單晶體X射線衍射分析
本專題涉及單晶體X射線衍射分析的標準有98條。
國際標準分類中，單晶體X射線衍射分析涉及到金屬材料試驗、分析化學、教育、無機化學、有色金屬、耐火材料、化工產(chǎn)品、金屬生產(chǎn)、塑料、輻射防護、光學和光學測量、無損檢測、電子學、半導體材料、職業(yè)安全、工業(yè)衛(wèi)生、建筑材料、陶瓷、空氣質(zhì)量、電站綜合。
在中國標準分類中，單晶體X射線衍射分析涉及到金屬物理性能試驗方法、化學試劑綜合、教學專用儀器、教育、學位、學銜、無機化工原料綜合、化學計量、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、電離輻射計量、輕金屬及其合金分析方法、耐火材料綜合、硅質(zhì)耐火材料、、金屬化學分析方法綜合、物質(zhì)成份分析儀器與環(huán)境監(jiān)測儀器綜合、合成樹脂、塑料基礎標準與通用方法、通用核儀器、金屬無損檢驗方法、化妝品、電子光學與其他物理光學儀器、放射衛(wèi)生防護、元素半導體材料、其他化工產(chǎn)品綜合、水泥、基礎標準與通用方法、Ｘ射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器、電力試驗技術。
國家質(zhì)檢總局，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- GB/T 42676-2023 半導體單晶晶體質(zhì)量的測試 X射線衍射法
- GB/T 30904-2014 無機化工產(chǎn)品 晶型結(jié)構(gòu)分析 X射線衍射法
- GB 16355-1996 X射線衍射儀和熒光分析儀放射防護標準
- GB/T 5225-1985 金屬材料定量相分析 X射線衍射K值法
PT-IPQ，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- E E 14-1971 X射線衍射分析
韓國科技標準局，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- KS M 0043-2009 X射線衍射分析法
- KS M 0043-2009(2019) X射線衍射分析的一般規(guī)則
行業(yè)標準-教育，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- JY/T 0587-2020 多晶體X射線衍射方法通則
- JY/T 0588-2020 單晶X射線衍射儀測定小分子化合物的晶體及分子結(jié)構(gòu)分析方法通則
- JY/T 008-1996 四圓單晶X射線衍射儀測定小分子化合物的晶體及分子結(jié)構(gòu)分析方法通則
- JY/T 009-1996 轉(zhuǎn)靶多晶體X射線衍身方法通則
中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- GB/T 34612-2017 藍寶石晶體X射線雙晶衍射搖擺曲線測量方法
國家計量檢定規(guī)程，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- JJG 629-1989 多晶X射線衍射儀檢定規(guī)程
- JJG 629-2014 多晶X射線衍射儀檢定規(guī)程
- JJG(地質(zhì)) 1014-1990 多晶X-射線衍射儀檢定規(guī)程
工業(yè)和信息化部，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- YS/T 1178-2017 鋁渣物相分析X射線衍射法
- YB/T 172-2020 硅磚定量相分析 X射線衍射法
行業(yè)標準-黑色冶金，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- YB/T 172-2000 硅磚定量相分析.X射線衍射法
- YB/T 5320-2006 金屬材料定量相分析 X射線衍射K值法
行業(yè)標準-有色金屬，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- YS/T 1178-2024 鋁灰渣物相分析 X射線衍射法
意大利統(tǒng)一標準化組織，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- UNI 6966:1971 通過X射線衍射進行多晶材料極性圖形的定量分析
- UNI 8144:1980 X射線衍射和熒光分析設備的輻射安全
- UNI EN 13925-2:2006 非破壞性檢測-X射線衍射法（多晶體和非晶態(tài)材料） 第2部分：程序
- UNI ISO 16258-2:2017 工作場所空氣 用X射線衍射法分析可吸入結(jié)晶二氧化硅 第2部分：間接分析法
- EC 1-2009 UNI EN 15305:2008 無損檢測.X射線衍射殘余應力分析試驗方法
日本工業(yè)標準調(diào)查會，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- JIS H 7805:2005 用X射線衍射儀測定金屬晶體中晶粒大小的方法
- JIS K 0131:1996 X射線衍射計測量分析的通用規(guī)則
國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標準化管理委員會，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- GB/T 37983-2019 晶體材料X射線衍射儀旋轉(zhuǎn)定向測試方法
- GB/T 36923-2018 珍珠粉鑒別方法 X射線衍射分析法
- GB/T 40407-2021 硅酸鹽水泥熟料礦相X射線衍射分析方法
行業(yè)標準-石油化工，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- SH/T 1827-2019 塑料 結(jié)晶度的測定 X射線衍射法
美國國家標準學會，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- ANSI N43.2-2001 X射線衍射和熒光分析設備的輻射安全
行業(yè)標準-機械，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- JB/T 11144-2011 X射線衍射儀
- JB/T 5482-2011 X射線晶體定向儀
德國機械工程師協(xié)會，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- VDI VDE 5575 Blatt 8-2013 X射線光學系統(tǒng) 單色器晶體
- VDI VDE 5575 Blatt 8-2019 X射線光學系統(tǒng) 單色儀晶體
英國標準學會，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- BS EN 13925-3:2005 無損檢驗.多晶和非晶材料的X射線衍射.儀器
- BS EN 13925-2:2003(2008) 無損檢驗.多晶和非晶材料的X射線衍射.程序
- BS EN 13925-3:2005(2009) 無損檢驗.多晶和非晶材料的X射線衍射.儀器
- BS EN 13925-2:2003 無損檢驗.多晶和非晶材料的X射線衍射.程序
- BS EN 13925-1:2003 無損檢驗.多晶和非晶材料的X射線衍射.通用原理
- BS EN 13925-1:2003(2008) 無損檢驗.多晶和非晶材料的X射線衍射.通用原理
- BS ISO 22278:2020 精細陶瓷（先進陶瓷、先進技術陶瓷） 采用平行X射線束X射線衍射法測定單晶薄膜（晶片）結(jié)晶質(zhì)量的測試方法
行業(yè)標準-能源，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- NB/SH/T 6033-2021 ZSM—22分子篩晶胞參數(shù)的測定 X射線衍射法
- NB/SH/T 6015-2020 ZSM-23分子篩晶胞參數(shù)的測定 X-射線衍射法
- NB/SH/T 6024-2021 ZSM—5分子篩相對結(jié)晶度的測定 X射線衍射法
- NB/SH/T 6058-2022 ZSM—22分子篩相對結(jié)晶度的測定 X射線衍射法
- NB/SH/T 0339-2021 八面沸石分子篩晶胞參數(shù)的測定 X射線衍射法
- NB/SH/T 0972-2018 SAPO-11分子篩晶胞參數(shù)的測定 粉末X射線衍射法
- NB/SH/T 0971-2018 SAPO-11分子篩相對結(jié)晶度的測定 粉末X射線衍射法
- NB/SH/T 0340-2022 八面沸石分子篩相對結(jié)晶度的測定 X射線衍射法
行業(yè)標準-農(nóng)業(yè)，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- 57藥典 四部-2020 0451 X射線衍射法
- 77藥典 四部-2015 0451 X射線衍射法
德國標準化學會，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- DIN 50433-1:1976 無機半導體材料的檢驗.第1部分:采用X射線衍射現(xiàn)象對單晶體取向的測定
- DIN EN 13925-2:2003 無損檢驗.多晶和非晶材料的X射線衍射.第2部分:程序
- DIN EN 13925-3:2005-07 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第3部分：儀器
- DIN EN 13925-1:2003 無損檢驗.多晶和非晶材料的X射線衍射.第1部分:總則
- DIN EN 13925-2:2003-07 無損檢測 - 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 - 第 2 部分：程序
- DIN EN 13925-3:2005 無損檢驗.多晶和非晶材料的X射線衍射.第3部分:儀器
- DIN EN 13925-1:2003-07 無損檢測 - 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 - 第 1 部分：一般原理
- DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 無損檢測 X射線衍射殘余應力分析試驗方法
丹麥標準化協(xié)會，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- DS/EN 13925-2:2003 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第2部分：程序
- DANSK DS/EN 13925-3:2005 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第3部分：儀器
- DS/EN 13925-3:2005 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第3部分：儀器
- DANSK DS/EN 13925-2:2003 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第2部分：程序
- DANSK DS/ISO/TS 23361:2024 納米技術 通過粉末X射線衍射（Rietveld分析）測纖維素納米材料的結(jié)晶度
- DS/EN 13925-1:2003 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分：一般原則
- DANSK DS/EN 13925-1:2003 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分：一般原則
行業(yè)標準-核工業(yè)，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- EJ/T 553-1991 礦物晶胞參數(shù)的測定粉末x射線衍射法
歐洲標準化委員會，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- EN 13925-3:2005 無損檢驗.多晶和非晶材料的X射線衍射.第3部分:儀器
- EN 13925-2:2003 無損檢測.多晶和非晶材料的X射線衍射.第2部分:程序
衛(wèi)生部國家職業(yè)衛(wèi)生標準，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- GBZ 115-2002 X射線衍射和熒光分析儀衛(wèi)生防護標準
法國標準化協(xié)會，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 無損檢驗.多晶和非晶材料的X射線衍射.第3部分:儀器
- NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 無損檢驗 多晶和非晶材料的X射線衍射 第2部分：程序
- NF EN 1330-11:2007 無損檢測 - 術語 - 第 11 部分：多晶和非晶材料的 X 射線衍射
- NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 無損檢驗.多晶和非晶材料的X射線衍射.第1部分:基本原則
- NF X43-600-2*NF ISO 16258-2:2015 工作場所空氣 通過 X 射線衍射分析可吸入結(jié)晶二氧化硅 第2部分：間接分析法
- NF EN 13925-2:2003 無損檢測 - X 射線衍射應用于多晶和非晶材料 - 第 2 部分：程序
立陶宛標準局，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- LST EN 13925-2-2004 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第2部分：程序
- LST EN 13925-3-2005 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第3部分：儀器
- LST EN 13925-1-2004 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分：一般原則
西班牙標準化協(xié)會，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- UNE-EN 13925-3:2006 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第3部分：儀器
- AENOR UNE-EN 13925-3:2006 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第3部分：儀器
- UNE-EN 13925-2:2004 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第2部分：程序
- AENOR UNE-EN 13925-1:2006 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分：一般原則
- UNE-EN 13925-1:2006 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分：一般原則
挪威標準，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- NS-EN 13925-3:2005 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第3部分：儀器
- NS-EN 13925-2:2003 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第2部分：程序
- NS-EN 13925-1:2003 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分：一般原則
國家計量技術規(guī)范，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- JJF 1256-2010 X射線單晶體定向儀校準規(guī)范
國際標準化組織，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- ISO 22278:2020 精細陶瓷（高級陶瓷 高級工業(yè)陶瓷）.用平行X射線束X射線衍射法測定單晶薄膜（晶片）結(jié)晶質(zhì)量的試驗方法
- ISO/TS 23361:2024 納米技術 通過粉末X射線衍射測定纖維素納米材料的結(jié)晶度（Rietveld分析）
行業(yè)標準-航空，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- HB 6742-1993 單晶葉片晶體取向的測定X射線背射勞厄照相法
IT-UNI，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- UNI 6966-1971 通過X射線的衍射進行多晶體中的極面圖形數(shù)量測定
巴林國家計量局，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- BH GSO ISO 16258-2:2022 工作場所空氣 通過 X 射線衍射分析可吸入結(jié)晶二氧化硅 第2部分：間接分析法
海灣阿拉伯國家合作委員會標準組織，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- GSO ISO 16258-2:2021 工作場所空氣 通過 X 射線衍射分析可吸入結(jié)晶二氧化硅 第2部分：間接分析法
行業(yè)標準-能源電力規(guī)劃，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- DL/T 1151.22-2012 火力發(fā)電廠垢和腐蝕產(chǎn)物分析方法.第22部分：X-射線熒光光譜和X-射線衍射分析
瑞典標準研究所，關于單晶體X射線衍射分析的標準
- SS-EN 1330-11:2007 無損檢測 術語 第11部分：多晶和非晶材料X射線衍射用術語
