および蛍光 X 線分析 (XRF) 第 1 部: 定義と基本原理
  • DIN 51418-2:2015 線分光分析、X 線散亂および蛍光 X 線分析 (RFA) 第 2 部: 測(cè)定、校正、評(píng)価の定義と基本原理
  • DIN 51418-2:1996 線分光分析、X 線散亂および蛍光 X 線分析 (RFA) 第 2 部: 測(cè)定、校正、評(píng)価の定義と基本原理

DIN, 全反射蛍光X線分析

American National Standards Institute （ANSI), 全反射蛍光X線分析

RU-GOST R, 全反射蛍光X線分析

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 全反射蛍光X線分析

Professional Standard - Machinery, 全反射蛍光X線分析

KR-KS, 全反射蛍光X線分析

VDI - Verein Deutscher Ingenieure, 全反射蛍光X線分析

  • VDI/VDE 5575 BLATT 4-2018 X線光學(xué)系 - X線ミラーおよびX線ミラーシステム - 全反射ミラーおよび多層膜ミラー
  • VDI/VDE 5575 BLATT 4-2017 X線光學(xué)系 - X線ミラーおよびX線ミラーシステム - 全反射ミラーおよび多層膜ミラー

SCC, 全反射蛍光X線分析

  • DIN 51003 E:2021 草案 - 全反射蛍光 X 線 - 原理と定義
  • VDI/VDE 5575 BLATT 4:2018 X線光學(xué)システム — X線ミラーおよびX線ミラーシステム — 全反射および多層膜ミラー
  • DIN 51418-1 E:2007 文書草案 - X 線分光分析 - X 線発光分析および蛍光 X 線分析 (XRF) - 第 1 部: 定義と基本原則

Professional Standard - Nuclear Industry, 全反射蛍光X線分析

Professional Standard - Building Materials, 全反射蛍光X線分析

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), 全反射蛍光X線分析

  • GB/T 40110-2021 表面化學(xué)分析 全反射蛍光 X 線分析 (TXRF) によるシリコン ウェーハ表面の元素汚染の測(cè)定

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, 全反射蛍光X線分析

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, 全反射蛍光X線分析

  • GBZ 115-2002 X線回折裝置および蛍光分析裝置の衛(wèi)生保護(hù)基準(zhǔn)

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, 全反射蛍光X線分析

中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), 全反射蛍光X線分析

工業(yè)和信息化部, 全反射蛍光X線分析

Professional Standard - Electricity, 全反射蛍光X線分析

  • DL/T 1151.22-2012 火力発電所におけるスケール生成物および腐食生成物の分析方法 第22部：蛍光X線分析法とX線回折分析法

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, 全反射蛍光X線分析

GSO, 全反射蛍光X線分析

  • BH GSO IEC 62495:2016 核計(jì)測(cè)機(jī)器 - 小型X線管を利用したポータブル蛍光X線分析裝置
  • OS GSO IEC 62495:2014 核計(jì)測(cè)機(jī)器 - 小型X線管を利用したポータブル蛍光X線分析裝置

SAE - SAE International, 全反射蛍光X線分析



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