x射線衍射分析05

本專題涉及x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)有289條。

國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線衍射分析05涉及到分析化學(xué)、有色金屬、耐火材料、輻射防護、化工產(chǎn)品、職業(yè)安全、工業(yè)衛(wèi)生、無機化學(xué)、建筑材料、電站綜合、無損檢測、空氣質(zhì)量、非金屬礦、粒度分析、篩分、復(fù)合增強材料、詞匯、半導(dǎo)體材料、金屬材料試驗、黑色金屬、輻射測量、光學(xué)和光學(xué)測量、教育、涂料配料、核能工程、鋼鐵產(chǎn)品、電子管、金屬礦、鐵合金、醫(yī)療設(shè)備、實驗室醫(yī)學(xué)、有色金屬產(chǎn)品、土方工程、挖掘、地基構(gòu)造、地下工程、電工和電子試驗。

在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，x射線衍射分析05涉及到化學(xué)試劑綜合、輕金屬及其合金分析方法、硅質(zhì)耐火材料、耐火材料綜合、通用核儀器、化妝品、金屬無損檢驗方法、放射衛(wèi)生防護、無機化工原料綜合、水泥、電力試驗技術(shù)、金相檢驗方法、石油地質(zhì)勘探、重金屬及其合金分析方法、工業(yè)防塵防毒技術(shù)、生產(chǎn)環(huán)境安全衛(wèi)生設(shè)施、非金屬礦、篩分、篩板與篩網(wǎng)、、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、物質(zhì)成份分析儀器與環(huán)境監(jiān)測儀器綜合、犯罪鑒定技術(shù)、核儀器與核探測器綜合、電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、教學(xué)專用儀器、Ｘ射線、磁粉、熒光及其他探傷儀器、放射源、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、教育、學(xué)位、學(xué)銜、光學(xué)儀器綜合、鋼鐵與鐵合金分析方法、輻射防護儀器、大氣環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、金屬化學(xué)分析方法綜合、化學(xué)、其他電真空器件、鐵礦、同位素與放射源綜合、無機鹽、半金屬與半導(dǎo)體材料綜合、鋼鐵產(chǎn)品綜合、水泥混合材與外加劑、稀有輕金屬及其合金、建材產(chǎn)品綜合、混凝土、集料、灰漿、砂漿、物理學(xué)與力學(xué)、輻射防護監(jiān)測與評價、氧化物、單質(zhì)、半導(dǎo)體分立器件綜合、涂料基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器。

PT-IPQ，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• E E 14-1971 X射線衍射分析

韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• KS M 0043-2009 X射線衍射分析法
• KS M 0043-2009(2019) X射線衍射分析的一般規(guī)則
• KS M 0043-2019 射線衍射分析的一般規(guī)則
• KS M 0017-2010 X射線熒光分析法通則
• KS L 5222-2009 水泥的熒光X.射線分析方法
• KS D 1898-1993 銅合金熒光X射線分析方法
• KS D 1654-1993 鋼鐵X射線熒光光譜分析通則
• KS D 1654-2003(2016) 鋼鐵X射線熒光光譜分析通則
• KS D 2710-2019 鈮鐵的X射線熒光光譜分析法
• KS E 3045-2002(2007) 鐵礦石的如何X射線熒光分析
• KS L 5222-2019 X射線熒光水泥化學(xué)分析方法
• KS D 1654-2021 鋼鐵X射線熒光光譜分析通則
• KS D 1655-1993 鋼鐵的X射線熒光光譜分析方法
• KS M 0017-1995 X射線熒光光譜分析的一般規(guī)則
• KS D 1898-2019 銅合金的X射線熒光光譜法分析
• KS D 1655-2019 鋼鐵的X射線熒光光譜分析方法
• KS M 0017-2020 X射線熒光光譜分析的一般規(guī)則
• KS L 3316-2014 耐火制品X射線熒光光譜分析方法
• KS D 1686-2011(2021) 鐵合金的x射線熒光光譜分析方法
• KS L 3316-2014(2019) 耐火制品X射線熒光光譜分析方法
• KS L 3316-1998 耐火制品X射線熒光光譜分析方法
• KS L 3316-1988 耐火制品X射線熒光光譜分析方法
• KS D 1686-2021 鐵合金的X射線熒光光譜分析方法
• KS L 3316-2019 耐火制品X射線熒光光譜分析方法
• KS D ISO 14706-2003(2018) 表面化學(xué)分析-全反射X-射線熒光分析儀測定硅片表面元素雜質(zhì)
• KS L 5222-2009(2019) 通過x射線熒光水泥的化學(xué)分析方法
• KS D 1656-1991 鐵素體不銹鋼的 X 射線熒光分析方法
• KS M 1068-2005 使用熒光X-射線分析的有毒物質(zhì)的定性/定量分析
• KS E 3076-2017 硅石和硅砂的X射線熒光光譜分析方法
• KS E 3076-2022 硅石和硅砂的X射線熒光光譜分析方法
• KS D 2597-1996(2021) 鋯及鋯合金的X射線熒光光譜分析方法
• KS D 2597-2021 鋯及鋯合金的X射線熒光光譜分析方法

工業(yè)和信息化部，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• YS/T 1178-2017 鋁渣物相分析X射線衍射法
• YB/T 172-2020 硅磚定量相分析 X射線衍射法
• YS/T 1344.3-2020 摻錫氧化銦粉化學(xué)分析方法 第3部分：物相分析 X射線衍射分析法
• YS/T 1160-2016 工業(yè)硅粉定量相分析 二氧化硅含量的測定 X射線衍射K值法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-黑色冶金，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• YB/T 172-2000 硅磚定量相分析.X射線衍射法
• YB/T 5320-2006 金屬材料定量相分析 X射線衍射K值法
• YB/T 5336-2006 高速鋼中碳化物相的定量分析 X射線衍射儀法
• YB/T 4177-2008 爐渣 X射線熒光光譜分析方法

美國國家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• ANSI N43.2-2001 X射線衍射和熒光分析設(shè)備的輻射安全
• ANSI/HPS N43.2-2021 射線衍射和熒光分析設(shè)備的輻射安全

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 36923-2018 珍珠粉鑒別方法 X射線衍射分析法
• GB/T 40407-2021 硅酸鹽水泥熟料礦相X射線衍射分析方法

日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)調(diào)查會，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• JIS K 0131:1996 X射線衍射計測量分析的通用規(guī)則
• JIS K 0181:2021 表面化學(xué)分析 水的全反射X射線熒光分析
• JIS A 1481-3:2014 建筑材料產(chǎn)品中石棉的測定.第3部分:X-射線衍射法對含有石棉的定量分析
• JIS G 1256:1997 鋼鐵.X射線熒光光譜分析法
• JIS H 1292:2018 銅合金.X射線熒光分光分析法
• JIS M 8205:2000 鐵礦石.X射線熒光光譜儀分析
• JIS H 1292:2005 銅合金的X射線熒光分光分析法
• JIS R 2216:2005 耐火制品X射線熒光光譜分析法
• JIS A 1481-3 AMD 1:2022 建筑材料產(chǎn)品中石棉的測定. 第3部分: X-射線衍射法對含有石棉的定量分析(修改件1)
• JIS H 1631:2008 鈦合金.X射線熒光光譜測定分析法
• JIS G 1256 AMD 1:2010 鋼鐵.X射線熒光光譜測定分析方法
• JIS G 1351:2006 鐵合金.X-射線熒光光譜測定分析法
• JIS H 1292:1997 銅和銅合金的X射線熒光光譜分析法
• JIS H 1287:2015 鎳和鎳合金. X射線熒光光譜分析方法
• JIS G 1256 AMD 2:2013 鋼鐵.X射線熒光光譜分析法(修改件2)

國家質(zhì)檢總局，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• GB 16355-1996 X射線衍射儀和熒光分析儀放射防護標(biāo)準(zhǔn)
• GB/T 30904-2014 無機化工產(chǎn)品 晶型結(jié)構(gòu)分析 X射線衍射法
• GB/T 19140-2003 水泥X射線熒光分析通則
• GB/T 42360-2023 表面化學(xué)分析 水的全反射X射線熒光光譜分析
• GB/T 13710-1992 分析用X射線管空白詳細(xì)規(guī)范
• GB/T 19421.1-2003 層狀結(jié)晶二硅酸鈉試驗方法 δ相層狀結(jié)晶二硅酸鈉定性分析 X射線衍射儀法
• GB/T 24576-2009 高分辯率X射線衍射測量GaAs襯底生長的AlGaAs中Al成分的試驗方法
• GB/T 19500-2004 X射線光電子能譜分析方法通則
• GB/T 30704-2014 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南
• GB/T 6609.32-2009 氧化鋁化學(xué)分析方法和物理性能測定方法.第32部分:α-三氧化二鋁含量的測定.X-射線衍射法
• GB/T 18873-2002 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線 能譜定量分析通則
• GB/T 18873-2008 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線能譜定量分析通則

衛(wèi)生部國家職業(yè)衛(wèi)生標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• GBZ 115-2002 X射線衍射和熒光分析儀衛(wèi)生防護標(biāo)準(zhǔn)

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-電力，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• DL/T 1151.22-2012 火力發(fā)電廠垢和腐蝕產(chǎn)物分析方法.第22部分：X-射線熒光光譜和X-射線衍射分析

德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 無損檢測 X射線衍射殘余應(yīng)力分析試驗方法
• DIN EN 15305:2009-01 無損檢測 X射線衍射殘余應(yīng)力分析試驗方法
• DIN EN 15305:2009 無損檢測.X射線衍射法對殘余應(yīng)力分析用試驗方法
• DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009 無損檢驗 使用X射線衍射法進行分析殘余應(yīng)力分析的試驗方法
• DIN 51418-1:2008 X射線光譜測定法.X射線散射和X射線熒光分析(XRF).第1部分:定義和基本原理
• DIN 51418-2:2015 X射線光譜分析.X射線散射和X射線熒光分析(RFA).第2部分:定義和測量、校準(zhǔn)及評估的基本原則
• DIN 51418-2:1996 X射線光譜分析.X射線散射和X射線熒光分析(RFA).第2部分:定義和測量、校準(zhǔn)及評估的基本原則
• DIN EN 12698-2:2007 氮化物結(jié)合碳化硅耐火材料的化學(xué)分析.第2部分:X射線衍射(XRD)法
• DIN 51418-1:2008-08 射線光譜測定 X 射線發(fā)射和 X 射線熒光分析(XRF)第1部分：定義和基本原理
• DIN 51418-1:1996 X光射線光譜測定法.X光射線散射和X光射線熒光分析(RFA).第1部分:定義和基本原理
• DIN 51418-2:2015-03 X 射線光譜測定 X 射線發(fā)射和 X 射線熒光分析(XRF)第2部分：測量、校準(zhǔn)和結(jié)果評估的定義和基本原則
• DIN EN 13925-2:2003 無損檢驗.多晶和非晶材料的X射線衍射.第2部分:程序
• DIN EN 13925-1:2003 無損檢驗.多晶和非晶材料的X射線衍射.第1部分:總則
• DIN EN 13925-3:2005 無損檢驗.多晶和非晶材料的X射線衍射.第3部分:儀器
• DIN EN 13925-3:2005-07 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第3部分：儀器
• DIN EN 13925-2:2003-07 無損檢測 - 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 - 第 2 部分：程序
• DIN IEC 62495:2011 核儀器.使用微型X射線管的便攜式X射線熒光分析設(shè)備(IEC 62495-2011)
• DIN EN 13925-1:2003-07 無損檢測 - 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 - 第 1 部分：一般原理
• DIN 51418-2 Bb.1:2000 X射線光度法.X射線散射和X射線熒光分析(XRF).第2部分:定義和測量、校準(zhǔn)及對結(jié)果評定的基本原理.附加信息和計算范例
• DIN EN 1330-11:2007-09 無損檢測 術(shù)語 第11部分：多晶和非晶材料 X 射線衍射中使用的術(shù)語
• DIN ISO 16129:2020-11 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 X射線光電子能譜儀日常性能評估程序

法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• NF EN 15305:2009 無損檢測 X射線衍射殘余應(yīng)力分析試驗方法
• NF T25-111-3:1991 碳纖維-織構(gòu)和結(jié)構(gòu)-第3部分：X 射線衍射的方位角分析
• NF A09-185*NF EN 15305:2009 無損檢測.用X射線衍射對殘余應(yīng)力分析的試驗方法
• NF A09-285:1999 無損試驗.通過X射線衍射進行殘余應(yīng)力分析的試驗方法
• NF B49-422-2*NF EN 12698-2:2008 氮化物結(jié)合碳化硅耐火材料的化學(xué)分析.第2部分:X射線衍射(XRD)法.
• NF X43-600-2*NF ISO 16258-2:2015 工作場所空氣 通過 X 射線衍射分析可吸入結(jié)晶二氧化硅 第2部分：間接分析法
• NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 無損檢驗.多晶和非晶材料的X射線衍射.第3部分:儀器
• NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 無損檢驗 多晶和非晶材料的X射線衍射 第2部分：程序
• NF EN 1330-11:2007 無損檢測 - 術(shù)語 - 第 11 部分：多晶和非晶材料的 X 射線衍射
• NF X43-600-1*NF ISO 16258-1:2015 工作場所空氣 通過 X 射線衍射分析可吸入結(jié)晶二氧化硅 第1部分：直接過濾法
• NF ISO 22262-3:2017 空氣質(zhì)量固體材料第3部分：X射線衍射法定量測定石棉
• NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 無損檢驗.多晶和非晶材料的X射線衍射.第1部分:基本原則
• NF X43-066-3*NF ISO 22262-3:2017 空氣質(zhì)量 散裝材料 第3部分：用 X 射線衍射法定量測定石棉
• NF EN 13925-2:2003 無損檢測 - X 射線衍射應(yīng)用于多晶和非晶材料 - 第 2 部分：程序
• NF ISO 16258-2:2015 工作場所空氣 通過 X 射線衍射測定結(jié)晶二氧化硅的可吸入部分 第2部分：間接分析方法
• NF EN 13925-3:2005 無損檢測-應(yīng)用于多晶和非晶材料的X射線衍射-第3部分：設(shè)備
• NF ISO 16258-1:2015 工作場所空氣 X 射線衍射法測定結(jié)晶二氧化硅的可吸入部分 第1部分：直接過濾分析方法
• NF EN 13925-1:2003 無損檢測 - X 射線衍射應(yīng)用于多晶和非晶材料 - 第 1 部分：一般原理
• NF A09-020-11*NF EN 1330-11:2007 無損檢測.術(shù)語.第11部分:多結(jié)晶和非結(jié)晶材料中X射線衍射用術(shù)語
• NF S92-502:2006 醫(yī)用生物分析實驗室.人類輻射學(xué).肺計數(shù).低能X-射線和α-射線發(fā)射器(小于200 keV)
• NF X21-071:2011 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜法.分析用導(dǎo)則
• NF EN ISO 12677:2011 X射線熒光法耐火材料化學(xué)分析-熔珠法

SCC，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• DANSK DS/EN 15305:2008 無損檢測.X射線衍射殘余應(yīng)力分析試驗方法
• DANSK DS/EN 15305/AC:2009 無損檢測-X射線衍射殘余應(yīng)力分析的測試方法
• NS-EN 15305:2008 無損檢測 X 射線衍射殘余應(yīng)力分析的測試方法
• AENOR UNE-EN 15305:2010 無損檢測-X射線衍射殘余應(yīng)力分析的測試方法
• 05/30137047 DC EN 15305 無損檢測 X射線衍射殘余應(yīng)力分析試驗方法
• DANSK DS/ISO 17867:2020 粒度分析 小角 X 射線散射 (SAXS)
• BS DD ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角X射線散射法
• DIN 51418-1 E:2007 X 射線光譜測定 X 射線發(fā)射和 X 射線熒光分析 (XRF) 第1部分：定義和基本原理 草案
• NS-EN 13925-3:2005 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第3部分：儀器
• DANSK DS/EN 13925-3:2005 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第3部分：儀器
• NS-EN 13925-2:2003 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第2部分：程序
• DANSK DS/EN 13925-2:2003 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第2部分：程序
• AENOR UNE-EN 13925-3:2006 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第3部分：儀器
• DIN 51418-2 E:2014 X 射線光譜測定 X 射線發(fā)射和 X 射線熒光分析 (XRF) 第2部分：測量、校準(zhǔn)和結(jié)果評估的定義和基本原則 草案
• DANSK DS/EN 13925-1:2003 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分：一般原則
• NS-EN 13925-1:2003 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分：一般原則
• AENOR UNE-EN 13925-1:2006 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分：一般原則
• 10/30156853 DC BS EN 62495 核儀器儀表 使用微型 X 射線管的便攜式 X 射線熒光分析設(shè)備
• AENOR UNE-EN 13925-2:2004 非破壞性論文 X 射線衍射適用于多晶和非晶材料 第2部分：程序
• 04/19973037 DC BS EN 1330-11 無損檢測 術(shù)語 第11部分 多晶和非晶態(tài)材料的 X 射線衍射
• DIN IEC 62495 E:2010 核儀器 利用微型 X 射線管的便攜式 X 射線熒光分析設(shè)備（IEC 45/702/CDV:2010） 草案
• 09/30191895 DC BS ISO 10810 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南
• DIN 51418-2 Supplement 1:2000 射線光譜測定 X 射線發(fā)射和 X 射線熒光分析 (XRF) 第2部分：測量、校準(zhǔn)和結(jié)果評估的定義和基本原則 附加信息和計算示例

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-石油，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• SY/T 5163-1995 沉積巖粘土礦物相對含量X射線衍射分析方法
• SY/T 5163-2010 沉積巖中黏土礦物和常見非黏土礦物X射線衍射分析方法
• SY/T 6210-1996 沉積巖中粘土礦物總量和常見非粘土礦物X射線衍射定量分析方法

英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• BS EN 15305:2008(2009) 無損檢測 X 射線衍射殘余應(yīng)力分析的試驗方法
• BS ISO 16258-2:2015 工作場所空氣. 使用X射線衍射法分析可吸入石英. 間接分析法
• BS EN 15305:2008 無損檢驗.使用X射線衍射分析剩余應(yīng)力的試驗方法
• BS ISO 17867:2015 粒徑分析. 小角X射線散射
• BS ISO 17867:2020 粒度分析 小角 X 射線散射 (SAXS)
• DD ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角X射線散射法
• BS ISO 16258-1:2015 工作場所空氣. 使用X射線衍射法分析可吸入石英. 直接過濾法
• BS DD ISO/TS 13762:2002 粒徑分析.小角度X射線散射法
• BS ISO 20289:2018 表面化學(xué)分析 水的全反射X射線熒光分析
• BS ISO 13424:2013 表面化學(xué)分析.X射線光譜.薄膜分析報表
• BS ISO 10810:2019 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南
• BS ISO 10810:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜法.分析指南
• BS ISO 16129:2018 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 X 射線光電子能譜儀日常性能評估程序
• BS EN 12698-2:2007 和碳化硅耐熔制品結(jié)合的氮化物的化學(xué)分析.射線衍射(XRD)法
• PD ISO/TS 18507:2015 表面化學(xué)分析 全反射 X 射線熒光光譜在生物和環(huán)境分析中的應(yīng)用
• BS PD ISO/TS 18507:2015 表面化學(xué)分析. 全反射X射線熒光光譜法在生物和環(huán)境分析中的使用
• BS ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評估規(guī)程

丹麥標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• DS/EN 15305/AC:2009 無損檢測 用 X 射線衍射分析殘余應(yīng)力的試驗方法
• DS/EN 15305:2008 無損檢測 用 X 射線衍射分析殘余應(yīng)力的試驗方法
• DS/EN 13925-2:2003 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第2部分：程序
• DS/EN 13925-3:2005 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第3部分：儀器
• DS/EN 13925-1:2003 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分：一般原則

立陶宛標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• LST EN 15305-2008 無損檢測 用 X 射線衍射分析殘余應(yīng)力的試驗方法
• LST EN 15305-2008/AC-2009 無損檢測 用 X 射線衍射分析殘余應(yīng)力的試驗方法
• LST EN 13925-3-2005 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第3部分：儀器
• LST EN 13925-2-2004 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第2部分：程序
• LST EN 13925-1-2004 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分：一般原則

AENOR，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• UNE-EN 15305:2010 無損檢測 用 X 射線衍射分析殘余應(yīng)力的試驗方法
• UNE-EN 13925-2:2004 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第2部分：程序
• UNE-EN 13925-3:2006 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第3部分：儀器
• UNE-EN 13925-1:2006 無損檢測 多晶和非晶材料的 X 射線衍射 第1部分：一般原則
• UNE-EN 1330-11:2008 無損檢測 術(shù)語 第11部分：多晶和非晶材料的 X 射線衍射中使用的術(shù)語

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-海關(guān)，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• HS/T 12-2006 滑石、綠泥石、菱鎂石混合相的定量分析 X 射線衍射儀法

國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• ISO 17867:2015 粒徑分析. 小角X射線散射
• ISO/TS 13762:2001 粒度分析 小角度X射線濺射法
• ISO 17867:2020 粒度分析.小角度X射線散射（SAXS）
• ISO 20289:2018 表面化學(xué)分析.水的全反射X射線熒光分析
• ISO 16258-2:2015 工作場所的空氣. 采用X射線衍射分析可吸入結(jié)晶二氧化硅. 第2部分: 間接分析法
• ISO 16258-1:2015 工作場所的空氣. 采用X射線衍射分析可吸入結(jié)晶二氧化硅. 第1部分: 直接過濾法
• ISO 10810:2019 表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜分析指南
• ISO 22262-3:2016 空氣質(zhì)量.散裝材料.第3部分：用X射線衍射法對石棉的定量測定
• ISO 10810:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜學(xué).分析導(dǎo)則
• ISO 16129:2018 表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜 - 評估X射線光電子能譜儀日常性能的方法
• ISO/TS 18507:2015 表面化學(xué)分析. 全反射X射線熒光光譜法在生物和環(huán)境分析中的使用
• ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評估規(guī)程

GSO，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• GSO ISO 17867:2017 粒度分析 小角X射線散射
• OS GSO ISO 17867:2017 粒度分析 小角X射線散射
• GSO ISO 16258-2:2021 工作場所空氣 通過 X 射線衍射分析可吸入結(jié)晶二氧化硅 第2部分：間接分析法
• BH GSO ISO 16258-2:2022 工作場所空氣 通過 X 射線衍射分析可吸入結(jié)晶二氧化硅 第2部分：間接分析法
• BH GSO IEC 62495:2016 核儀器 采用微型 X 射線管的便攜式 X 射線熒光分析設(shè)備
• OS GSO IEC 62495:2014 核儀器 采用微型 X 射線管的便攜式 X 射線熒光分析設(shè)備
• GSO ISO 16258-1:2021 工作場所空氣 通過 X 射線衍射分析可吸入結(jié)晶二氧化硅 第1部分：直接過濾法
• BH GSO ISO 16258-1:2022 工作場所空氣 通過 X 射線衍射分析可吸入結(jié)晶二氧化硅 第1部分：直接過濾法
• GSO ISO 22262-3:2021 空氣質(zhì)量散裝材料 第3部分：X射線衍射法定量測定石棉
• BH GSO ISO 22262-3:2022 空氣質(zhì)量散裝材料 第3部分：X射線衍射法定量測定石棉
• GSO ISO 10810:2013 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析說明
• OS GSO ISO 10810:2013 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜分析指南
• BH GSO ISO 10810:2016 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜分析指南
• GSO ISO 16129:2014 表面化學(xué)分析 納米 X 射線光譜 評估納米 X 射線光譜日常性能的程序
• GSO IEC 62495:2014 核測量儀器和設(shè)備 使用微型 X 射線管進行 X 射線分析的移動熒光設(shè)備
• GSO ISO 29581-2:2013 水泥 測試方法 第2部分：X射線化學(xué)分析
• GSO IEC 61335:2014 核儀器 用于 X 射線熒光分析的井儀器
• GSO ISO 15472:2013 表面化學(xué)分析 X射線光譜 能量計校準(zhǔn)
• GSO ISO 12677:2014 X射線熒光熱產(chǎn)品化學(xué)分析 -熔鑄珠法
• OS GSO ISO 16129:2014 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 評估X射線光電子能譜儀日常性能的程序
• BH GSO ISO 16129:2015 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 評估X射線光電子能譜儀日常性能的程序
• BH GSO IEC 61335:2016 核儀器 用于 X 射線熒光分析的鉆孔裝置
• OS GSO IEC 61335:2014 核儀器 用于 X 射線熒光分析的鉆孔裝置
• GSO ISO 13424:2015 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結(jié)果報告
• OS GSO ISO 13424:2015 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結(jié)果報告
• BH GSO ISO 13424:2017 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 薄膜分析結(jié)果報告

中國團體標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• T/CSTM 00166.2-2020 石墨烯材料表征 第2部分 X射線衍射法
• T/CASAS 014-2021 碳化硅襯底基平面彎曲的測定 高分辨X射線衍射法

美國材料與試驗協(xié)會，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• ASTM E3294-22 用粉末X射線衍射法對地質(zhì)材料進行法醫(yī)分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
• ASTM E3294-23 用粉末X射線衍射法對地質(zhì)材料進行法醫(yī)學(xué)分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
• ASTM E1621-21 X射線發(fā)射光譜分析標(biāo)準(zhǔn)指南
• ASTM D5380-93(2003) 通過X射線衍射分析鑒定涂料中結(jié)晶顏料和擴展劑的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
• ASTM D5380-93(2021) 通過X射線衍射分析鑒定涂料中結(jié)晶顏料和擴展劑的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
• ASTM E1085-95(2004) 金屬的X射線輻射光譜測定分析試驗方法
• ASTM E1085-95(2000) 金屬的X射線輻射光譜測定分析試驗方法
• ASTM E1085-95(2004)e1 金屬的X射線輻射光譜測定分析試驗方法
• ASTM E1621-05 X射線發(fā)散光譜分析標(biāo)準(zhǔn)指南
• ASTM E572-94(2000) 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM E572-02a(2006)e1 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM E572-02a(2006) 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM E572-02a 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM E1361-90(1999) X射線光譜分析中入射效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南
• ASTM E572-94(2000)e1 不銹鋼X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM E1361-02(2021) X射線光譜分析中入射效應(yīng)校正的標(biāo)準(zhǔn)指南
• ASTM E322-96e1 低合金鋼和鑄鐵的X射線發(fā)射光譜測定分析法
• ASTM C1365-06(2011) 用X射線粉末衍射分析法測定硅酸鹽水泥和硅酸鹽水泥熔渣階段比的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM C1365-06 用X射線粉末衍射分析法測定硅酸鹽水泥和硅酸鹽水泥熔渣階段比的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM C1365-98 用X射線粉末衍射分析測定硅酸鹽水泥和硅酸鹽水泥熔渣的階段比例的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM C1365-98(2004) 用X射線粉末衍射分析測定硅酸鹽水泥和硅酸鹽水泥熔渣的階段比例的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法
• ASTM C1365-18 使用X射線粉末衍射分析法測定波特蘭水泥和波特蘭水泥熟料中相的比例的標(biāo)準(zhǔn)測試方法
• ASTM D5381-93(2003) 顏料和填充劑的X射線螢光(XRF)光譜分析
• ASTM D5381-93(1998) 顏料和填充劑的X射線螢光(XRF)光譜分析
• ASTM E322-96(2004) 低合金鋼和鑄鐵的X射線發(fā)射光譜分析的標(biāo)準(zhǔn)測試方法

國家能源局，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• SY/T 5163-2018 沉積巖中黏土礦物和常見非黏土礦物X射線衍射分析方法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-能源，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• NB/SH/T 6015-2020 ZSM-23分子篩晶胞參數(shù)的測定 X-射線衍射法
• NB/SH/T 6033-2021 ZSM—22分子篩晶胞參數(shù)的測定 X射線衍射法
• NB/SH/T 6024-2021 ZSM—5分子篩相對結(jié)晶度的測定 X射線衍射法
• NB/SH/T 0339-2021 八面沸石分子篩晶胞參數(shù)的測定 X射線衍射法

RU-GOST R，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• GOST 28033-1989 鋼.X射線熒光分析法
• GOST R 55410-2013 耐火材料. X射線熒光(XRF)分析
• GOST R ISO 16258-1-2017 工作場所空氣 通過 X 射線衍射分析可吸入結(jié)晶二氧化硅 第 1 部分. 直接過濾法
• GOST R 55080-2012 鑄鐵. X射線熒光光譜(XRF)分析法
• GOST 16865-1979 X射線結(jié)構(gòu)和光譜分析裝置.術(shù)語和定義

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-公共安全標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• GA/T 1422-2017 法庭科學(xué)常見火炸藥組分檢驗 X射線衍射法

歐洲標(biāo)準(zhǔn)化委員會，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• EN 12698-2:2007 氮化物結(jié)合碳化硅耐火材料的化學(xué)分析.第2部分:X射線衍射(XRD)法
• EN 15305:2008 無損檢驗.使用X射線衍射分析剩余應(yīng)力的試驗方法.合并勘誤表-2009年1月
• EN 13925-2:2003 無損檢測.多晶和非晶材料的X射線衍射.第2部分:程序
• EN 13925-3:2005 無損檢驗.多晶和非晶材料的X射線衍射.第3部分:儀器
• EN 13925-1:2003 無損檢驗.多晶體材料和無定形材料的X射線衍射.第1部分:一般原理

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-核工業(yè)，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• EJ/T 767-1993 放射源激發(fā)的x射線熒光分析儀
• EJ/T 1067-1998 X射線熒光分析用镅241源
• EJ/T 1068-1998 X射線熒光分析用钚238源
• EJ/T 805-1993 X射線熒光分析用低能光子源
• EJ/T 684-1992 便攜式源激發(fā)X射線熒光分析儀
• EJ/T 684-2016 便攜式能量色散X射線熒光分析儀

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-機械，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• JB/T 9401-1999 側(cè)窗熒光分析X射線管
• JB/T 9399-1999 X射線分析儀器主參數(shù)系列
• JB/T 9399-2010 X射線分析儀器主參數(shù)系列

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-教育，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• JY/T 0588-2020 單晶X射線衍射儀測定小分子化合物的晶體及分子結(jié)構(gòu)分析方法通則
• JY/T 008-1996 四圓單晶X射線衍射儀測定小分子化合物的晶體及分子結(jié)構(gòu)分析方法通則

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-建材，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• JC/T 1085-2008 水泥用X射線熒光分析儀

澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• AS 2879.3:2010 氧化鋁 第 3 部分：通過 X 射線衍射測定 α 氧化鋁含量

KR-KS，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• KS D 1655-2008(2019)(英文版) 鋼鐵的X射線熒光分析方法
• KS D ISO 14706-2003(2023) 表面化學(xué)分析-全反射X射線熒光分析儀測定硅晶片表面元素雜質(zhì)

國際電工委員會，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• IEC 62495:2011 核監(jiān)測儀表.利用微型X-射線管的便攜式X-射線熒光分析設(shè)備
• IEC 61335:1997 核儀器 X射線熒光分析法用鉆孔設(shè)備

VDE - VDE Verlag GmbH@ Berlin@ Germany，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• VDE 0412-20-2011 核儀器 使用微型 X 射線管的便攜式 X 射線熒光分析設(shè)備（IEC 62495:2011）

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-農(nóng)業(yè)，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• SN/T 3323.7-2023 氧化鐵皮 第7部分：游離α-SiO2含量的測定 X射線衍射K值法

未注明發(fā)布機構(gòu)，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• DIN 51418-2 E:2014-06 Ｘ射線光譜測定 X 射線發(fā)射和 X 射線熒光分析(XRF)第2部分：測量、校準(zhǔn)和結(jié)果評估的定義和基本原則
• DIN ISO 16129 E:2020-01 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜-評估X射線光電子能譜儀的日常性能的程序

中華人民共和國國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• GB/T 36017-2018 無損檢測儀器 X射線熒光分析管

臺灣地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• CNS 11942.23-2000 銅及銅合金之螢光X射線分析法
• CNS 11942-23-2000 銅及銅合金之熒光X射線分析法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-商品檢驗，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• SN/T 2649.2-2010 進出口化妝品中石棉的測定 第2部分：X射線衍射-偏光顯微鏡法
• SN/T 3011.1-2011 X射線衍射法鑒別金屬礦產(chǎn)類進口固體廢物物相.第1部分：通則
• SN/T 2649.1-2010 進出口化妝品中石棉的測定 第1部分：X射線衍射-掃描電子顯微鏡法

海關(guān)總署，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• SN/T 3011.1-2020 X射線衍射法鑒別金屬礦產(chǎn)類進口固體廢物物相 第1部分：通則

廣東省標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• DB44/T 1602-2015 石材成分分析方法--X射線熒光光譜法

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-有色金屬，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• YS/T 869-2013 4A沸石化學(xué)成分分析方法 X射線熒光法

美國電氣電子工程師學(xué)會，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• IEEE 759-1984 半導(dǎo)體X射線能譜分析器的試驗程序

行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)-地質(zhì)，關(guān)于x射線衍射分析05的標(biāo)準(zhǔn)

• DZ/T 0370-2021 便攜式X射線熒光現(xiàn)場分析技術(shù)規(guī)程

本站其他標(biāo)準(zhǔn)專題： x射線衍射分析05，x射線衍射 衍射 分析，x 射線衍射分析，X射線衍射分析，x射線衍射 分析，x射線 衍射 分析，粉末x射線衍射分析，x射線衍射 結(jié)構(gòu) 分析，x射線衍射分析結(jié)構(gòu)，x射線衍射分析應(yīng)力，x射線衍射結(jié)構(gòu)分析，x射線衍射分析 光譜，x射線衍射分析 結(jié)構(gòu)，粉末 x 射線衍射分析，x射線衍射粉末分析，x射線衍射 粉末 分析，x射線衍射分析設(shè)備，x射線衍射礦物分析，分析x射線衍射光譜，x射線衍射分析方法。

 

可能用到的儀器設(shè)備