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オージェ電子線

オージェ電子線は全部で 7 項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)に関連している。

オージェ電子線 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類において、これらの分類：電気、磁気、電気および磁気測(cè)定、 総合電子部品、 分析化學(xué)、 光學(xué)機(jī)器、 光學(xué)および光學(xué)測(cè)定。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, オージェ電子線

• GB/T 31470-2015 オージェ電子分光法およびX線光電子分光法検査における検出信號(hào)に対応する試料面積を決める一般則
• GB/T 28893-2012 表面化學(xué)分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、ピーク強(qiáng)度の決定方法および結(jié)果報(bào)告に必要な情報(bào)
• GB/T 28632-2012 表面化學(xué)分析、オージェ電子分光法および X 線光電子分光法、橫方向分解能測(cè)定
• GB/T 29556-2013 表面化學(xué)分析 オージェ電子分光法およびX線光電子分光法 分析裝置で検出できる橫分解能、分析領(lǐng)域およびサンプル領(lǐng)域の決定
• GB/T 26533-2011 オージェ電子分光分析法の一般原理

Professional Standard - Electron, オージェ電子線

• SJ/T 10458-1993 オージェ電子分光法およびX線光電子分光法におけるサンプルハンドリングの標(biāo)準(zhǔn)ガイド

國(guó)家市場(chǎng)監(jiān)督管理總局、中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會(huì), オージェ電子線

• GB/T 41064-2021 表面化學(xué)分析 深さ方向プロファイリング 単層膜および多層膜を使用した X 線光電子分光法、オージェ電子分光法および二次イオン質(zhì)量分析法における深さ方向プロファイリングのスパッタリング率を決定する方法

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