aes+ 俄歇電子能譜
本專題涉及aes+ 俄歇電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)有55條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，aes+ 俄歇電子能譜涉及到分析化學(xué)、光學(xué)設(shè)備、光學(xué)和光學(xué)測量、金屬材料試驗(yàn)、電子元器件綜合、無損檢測、長度和角度測量。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，aes+ 俄歇電子能譜涉及到基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、金屬化學(xué)分析方法綜合、標(biāo)準(zhǔn)化、質(zhì)量管理、化學(xué)、光學(xué)測試儀器、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置。
法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于aes+ 俄歇電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- NF ISO 16242:2012 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜(AES)數(shù)據(jù)記錄和報(bào)告
- NF X21-072*NF ISO 16242:2012 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜術(shù)(AES)的記錄和報(bào)告數(shù)據(jù)
- NF ISO 24236:2006 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 能級的重復(fù)性和恒定性
GSO，關(guān)于aes+ 俄歇電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- BH GSO ISO 16242:2017 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 (AES) 中記錄和報(bào)告數(shù)據(jù)
- GSO ISO/TR 18394:2021 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 化學(xué)信息的推導(dǎo)
- OS GSO ISO 18516:2013 表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率的測定
- BH GSO ISO 18516:2016 表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率的測定
- GSO ISO 18516:2013 表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率的測定
- BH GSO ISO 21270:2016 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)度的線性
- GSO ISO 21270:2014 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)度的線性
- GSO ISO 16242:2015 表面化學(xué)分析 在俄歇電子能譜中記錄和報(bào)告數(shù)據(jù)
- OS GSO ISO 21270:2014 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)度的線性
未注明發(fā)布機(jī)構(gòu)，關(guān)于aes+ 俄歇電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN ISO 16242 E:2019-10 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜（AES）中的數(shù)據(jù)記錄和報(bào)告
德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會，關(guān)于aes+ 俄歇電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN ISO 16242:2020-05 表面化學(xué)分析 在俄歇電子能譜(AES)中記錄和報(bào)告數(shù)據(jù)
- DIN ISO 16242:2020 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜（AES）中的數(shù)據(jù)記錄和報(bào)告（ISO 16242:2011）；英文文本
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于aes+ 俄歇電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 16242:2011 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜術(shù)(AES)的記錄和報(bào)告數(shù)據(jù)
- ISO/TR 18394:2016 表面化學(xué)分析. 俄歇電子能譜學(xué). 提取化學(xué)信息
- ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于aes+ 俄歇電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 35158-2017 俄歇電子能譜儀檢定方法
- GB/T 32565-2016 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜（AES）數(shù)據(jù)記錄與報(bào)告的規(guī)范要求
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于aes+ 俄歇電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 26533-2011 俄歇電子能譜分析方法通則
- GB/T 28632-2012 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.橫向分辨率測定
- GB/Z 32494-2016 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 化學(xué)信息的解析
- GB/T 21006-2007 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)的線性
- GB/T 25187-2010 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜.選擇儀器性能參數(shù)的表述
SCC，關(guān)于aes+ 俄歇電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- 10/30199172 DC BS ISO 16242 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜法（AES）的數(shù)據(jù)記錄和報(bào)告
- DIN ISO 16242 E:2019 文件草案 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 (AES) 記錄和報(bào)告數(shù)據(jù) (ISO 16242:2011) 英文文本
- BS PD ISO/TR 18394:2006 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 化學(xué)信息的推導(dǎo)
- ASTM E983-04 最小化俄歇電子能譜中不需要的電子束效應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)指南
- BS ISO 15471:2004 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 所選儀器性能參數(shù)的描述
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機(jī)械，關(guān)于aes+ 俄歇電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- JB/T 6976-1993 俄歇電子能譜術(shù)元素鑒定方法
行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電子，關(guān)于aes+ 俄歇電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- SJ/T 10457-1993 俄歇電子能譜術(shù)深度剖析標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)則
- SJ/T 10458-1993 俄歇電子能譜術(shù)和X射線光電子能譜術(shù)的樣品處理標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)則
美國材料與試驗(yàn)協(xié)會，關(guān)于aes+ 俄歇電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E1127-08(2015) 俄歇電子能譜學(xué)中的深度壓形的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1127-08 俄歇電子能譜學(xué)中的深度壓形的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E996-10(2018) 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中數(shù)據(jù)報(bào)告的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
- ASTM E1127-91(1997) 俄歇電子能譜學(xué)中的深度壓形的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E996-19 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中數(shù)據(jù)報(bào)告的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)施規(guī)程
- ASTM E995-16 俄歇電子光譜和X射線光電子能譜背景減法技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E996-10 俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報(bào)告數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
- ASTM E996-04 俄歇電子光譜儀和X射線光電子能譜的報(bào)告數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
- ASTM E995-11 在俄歇電子能譜和X射線光電子能譜中應(yīng)用背景消除技術(shù)的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E996-94(1999) 俄歇電子能譜分析和X射線光電子光譜分析數(shù)據(jù)報(bào)告的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于aes+ 俄歇電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 36504-2018 印刷線路板表面污染物分析 俄歇電子能譜
- GB/T 36533-2018 硅酸鹽中微顆粒鐵的化學(xué)態(tài)測定 俄歇電子能譜法
RU-GOST R，關(guān)于aes+ 俄歇電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- GOST R ISO 16242-2016 確保測量一致性的國家系統(tǒng). 表面化學(xué)分析. 俄歇電子能譜學(xué) (AES) 的記錄和報(bào)告數(shù)據(jù)
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于aes+ 俄歇電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- PD ISO/TR 18394:2016 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 化學(xué)信息的推導(dǎo)
- BS ISO 18516:2006(2010) 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率的測定
- BS ISO 21270:2004(2010) 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)度線性度
- BS ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度尺度的線性
- BS ISO 15471:2016 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 所選儀器性能參數(shù)的描述
韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于aes+ 俄歇電子能譜的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D ISO 21270:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性
- KS D ISO 21270-2020 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)度線性度
- KS D ISO 15471-2020 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 所選儀器性能參數(shù)說明
- KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀強(qiáng)度標(biāo)度的線性
