全反射熒光x射線分析
本專題涉及全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)有100條。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中，全反射熒光x射線分析涉及到分析化學(xué)、輻射防護(hù)、金屬材料試驗(yàn)、黑色金屬、無損檢測(cè)、光學(xué)和光學(xué)測(cè)量、輻射測(cè)量、核能工程、建筑材料、有色金屬、鋼鐵產(chǎn)品、金屬礦、耐火材料、詞匯、職業(yè)安全、工業(yè)衛(wèi)生、鐵合金、電站綜合、采礦設(shè)備。
在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，全反射熒光x射線分析涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、通用核儀器、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、化學(xué)試劑綜合、鋼鐵與鐵合金分析方法、核儀器與核探測(cè)器綜合、放射源、水泥、Ｘ射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器、重金屬及其合金分析方法、同位素與放射源綜合、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、鐵礦、金屬化學(xué)分析方法綜合、放射衛(wèi)生防護(hù)、耐火材料綜合、稀有輕金屬及其合金、建材產(chǎn)品綜合、半金屬及半導(dǎo)體材料分析方法、電力試驗(yàn)技術(shù)、建井設(shè)備、金屬物理性能試驗(yàn)方法。
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 20289:2018 表面化學(xué)分析.水的全反射X射線熒光分析
- ISO/TS 18507:2015 表面化學(xué)分析. 全反射X射線熒光光譜法在生物和環(huán)境分析中的使用
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 20289:2018 表面化學(xué)分析 水的全反射X射線熒光分析
- 24/30482073 DC BS ISO 20289 表面化學(xué)分析 水的全反射X射線熒光分析
- PD ISO/TS 18507:2015 表面化學(xué)分析 全反射 X 射線熒光光譜在生物和環(huán)境分析中的應(yīng)用
- BS PD ISO/TS 18507:2015 表面化學(xué)分析. 全反射X射線熒光光譜法在生物和環(huán)境分析中的使用
- BS ISO 14706:2000 表面化學(xué)分析.采用全反射X射線熒光(TXRF)光譜法對(duì)硅片表面元素污染物的測(cè)定
- BS ISO 14706:2014 表面化學(xué)分析.采用全反射X射線熒光(TXRF)光譜法對(duì)硅片表面元素污染物的測(cè)定
- BS ISO 14706:2001 表面化學(xué)分析 采用全反射X射線熒光（TXRF）光譜法對(duì)硅片表面元素污染物的測(cè)定
日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會(huì)，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
- JIS K 0181:2021 表面化學(xué)分析 水的全反射X射線熒光分析
- JIS G 1256:1997 鋼鐵.X射線熒光光譜分析法
- JIS H 1292:2018 銅合金.X射線熒光分光分析法
- JSA JIS G 1256 AMD 1 鐵和鋼- X射線熒光光譜分析法
- JIS M 8205:2000 鐵礦石.X射線熒光光譜儀分析
- JSA JIS G 1256 鐵和鋼 X射線熒光光譜分析法
- JIS G 1256:1982 鋼鐵的熒光X射線分析方法
- JIS M 8205:1983 鐵礦石熒光X射線分析方法
- JIS H 1292:2005 銅合金的X射線熒光分光分析法
- JIS R 2216:2005 耐火制品X射線熒光光譜分析法
- JIS G 1351:2006 鐵合金.X-射線熒光光譜測(cè)定分析法
- JIS H 1631:2008 鈦合金.X射線熒光光譜測(cè)定分析法
- JIS H 1292:1997 銅和銅合金的X射線熒光光譜分析法
- JIS H 1287:2015 鎳和鎳合金. X射線熒光光譜分析方法
國(guó)家質(zhì)檢總局，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 42360-2023 表面化學(xué)分析 水的全反射X射線熒光光譜分析
- GB/T 19140-2003 水泥X射線熒光分析通則
- GB 16355-1996 X射線衍射儀和熒光分析儀放射防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 24578-2024 半導(dǎo)體晶片表面金屬沾污的測(cè)定 全反射X射線熒光光譜法
德國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會(huì)，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN 51003 E:2021-05 全反射X-射線熒光 總則和定義
- DIN 51003:2022 全反射 X 射線熒光 原理和定義
- DIN 51003:2004 全反射X-射線熒光.總則和定義
- DIN 51003:2022-05 全反射X-射線熒光 總則和定義
- DIN 51003:2021-05 草案 全反射 x 射線熒光 原理和定義
- DIN 51003 E:2021 文件草案 全反射 X 射線熒光 原則和定義
- DIN 51418-1 E:2024-08 草案 X 射線光譜法 X 射線發(fā)射和 X 射線熒光分析 (XRF) 第1部分：通用詞匯
- DIN 51418-1:1996 X光射線光譜測(cè)定法.X光射線散射和X光射線熒光分析(RFA).第1部分:定義和基本原理
- DIN 51418-1:2008 X射線光譜測(cè)定法.X射線散射和X射線熒光分析(XRF).第1部分:定義和基本原理
- DIN 51418-1:2008-08 射線光譜測(cè)定 X 射線發(fā)射和 X 射線熒光分析(XRF)第1部分：定義和基本原理
- DIN 51418-1 E:2007 X 射線光譜測(cè)定 X 射線發(fā)射和 X 射線熒光分析 (XRF) 第1部分：定義和基本原理 草案
- DIN 51418-2:2015 X射線光譜分析.X射線散射和X射線熒光分析(RFA).第2部分:定義和測(cè)量、校準(zhǔn)及評(píng)估的基本原則
- DIN 51418-2:1996 X射線光譜分析.X射線散射和X射線熒光分析(RFA).第2部分:定義和測(cè)量、校準(zhǔn)及評(píng)估的基本原則
美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
- ANSI N43.2-2001 X射線衍射和熒光分析設(shè)備的輻射安全
- ANSI/HPS N43.2-2021 射線衍射和熒光分析設(shè)備的輻射安全
意大利統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
- UNI 8144:1980 X射線衍射和熒光分析設(shè)備的輻射安全
- UNI 10705:1999 X射線熒光分析繪畫
俄羅斯標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GOST 28033-1989 鋼.X射線熒光分析法
- GOST R 55080-2012 鑄鐵. X射線熒光光譜(XRF)分析法
- GOST R 55410-2013 耐火材料. X射線熒光(XRF)分析
韓國(guó)科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 14706-2003(2018) 表面化學(xué)分析-全反射X-射線熒光分析儀測(cè)定硅片表面元素雜質(zhì)
- KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化學(xué)分析-全反射X射線熒光分析儀測(cè)定硅晶片表面元素雜質(zhì)
- KS M 0017-2010 X射線熒光分析法通則
- KS D ISO 14706:2003 表面化學(xué)分析.用全反射X射線熒光光譜法測(cè)定硅圓片表面主要污物
- KS D 1655-2008(2024) 鋼鐵X射線熒光光譜分析方法
- KS D 1654-1993 鋼鐵X射線熒光光譜分析通則
- KS D 1654-2003(2016) 鋼鐵X射線熒光光譜分析通則
- KS D 2710-2019 鈮鐵的X射線熒光光譜分析法
- KS D 1654-2021 鋼鐵X射線熒光光譜分析通則
- KS D 1898-1993 銅合金熒光X射線分析方法
- KS D 1655-2008(2019)(英文版) 鋼鐵的X射線熒光分析方法
- KS L 5222-2009 水泥的熒光X.射線分析方法
- KS D 1655-1993 鋼鐵的X射線熒光光譜分析方法
- KS D 1898-2019 銅合金的X射線熒光光譜法分析
- KS M 0017-2020 X射線熒光光譜分析的一般規(guī)則
- KS M 0017-1995 X射線熒光光譜分析的一般規(guī)則
- KS D 1655-2019 鋼鐵的X射線熒光光譜分析方法
- KS L 5222-2019 X射線熒光水泥化學(xué)分析方法
- KS E 3045-2002(2007) 鐵礦石的如何X射線熒光分析
- KS L 3316-1988 耐火制品X射線熒光光譜分析方法
- KS L 3316-1998 耐火制品X射線熒光光譜分析方法
- KS D 1686-2011(2021) 鐵合金的x射線熒光光譜分析方法
- KS L 3316-2014(2019) 耐火制品X射線熒光光譜分析方法
- KS L 3316-2014 耐火制品X射線熒光光譜分析方法
- KS D 1686-2021 鐵合金的X射線熒光光譜分析方法
- KS L 3316-2019 耐火制品X射線熒光光譜分析方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
- JB/T 9401-1999 側(cè)窗熒光分析X射線管
- JB/T 11145-2011 X射線熒光光譜儀
德國(guó)機(jī)械工程師協(xié)會(huì)，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
- VDI/VDE 5575 BLATT 4-2018 X射線光學(xué)系統(tǒng) X射線反射鏡和X射線反射鏡系統(tǒng) 全反射鏡和多層反射鏡
- VDI/VDE 5575 BLATT 4-2017 X射線光學(xué)系統(tǒng) X射線反射鏡和X射線反射鏡系統(tǒng) 全反射鏡和多層反射鏡
- VDI/VDE 5575 BLATT 4:2018 射線光學(xué)系統(tǒng) X 射線反射鏡和 X 射線反射鏡系統(tǒng) 全反射鏡和多層反射鏡
- VDI VDE 5575 Blatt 4-2018 X射線光學(xué)系統(tǒng) 第4部分：X射線反射鏡
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-核工業(yè)，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
- EJ/T 767-1993 放射源激發(fā)的x射線熒光分析儀
- EJ/T 1068-1998 X射線熒光分析用钚238源
- EJ/T 1067-1998 X射線熒光分析用镅241源
- EJ/T 805-1993 X射線熒光分析用低能光子源
- EJ/T 684-1992 便攜式源激發(fā)X射線熒光分析儀
- EJ/T 684-2016 便攜式能量色散X射線熒光分析儀
國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 40110-2021 表面化學(xué)分析 全反射X射線熒光光譜法（TXRF）測(cè)定硅片表面元素污染
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-建材，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
- JC/T 1085-2008 水泥用X射線熒光分析儀
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-黑色冶金，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
- YB/T 4177-2008 爐渣 X射線熒光光譜分析方法
衛(wèi)生部國(guó)家職業(yè)衛(wèi)生標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GBZ 115-2002 X射線衍射和熒光分析儀衛(wèi)生防護(hù)標(biāo)準(zhǔn)
未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
中華人民共和國(guó)國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì)，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 36017-2018 無損檢測(cè)儀器 X射線熒光分析管
廣東省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
- DB44/T 1602-2015 石材成分分析方法--X射線熒光光譜法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-能源電力規(guī)劃，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
- DL/T 1151.22-2012 火力發(fā)電廠垢和腐蝕產(chǎn)物分析方法.第22部分：X-射線熒光光譜和X-射線衍射分析
臺(tái)灣地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
- CNS 11942-23-2000 銅及銅合金之熒光X射線分析法
工業(yè)和信息化部，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
- JB/T 14323-2021 X射線熒光分選機(jī)
巴林國(guó)家計(jì)量局，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
- BH GSO IEC 62495:2016 核儀器 采用微型 X 射線管的便攜式 X 射線熒光分析設(shè)備
阿曼規(guī)格和計(jì)量局，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
- OS GSO IEC 62495:2014 核儀器 采用微型 X 射線管的便攜式 X 射線熒光分析設(shè)備
美國(guó)機(jī)動(dòng)車工程師協(xié)會(huì)，關(guān)于全反射熒光x射線分析的標(biāo)準(zhǔn)
- SAE AMS2650-1984 熒光 X 射線檢查
- SAE AMS2650A-1991 熒光 X 射線檢查
