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質譜分析分子量

本專題涉及質譜分析分子量的標準有500條。

國際標準分類中,質譜分析分子量涉及到塑料、分析化學、實驗室醫(yī)學、金屬材料試驗、詞匯、粒度分析、篩分、標準化總則、粉末冶金、有色金屬、橡膠和塑料用原料、教育、醫(yī)療設備、水質、有機化學、耐火材料、肥料、燃料、化工產(chǎn)品、無損檢測、質量、有色金屬產(chǎn)品、核能工程、食品試驗和分析的一般方法、木工設備、黑色金屬、金屬礦、土質、土壤學、紡織產(chǎn)品、光學和光學測量、空氣質量、光學設備、微生物學、長度和角度測量、鐵合金、煤、工業(yè)自動化系統(tǒng)、無機化學、肉、肉制品和其他動物類食品、冶金、印制電路和印制電路板、水果、蔬菜及其制品、預包裝食品和精制食品。

在中國標準分類中,質譜分析分子量涉及到合成樹脂、塑料基礎標準與通用方法、基礎標準與通用方法、醫(yī)用化驗設備、化學試劑綜合、物理學與力學、貴金屬及其合金分析方法、其他物質成份分析儀器、電化學、熱化學、光學式分析儀器、合成橡膠基礎標準與通用方法、化學、教學專用儀器、有機化工原料綜合、石油、天然氣綜合、輕金屬及其合金分析方法、重金屬及其合金分析方法、石油地質勘探、重金屬及其合金、、貴金屬及其合金、其他鋼鐵產(chǎn)品、粉末冶金分析方法、水環(huán)境有毒害物質分析方法、煤焦油加工產(chǎn)品、教育、學位、學銜、稀有高熔點金屬及其合金、稀有輕金屬及其合金、化肥、化學土壤調(diào)理劑、電子光學與其他物理光學儀器、植物保護、標準化、質量管理、貴金屬礦、光學計量、稀有金屬及其合金分析方法、篩分、篩板與篩網(wǎng)、物性分析儀器、土壤、水土保持、合成樹脂、塑料、質譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、大氣環(huán)境有毒害物質分析方法、鋼鐵與鐵合金分析方法、航空與航天用金屬鑄鍛材料、重金屬礦、耐火材料綜合、鋼鐵產(chǎn)品綜合、電子技術專用材料、土壤環(huán)境質量分析方法、半金屬及半導體材料分析方法、化工專用儀器儀表、一般有機化工原料、堿性耐火材料、技術管理、核材料、核燃料及其分析試驗方法、印制電路、基礎學科綜合、電磁計量、工程技術特性標準物質。


法國標準化協(xié)會,關于質譜分析分子量的標準

  • NF T30-711:2011 塑料.基質輔助激光解吸/電離飛行時間質譜分析(MALDI-TOF-MS)的聚合物分子量和分子量分布的測定.
  • NF T51-241:2011 塑料.利用矩陣輔助激光解析/電離渡越時間質譜分析法進行聚合物樣本分子質量和分子質量分布的測定(MALDI-TOF-MS).
  • NF ISO 17560:2006 表面化學分析 二次離子質譜分析 通過厚度分析確定硅中硼的劑量
  • NF X11-672:1996 粒度分析.相關光量子光譜學
  • NF ISO 14237:2010 表面化學分析 二次離子質譜分析 使用均勻摻雜材料的硅中硼原子的劑量
  • NF EN ISO 22892:2011 太陽質量 色譜和質譜分析組合物鑒定的指導方針
  • NF EN 13615:2002 錫錠分析方法 原子光譜法測定99.90%和99.85%錫中雜質含量
  • NF X21-003:2006 微光束分析.電子探針顯微分析.波長分布X射線光譜測量法定量分析指南
  • NF EN 1784:2003 食品產(chǎn)品 食品離子脂質含量檢測 碳氫化合物相色譜分析
  • NF U44-145:1984 肥料.鎂含量的測定.原子吸收光譜分析法
  • NF X21-004*NF ISO 22309:2012 微束分析.原子數(shù)目為11(鈉)或更多元素用采用能量分布光譜(EDS)的定量分析
  • NF EN 26777:1993 水質.亞硝酸鹽用量.分子吸收光譜法
  • NF X21-051*NF ISO 17560:2006 表面化學分析 再生離子質量的光譜測定 硅中硼的深仿形方法
  • NF X21-006:2007 微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測量法進行塊狀樣品的定量點分析
  • NF X31-439*NF EN ISO 22892:2011 土壤質量.利用氣象色譜法和質譜分析法識別目標化合物指南.
  • NF ISO 17973:2006 表面化學分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標度的校準
  • NF X43-025:1988 空氣質量.環(huán)境空氣.多環(huán)芳烴的測定.高壓液相色譜分析和氣相色譜分析測定
  • NF EN 12938:2000 物品制造用錫的分析方法。用原子光譜法測定合金和雜質的含量
  • NF X21-054*NF ISO 17973:2006 表面化學分析.中分辨率螺旋電子光譜儀.元素分析用能量標度的校準
  • NF X21-066*NF ISO 23812:2009 表面化學分析 次級離子質譜分析法 用多δ層參考物質對硅進行深度校準的方法
  • NF ISO 23830:2009 表面化學分析 二次離子質譜 二次離子靜態(tài)質譜中相對強度標度的重復性和穩(wěn)定性
  • NF X21-013*NF ISO 11938:2012 微光束分析.電子探針微量分析(EPMA).應用波長色散光譜學進行元素映射分析方法
  • NF X21-070*NF ISO 14237:2010 表面化學分析.二次離子質譜.用均勻摻雜物質測定硅中硼的原子濃度.
  • NF X31-171:2011 土質.利用堿性消化和帶光譜光度測量探測的離子色譜分析法測定土壤材料中鉻(VI)含量.
  • NF T51-241:2018 塑料 通過基質輔助激光解吸/電離飛行時間質譜法(MALDI-TOF-MS)測定聚合物種類的分子質量和分子質量分布
  • NF EN 1785:2003 食品 含有脂質的離子化食品的檢測 2-烷基細胞丁酮的氣相色譜/質譜分析
  • NF X21-071:2011 表面化學分析.X射線光電子能譜法.分析用導則
  • NF M60-404:1998 核子級質量二氧化钚中钚含量的測定.重量分析法
  • NF V03-155:2010 食品分析.高效液相色譜法.質譜法/質譜法(HPLC-MS/MS)試驗方法.

英國標準學會,關于質譜分析分子量的標準

  • BS ISO 13084:2018 表面化學分析 二次離子質譜分析 飛行時間二次離子質譜儀的質量標度校準
  • BS ISO 17862:2022 表面化學分析 二次離子質譜分析 單離子計數(shù)飛行時間質量分析儀中強度標度的線性
  • BS ISO 13084:2011 表面化學分析.二次離子質譜.飛行時間二次離子質譜用質量標度的校準
  • 20/30409963 DC BS ISO 17862 表面化學分析 二次離子質譜分析 單離子計數(shù)飛行時間質量分析儀中強度標度的線性
  • BS ISO 17862:2013 表面化學分析.次級離子質譜法.單離子計數(shù)飛行時間質量分析器強度標的線性
  • BS ISO 20411:2018 表面化學分析 二次離子質譜分析 單離子計數(shù)動態(tài)二次離子質譜飽和強度校正方法
  • BS ISO 23420:2021 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜分析能量分辨率的測定方法
  • BS ISO 17560:2002 表面化學分析.再生離子質量光譜測定.硅中硼的深仿形分析法
  • BS ISO 17560:2014 表面化學分析.再生離子質量光譜測定.硅中硼的深仿形分析法
  • BS ISO 24639:2022 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜元素分析能量標度的校準程序
  • 20/30380369 DC BS ISO 23420 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜分析能量分辨率的測定方法
  • BS ISO 12406:2010 表面化學分析.二次離子質譜分析法.硅中砷的深度剖析法
  • BS ISO 16564:2004 天然橡膠.用粒度分離色譜法測定平均分子質量和分子質量分布
  • BS ISO 11938:2012 微束分析 電子探針微量分析 使用波長色散光譜進行元素圖譜分析的方法
  • 21/30404763 DC BS ISO 24639 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜元素分析能量標度的校準程序
  • BS ISO 22415:2019 表面化學分析 二次離子質譜分析 有機材料氬簇濺射深度剖析中產(chǎn)量體積的測定方法
  • BS EN 12938:2000 錫鉛合金分析方法.原子光譜法測定合金和雜質元素含量
  • BS EN 12938:2000(2001) 錫鉛合金分析方法.原子光譜法測定合金和雜質元素含量
  • BS ISO 18118:2015 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 使用實驗確定的相對靈敏度因子進行均質材料定量分析的指南
  • BS DD ENV ISO 13530:1999 水質量.水分析用的分析質量控制指南
  • BS ISO 16014-2:2012 塑料.用粒度排除色譜法測定平均分子質量和分子質量分布.通用校準法
  • BS ISO 16014-4:2012 塑料. 使用排阻色譜法測定聚合物的平均分子質量和分子質量分布. 高溫法
  • DD ENV ISO 13530:1999 水質.水分析的分析質量控制指南
  • 23/30461294 DC BS ISO 18118 表面化學分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 使用實驗確定的相對靈敏度因子進行均質材料定量分析的指南
  • BS ISO 22489:2007 微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測量法作塊狀樣品的定量點分析
  • BS ISO 22489:2016 微光束分析.電子探針微量分析.用波長色散X-射線光譜測量法作塊狀樣品的定量點分析
  • BS ISO 22048:2004 表面化學分析 靜態(tài)二次離子質譜的信息格式
  • BS DD ENV 13800:2000 鉛及鉛合金.無鉛基質分離的火焰原子吸收光譜分析法(FAAS)或感應耦合等離子體發(fā)射光譜分析法(ICP-ES)
  • BS ISO 19463:2018 微束分析 電子探針微量分析儀(EPMA) 執(zhí)行質量保證程序的指南
  • BS ISO 16014-3:2012 塑料.用粒度排除色譜法測定高聚物的平均分子質量和分子質量分布.低溫法
  • BS EN 16274:2021 過敏原分析方法。氣相色譜-質譜法定量分析注射用香料中57種疑似過敏原
  • BS EN 15111:2007 食品.微量元素的測定.ICP-MS(感應耦合等離子體質譜分析法)測定碘含量
  • BS ISO 18118:2005 表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質材料定量分析用實驗室測定相對敏感性系數(shù)的使用指南
  • BS ISO 17973:2016 表面化學分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標度的校準
  • BS ISO 10810:2019 表面化學分析 X射線光電子能譜 分析指南
  • PD ISO/TR 23173:2021 表面化學分析 電子能譜 納米粒子涂層的厚度和成分的測量
  • BS ISO 22048:2005 表面化學分析.靜態(tài)次生離子質譜法的信息格式
  • PD ISO/TS 15338:2020 表面化學分析 輝光放電質譜分析 運營流程
  • BS ISO 14595:2023 微束分析 電子探針微量分析 有證標準物質 (CRM) 規(guī)范指南
  • BS ISO 17109:2022 表面化學分析 深度剖析 使用單層和多層薄膜的 X 射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質譜濺射深度分析中濺射速率的測定方法...
  • 21/30433862 DC BS ISO 17109 AMD1 表面化學分析 深度剖析 使用單一和……的 X 射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質譜濺射深度分析中濺射速率測定方法
  • BS ISO 17973:2003 表面化學分析.中分辨率螺旋電子光譜儀.元素分析用能量標度的校準
  • BS ISO 23812:2009 表面化學分析.次級離子質譜分析法.用多δ層基準物質對硅進行深度校準的方法
  • BS ISO 17858:2007 水質.二惡英類多氯聯(lián)苯的測定.用氣相色譜分析/質譜測量的方法
  • BS ISO 10810:2010 表面化學分析.X射線光電子能譜法.分析指南
  • BS ISO 14237:2010 表面化學分析.二次離子質譜.用均勻摻雜物質測定硅中硼的原子濃度
  • BS EN ISO 15192:2021 土質 利用堿性消化和帶光譜光度測量探測的離子色譜分析法測定土壤材料中鉻(VI)含量
  • BS EN ISO 10927:2011 塑料.基質輔助激光解吸附/電離飛行時間質譜法(MALDI-TOF-MS)測定聚合物種類的分子質量及分子質量分布
  • BS EN ISO 10927:2018 塑料 基質輔助激光解吸附/電離飛行時間質譜法(MALDI-TOF-MS)測定聚合物種類的分子質量及分子質量分布
  • BS PD ISO/TS 8000-81:2021 數(shù)據(jù)質量 數(shù)據(jù)質量評估 分析
  • PD ISO/TS 8000-81:2021 數(shù)據(jù)質量 數(shù)據(jù)質量評估 分析
  • BS ISO 14595:2003 微光束分析.電子探測微量分析.合格的參考物質的規(guī)范指南
  • BS ISO 14595:2014 微光束分析.電子探測微量分析.合格的參考物質的規(guī)范指南

國際標準化組織,關于質譜分析分子量的標準

  • ISO/TS 22933:2022 表面化學分析.二次離子質譜法.模擬離子質譜中質量分辨率的測量方法
  • ISO 13084:2011 表面化學分析.二次離子質譜分析法.飛行時間二次離子質譜儀用質量標度的校準
  • ISO 17470:2004 微光束分析.電子探針顯微分析.波長分散X射線光譜法分析質量點的指南
  • ISO 23420:2021 微束分析.分析電子顯微鏡.電子能量損失譜分析用能量分辨率的測定方法
  • ISO 178:1975 表面化學分析.二次離子質譜法.單離子計數(shù)飛行時間質量分析儀中強度標度的線性
  • ISO 17862:2013 表面化學分析——二次離子質譜法——單離子計數(shù)飛行時間質量分析儀中強度標度的線性
  • ISO 178:2019 表面化學分析.二次離子質譜法.單離子計數(shù)飛行時間質量分析儀中強度標度的線性
  • ISO 17862:2022 表面化學分析.二次離子質譜法.單離子計數(shù)飛行時間質量分析儀中強度標度的線性
  • ISO 22309:2006 微電子束分析.用能量散射光譜儀(EDS)進行定量分析
  • ISO 12406:2010 表面化學分析.二次離子質譜分析法.硅中砷的深度剖析法
  • ISO 13084:2018 表面化學分析 - 二次離子質譜法 - 用于飛行時間二次離子質譜儀的質譜的校準
  • ISO 16564:2004 天然橡膠.由尺寸排除色譜法測定平均分子質量和分子質量分布
  • ISO 17560:2014 表面化學分析 - 二次離子質譜法 - 硅在硅中深度分析的方法
  • ISO 24639:2022 微束分析.分析電子顯微鏡.用電子能量損失光譜法進行元素分析的能量標度校準程序
  • ISO 18118:2004 表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質材料定量分析用實驗室測定相對敏感性因子的使用指南
  • ISO 18118:2015 表面化學分析.俄歇電子光譜法和X射線光電子光譜法.同質材料定量分析用實驗室測定相對敏感性因子的使用指南
  • ISO/DIS 18118:2023 表面化學分析 俄歇電子能譜和 X 射線光電子能譜 使用實驗確定的相對靈敏度因子進行均質材料定量分析的指南
  • ISO/FDIS 18118:2023 表面化學分析 - 俄歇電子能譜和 X 射線光電子能譜 - 使用實驗確定的相對靈敏度因子進行均質材料定量分析的指南
  • ISO 22489:2006 微光束分析.電子探針微量分析.運用波長色散X射線光譜測量法定量分析塊狀樣品
  • ISO 22489:2016 微光束分析.電子探針微量分析.運用波長色散X射線光譜測量法定量分析塊狀樣品
  • ISO 22048:2004 表面化學分析——靜態(tài)二次離子質譜信息格式
  • ISO 16014-4:2003 塑料.用粒度排除色譜法測定平均分子質量和分子質量分布.第4部分:高溫法
  • ISO 16014-4:2012 塑料.用粒度排除色譜法測定平均分子質量和分子質量分布.第4部分:高溫法
  • ISO 11938:2012 微束分析. 電子探針微量分析. 使用波長色散光譜對元素映射的分析方法
  • ISO 16564:2004/Amd 1:2006 天然生膠.用尺寸排除色譜法(SEC)測定平均分子質量和分子質量分布.修改件1
  • ISO 16014-2:2003 塑料.用粒度排除色譜法測定平均分子質量和分子質量分布.第2部分:通用校準法
  • ISO 16014-2:2012 塑料.用粒度排除色譜法測定平均分子質量和分子質量分布.第2部分:通用校準法
  • ISO 17560:2002 表面化學分析.再生離子質量的光譜測定.硅中硼的深仿形方法
  • ISO 13321:1996 粒度分析 相關光子光譜學
  • ISO/CD 17973 表面化學分析 中分辨率俄歇電子能譜儀 元素分析能量標度的校準
  • ISO 10810:2019 表面化學分析 - X射線光電子能譜分析指南
  • ISO 17470:2014 微束分析. 電子探針微量分析. 用波長色散X射線光譜測定法定性點分析指南
  • ISO/DIS 14594 微束分析“電子探針微量分析”波長色散光譜實驗參數(shù)確定指南
  • ISO/PRF 14595 微束分析“電子探針微量分析”認證標準物質(CRM)規(guī)范指南
  • ISO 14595:2023 微束分析 電子探針微量分析 有證標準物質(CRM)規(guī)范指南
  • ISO 16014-1:2012 塑料.用尺寸篩析色譜法測定聚合物的平均分子量和分子量分布.第1部分:通則
  • ISO 16014-3:2003 塑料.用粒度排除色譜法測定高聚物的平均分子質量和分子質量分布.第3部分:低溫法
  • ISO 16014-3:2012 塑料.用粒度排除色譜法測定高聚物的平均分子質量和分子質量分布.第3部分:低溫法
  • ISO 17973:2016 表面化學分析.中分辨率螺旋電子光譜儀.元素分析用能量標度的校準
  • ISO 17973:2002 表面化學分析.中分辨率螺旋電子光譜儀.元素分析用能量標度的校準
  • ISO 10810:2010 表面化學分析.X射線光電子能譜學.分析導則
  • ISO 16014-1:2003 塑料.用尺寸排除色譜法測定聚合物的平均分子質量和分子質量分布.第1部分:一般原則
  • ISO 14237:2010 表面化學分析.二次離子質譜.用均勻摻雜物質測定硅中硼的原子濃度
  • ISO 14237:2000 表面化學分析 二次離子質譜 用均勻摻雜物質測定硅中硼的原子濃度
  • ISO 15192:2010 土質.利用堿性消化和帶光譜光度測量探測的離子色譜分析法測定土壤材料中鉻(VI)含量
  • ISO 15192:2021 土質.利用堿性消化和帶光譜光度測量探測的離子色譜分析法測定土壤材料中鉻(VI)含量
  • ISO 10927:2011 塑料.用輔助矩陣激光吸附/電離飛行時間質譜法測定聚合物物種的分子質量和分子質量分布
  • ISO 10927:2018 塑料.用輔助矩陣激光吸附/電離飛行時間質譜法測定聚合物物種的分子質量和分子質量分布
  • ISO 7627-6:1985 硬質合金 火焰原子吸收光譜法的化學分析 第6部分:鉻含量(0.0%~2%m/m)的測定
  • ISO 7530-3:1990 鎳合金 火焰原子吸收光譜分析第3部分:鉻含量的測定

國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標準化管理委員會,關于質譜分析分子量的標準

  • GB/T 40129-2021 表面化學分析 二次離子質譜 飛行時間二次離子質譜儀質量標校準
  • GB/T 41072-2021 表面化學分析 電子能譜 紫外光電子能譜分析指南
  • GB/T 40109-2021 表面化學分析 二次離子質譜 硅中硼深度剖析方法
  • GB/T 38397-2019 煤焦油 組分含量的測定 氣相色譜-質譜聯(lián)用和熱重分析法
  • GB/T 40374-2021 硬質合金化學分析方法 鉛量和鎘量的測定 火焰原子吸收光譜法和電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法
  • GB/T 29732-2021 表面化學分析 中等分辨俄歇電子能譜儀 元素分析用能量標校準
  • GB/T 7739.14-2019 金精礦化學分析方法 第14部分:鉈量的測定 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法和電感耦合等離子體質譜法
  • GB/T 39486-2020 化學試劑 電感耦合等離子體質譜分析方法通則
  • GB/T 40798-2021 離子型稀土原礦化學分析方法 稀土總量的測定 電感耦合等離子體質譜法
  • GB/T 39285-2020 鈀化合物分析方法 氯含量的測定 離子色譜法
  • GB/T 41064-2021 表面化學分析 深度剖析 用單層和多層薄膜測定X射線光電子能譜、俄歇電子能譜和二次離子質譜中深度剖析濺射速率的方法

國家藥監(jiān)局,關于質譜分析分子量的標準

日本工業(yè)標準調(diào)查會,關于質譜分析分子量的標準

  • JIS K 0157:2021 表面化學分析. 二次離子質譜法. 渡越時間二次離子質譜儀的質量標度的校準
  • JIS K 0190:2010 微光束分析.電子探針顯微分析.波長分散X射線光譜法對質量點分析用指南
  • JIS K 0155:2018 表面化學分析 二次離子質譜法 單離子計數(shù)時間飛行質量分析儀中強度刻度的線性度
  • JIS K 0164:2023 表面化學分析二次離子質譜硅中硼深度分析方法
  • JIS K 0167:2011 表面化學分析.俄歇電子光譜和X射線光電子能譜學.勻質材料定量分析用實驗室測定相對敏感因子的使用指南
  • JIS K 0127:1992 離子色譜儀分析通則
  • JIS K 0127:2001 離子色譜法分析通則
  • JIS K 0127:2013 離子色譜法分析通則
  • JIS K 0118:1979 質譜分析的一般規(guī)則
  • JIS K 0133:2022 ICP-質譜分析的一般規(guī)則
  • JIS K 0123:1995 氣相色譜質譜聯(lián)用計分析法通則
  • JIS H 1630:1995 鈦的原子發(fā)射光譜分析法
  • JIS H 1683:2002 鉭.原子吸收光譜分析方法
  • JIS H 1630:1975 鈦的原子發(fā)射光譜分析法
  • JIS Z 8826:2005 粒徑分析.光子關聯(lián)能譜法
  • JIS K 7252-3:2008 塑料.用尺寸排阻色譜法測定高聚物平均分子質量和分子質量分布.第3部分:低溫法
  • JIS K 7252-4:2008 塑料.用尺寸排阻色譜法測定高聚物平均分子質量和分子質量分布.第4部分:高溫法
  • JIS K 7252-3:2016 塑料.用尺寸排阻色譜法測定高聚物平均分子質量和分子質量分布.第3部分:低溫法
  • JIS K 7252-4:2016 塑料.用尺寸排阻色譜法測定高聚物平均分子質量和分子質量分布.第4部分:高溫法
  • JIS K 0158:2021 表面化學分析. 二次離子質譜法. 單離子計數(shù)動態(tài)二次離子質譜法中飽和強度的校正方法
  • JIS K 0168:2011 表面化學分析.靜態(tài)二次離子質譜法用信息格式
  • JIS K 0164:2010 表面化學分析.再生離子質量的光譜測定.硅中硼的深壓型用方法
  • JIS K 0165:2011 表面化學分析.中分辨率螺旋電子光譜儀.元素分析用能量標度的校準
  • JIS K 7252-2:2008 塑料.用尺寸排阻色譜法測定高聚物平均分子質量和分子質量分布.第2部分:通用校準法
  • JIS K 7252-2:2016 塑料.用尺寸排阻色譜法測定高聚物平均分子質量和分子質量分布.第2部分:通用校準法
  • JIS G 1257:1994 鋼鐵.原子吸收光譜分析方法
  • JIS K 0136:2004 高效液相色譜法/質譜分析法一般規(guī)則
  • JIS K 0136:2015 高效液相色譜法/質譜分析法一般規(guī)則
  • JIS K 0153:2015 表面化學分析. 二次離子質譜法. 靜態(tài)二次離子質譜法中相對強度范圍的重復性和穩(wěn)定性

韓國科技標準局,關于質譜分析分子量的標準

工業(yè)和信息化部,關于質譜分析分子量的標準

  • YS/T 1497-2021 鉑化合物分析方法 雜質陰離子含量測定 離子色譜法
  • YS/T 1496-2021 鈀化合物分析方法 雜質陰離子含量測定 離子色譜法
  • YS/T 870-2020 純鋁化學分析方法 痕量雜質元素含量的測定 電感耦合等離子體質譜法
  • YS/T 1261-2018 鉿化學分析方法 雜質元素含量的測定 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法
  • YS/T 474-2021 高純鎵化學分析方法 痕量元素的測定 電感耦合等離子體質譜法
  • YS/T 1050.10-2016 鉛銻精礦化學分析方法 第10部分 鉈量的測定 電感耦合等離子體質譜法和電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法
  • YS/T 445.14-2019 銀精礦化學分析方法 第14部分:鉈含量的測定 電感耦合等離子體質譜法和電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法
  • HG/T 5831-2021 化工用在線氣體質譜分析儀
  • XB/T 623.2-2018 鈰鐵合金化學分析方法 第1部分:稀土雜質量的測定 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法
  • XB/T 624.1-2018 釔鐵合金化學分析方法 第1部分:稀土雜質量的測定 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法
  • XB/T 623.1-2018 鈰鐵合金化學分析方法 第1部分:稀土雜質量的測定 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法
  • YS/T 1171.13-2021 再生鋅原料化學分析方法 第13部分:鉈含量的測定 電感耦合等離子體質譜法和電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法
  • YS/T 461.12-2016 混合鉛鋅精礦化學分析方法 第12部分:鉈量的測定 電感耦合等離子體質譜法和電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法
  • YS/T 630-2016 氧化鋁化學分析方法 雜質元素含量的測定 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法

澳大利亞標準協(xié)會,關于質譜分析分子量的標準

  • AS ISO 17560:2006 表面化學分析.次級離子質譜測量法.硅中注入硼的深度分布分析法
  • AS ISO 22048:2006 表面化學分析.靜止次級離子質譜測量法用信息格式
  • AS ISO 18118:2006 表面化學分析.俄歇電子能譜法和X射線光電子光譜法.均質材料定量分析中實驗測定的相對靈敏系數(shù)使用指南
  • AS 4549.1:1999 粒度分析.光子關聯(lián)光譜學

國家質檢總局,關于質譜分析分子量的標準

  • GB/T 29858-2013 分子光譜多元校正定量分析通則
  • GB/T 28634-2012 微束分析.電子探針顯微分析.塊狀試樣波譜法定量點分析
  • GB/T 15249.5-1994 合質金化學分析方法 冷原子吸收光譜法測定汞量
  • GB/T 17359-2012 微束分析.能譜法定量分析
  • GB/T 6041-2020 質譜分析方法通則
  • GB/T 6041-2002 質譜分析方法通則
  • GB/T 15249.5-2009 合質金化學分析方法.第5部分:汞量的測定.冷原子吸收光譜法
  • GB/T 20255.5-2006 硬質合金化學分析方法.鉻量的測定.火焰原子吸收光譜法
  • GB/T 32055-2015 微束分析 電子探針顯微分析 波譜法元素面分析
  • GB/T 32495-2016 表面化學分析 二次離子質譜 硅中砷的深度剖析方法
  • GB/T 29732-2013 表面化學分析 中等分辨率俄歇電子譜儀 元素分析用能量標校準
  • GB/Z 35959-2018 液相色譜-質譜聯(lián)用分析方法通則
  • GB/T 25186-2010 表面化學分析.二次離子質譜.由離子注入?yún)⒖嘉镔|確定相對靈敏度因子
  • GB/T 15337-1994 原子吸收光譜分析法通則
  • GB/T 15337-2008 原子吸收光譜分析法通則
  • GB/T 19627-2005 粒度分析 光子相關光譜法
  • GB/T 42699.1-2023 紡織品 某些動物毛纖維蛋白質組定性和定量分析 第1部分: 還原蛋白質多肽分析液相色譜質譜(LC-ESI-MS)法
  • GB/T 20725-2006 波譜法定性點分析電子探針顯微分析導則
  • GB/T 30704-2014 表面化學分析 X射線光電子能譜 分析指南
  • GB/T 13747.27-2020 鋯及鋯合金化學分析方法 第27部分:痕量雜質元素的測定 電感耦合等離子體質譜法
  • GB/T 15244-2013 微束分析 硅酸鹽玻璃的定量分析 波譜法及能譜法
  • GB/T 20255.3-2006 硬質合金化學分析方法.鉬、鈦和釩量的測定.火焰原子吸收光譜法
  • GB/T 6901.10-2004 硅質耐火材料化學分析方法 第10部分;火焰原子吸收光譜法測定氧化錳量
  • GB/T 26533-2011 俄歇電子能譜分析方法通則
  • GB/T 20176-2006 表面化學分析.二次離子質譜.用均勻摻雜物質測定硅中硼的原子濃度
  • GB/T 29731-2013 表面化學分析 高分辨俄歇電子能譜儀 元素和化學態(tài)分析用能量標校準
  • GB/T 4333.8-1988 硅鐵化學分析方法 原子吸收光譜法測定鈣量
  • GB/T 20255.1-2006 硬質合金化學分析方法.鈣、鉀、鎂和鈉量的測定.火焰原子吸收光譜法
  • GB/T 20255.2-2006 硬質合金化學分析方法.鈷、鐵、錳和鎳量的測定.火焰原子吸收光譜法
  • GB/T 5070.11-2002 鎂鉻質耐火材料化學分析方法 第11部分;火焰原子吸收光譜法 測定氧化錳量
  • GB/T 14849.4-2014 工業(yè)硅化學分析方法 第4部分:雜質元素含量的測定 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法
  • GB/T 5069.5-2001 鎂質及鎂鋁(鋁鎂)質耐火材料化學分析方法 火焰原子吸收光譜法測定氧化鐵量
  • GB/T 5069.10-2001 鎂質及鎂鋁(鋁鎂)質耐火材料化學分析方法 火焰原子吸收光譜法測定氧化鈣量
  • GB/T 5069.12-2001 鎂質及鎂鋁(鋁鎂)質耐火材料化學分析方法 火焰原子吸收光譜法測定氧化錳量
  • GB/T 4325.3-2013 鉬化學分析方法 第3部分:鉍量的測定 原子熒光光譜法
  • GB/T 4325.4-2013 鉬化學分析方法 第4部分:錫量的測定 原子熒光光譜法
  • GB/T 4325.5-2013 鉬化學分析方法 第5部分:銻量的測定 原子熒光光譜法
  • GB/T 4325.6-2013 鉬化學分析方法 第6部分:砷量的測定 原子熒光光譜法

KR-KS,關于質譜分析分子量的標準

臺灣地方標準,關于質譜分析分子量的標準

AT-ON,關于質譜分析分子量的標準

行業(yè)標準-地質,關于質譜分析分子量的標準

  • DZ/T 0064.81-2021 地下水質分析方法 第81部分:汞量的測定原子熒光光譜法
  • DZ/T 0064.28-2021 地下水質分析方法 第28部分:鉀、鈉、鋰和銨量的測定 離子色譜法
  • DZ/T 0064.11-2021 地下水質分析方法 第11部分:砷量的測定 氫化物發(fā)生—原子熒光光譜法
  • DZ/T 0064.38-2021 地下水質分析方法 第38部分:硒量的測定氫化物發(fā)生-原子熒光光譜法
  • DZ/T 0064.80-2021 地下水質分析方法 第80部分:鋰、銣、銫等40個元素量的測定 電感耦合等離子體質譜法
  • DZ/T 0279.8-2016 區(qū)域地球化學樣品分析方法 第8部分:鉈量測定 電感耦合等離子體質譜法
  • DZ/T 0279.6-2016 區(qū)域地球化學樣品分析方法 第6部分:鈾量測定 電感耦合等離子體質譜法
  • DZ/T 0279.16-2016 區(qū)域地球化學樣品分析方法 第16部分:鍺量測定 電感耦合等離子體質譜法
  • DZ/T 0279.7-2016 區(qū)域地球化學樣品分析方法 第7部分:鉬量測定 電感耦合等離子體質譜法
  • DZ/T 0279.24-2016 區(qū)域地球化學樣品分析方法 第24部分:碘量測定 電感耦合等離子體質譜法
  • DZ/T 0279.5-2016 區(qū)域地球化學樣品分析方法 第5部分:鎘量測定 電感耦合等離子體質譜法
  • DZ/T 0064.37-2021 地下水質分析方法 第37部分:硒量的測定催化極譜法
  • DZ/T 0064.33-2021 地下水質分析方法 第33部分:鉬量的測定催化極譜法

美國材料與試驗協(xié)會,關于質譜分析分子量的標準

  • ASTM E1504-11 次級離子質譜分析法中報告質譜數(shù)據(jù)的標準操作規(guī)程
  • ASTM E996-94(1999) 俄歇電子能譜分析和X射線光電子光譜分析數(shù)據(jù)報告的標準規(guī)程
  • ASTM C791-83(2000) 核純級碳化硼的化學分析,質譜分析和光譜化學分析的標準試驗方法
  • ASTM UOP1037-20 通過電感耦合等離子體質譜法分析液化石油氣中的痕量金屬
  • ASTM E1881-12 用次級離子質譜法 (SIMS) 對細胞培養(yǎng)分析的標準指南
  • ASTM D6579-00 尺寸篩析色譜法測定烴和萜烯樹脂平均分子量和分子量分布的標準實施規(guī)程
  • ASTM C1379-10 電感耦合等離子體-質譜分析法對尿進行鈾-235和鈾-238分析的標準試驗方法
  • ASTM E1881-06 用次級離子質譜法(SIMS)進行細胞培養(yǎng)分析的標準指南

行業(yè)標準-教育,關于質譜分析分子量的標準

RO-ASRO,關于質譜分析分子量的標準

行業(yè)標準-石油,關于質譜分析分子量的標準

行業(yè)標準-有色金屬,關于質譜分析分子量的標準

  • YS/T 244.9-2008 高純鋁化學分析方法 第9部分:電感耦合等離子體質譜法測定雜質含量
  • YS/T 870-2013 高純鋁化學分析方法 痕量雜質元素的測定 電感耦合等離子體質譜法
  • YS/T 896-2013 高純鈮化學分析方法 痕量雜質元素的測定 電感耦合等離子體質譜法
  • YS/T 892-2013 高純鈦化學分析方法 痕量雜質元素的測定 電感耦合等離子體質譜法
  • YS/T 898-2013 高純鉭化學分析方法 痕量雜質元素的測定 電感耦合等離子體質譜法
  • YS/T 900-2013 高純鎢化學分析方法 痕量雜質元素的測定 電感耦合等離子體質譜法
  • YS/T 474-2005 高純鎵化學分析方法 痕量元素的測定 電感耦合等離子體質譜法
  • YS/T 820.9-2012 紅土鎳礦化學分析方法.第9部分:鈧、鎘含量測定.電感耦合等離子體-質譜法
  • YS/T 34.1-2011 高純砷化學分析方法.電感耦合等離子體質譜法(ICP-MS)測定高純砷中雜質含量
  • YS/T 536.7-2009 鉍化學分析方法.砷量的測定.原子熒光光譜法
  • YS/T 536.11-2009 鉍化學分析方法.汞量的測定.原子熒光光譜法
  • YS/T 74.10-1994 鎘化學分析方法 火焰原子吸收光譜法測銀量
  • YS/T 1593.4-2023 粗碳酸鋰化學分析方法 第4部分:陰離子含量的測定 離子色譜法

德國標準化學會,關于質譜分析分子量的標準

  • DIN EN 12938:2000 錫基合金的分析方法.原子光譜儀法測定合金雜質含量
  • DIN V ENV 13800:2000 鉛及鉛合金.無鉛基質分離的火焰原子吸收光譜(FAAS)分析法或感應耦合等離子體發(fā)射光譜(ICP-ES)分析法
  • DIN 51009:2013 原子光譜分析.原理和定義
  • DIN ISO 13321:2004 粒度分析.相關光子光譜學
  • DIN 51009:2001 原子光譜分析.原理和定義
  • DIN EN ISO 10927:2018-10 塑料.用輔助矩陣激光吸附/電離飛行時間質譜法測定聚合物物種的分子質量和分子質量分布
  • DIN EN ISO 10700:1996 鋼和鐵.錳含量測定.火焰原子吸收光譜分析法
  • DIN 55674:2006 合成聚合物. 通過基質輔助激光解吸/電離測定聚合物分子質量及分子質量分布測定. 飛行時間質譜法

ES-UNE,關于質譜分析分子量的標準

  • UNE-EN 12938:1999 錫分析方法原子光譜法測定合金元素和雜質元素含量
  • UNE-EN 13615:2001 錫錠分析方法 原子光譜法測定99.90%和99.85%錫級中雜質元素含量
  • UNE-EN 13615:2001/AC:2002 錫錠分析方法 用原子光譜法測定 99,90 % 和 99,85 % 錫品位中雜質元素含量
  • UNE-EN ISO 10927:2019 塑料 通過基質輔助激光解吸/電離飛行時間質譜(MALDI-TOF-MS)測定聚合物種類的分子質量和分子質量分布
  • UNE-ISO/TS 8000-81:2023 數(shù)據(jù)質量 — 第 81 部分:數(shù)據(jù)質量評估:分析

國家能源局,關于質譜分析分子量的標準

  • SY/T 7361-2017 稀有氣體分離與組分含量分析 四極桿質譜法
  • SY/T 6404-2018 巖石中金屬元素的電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜及質譜分析方法

SE-SIS,關于質譜分析分子量的標準

未注明發(fā)布機構,關于質譜分析分子量的標準

RU-GOST R,關于質譜分析分子量的標準

中國團體標準,關于質譜分析分子量的標準

行業(yè)標準-航空,關于質譜分析分子量的標準

  • HB 5219.11-1998 鎂合金化學分析方法 原子吸收光譜分析法測定鎳含量
  • HB 5219.13-1998 鎂合金化學分析方法 原子吸收光譜分析法測定鋅含量
  • HB 5219.20-1998 鎂合金化學分析方法 原子吸收光譜分析法測定銀含量
  • HB 5219.3-1998 鎂合金化學分析方法 原子吸收光譜分析法測定銅含量
  • HB 5219.8-1998 鎂合金化學分析方法 原子吸收光譜分析法測定錳含量
  • HB 5219.5-1998 鎂合金化學分析方法 原子吸收光譜分析法測定鐵含量
  • HB 6731.2-1993 鋁合金原子吸收光譜分析法 鎂含量的測量
  • HB 6731.1-1993 鋁合金原子吸收光譜分析法 銅含量的測定
  • HB 6731.9-1993 鋁合金原子吸收光譜分析法 鉻含量的測定
  • HB 6731.4-1993 鋁合金原子吸收光譜分析法 鉛含量的測定
  • HB 6731.5-1993 鋁合金原子吸收光譜分析法 鎘含量的測定
  • HB 6731.6-1993 鋁合金原子吸收光譜分析法 鐵含量的測定
  • HB 6731.7-1993 鋁合金原子吸收光譜分析法 錳含量的測定
  • HB 6731.8-1993 鋁合金原子吸收光譜分析法 鎳含量的測定
  • HB 6731.10-1993 鋁合金原子吸收光譜分析法 釩含量的測定
  • HB 6731.3-1993 鋁合金原子吸收光譜分析法 鋅含量的測定
  • HB 7716.10-2002 鈦合金化學成分光譜分析方法.第10部分:火焰原子吸收光譜法.測定微量錳含量
  • HB 7716.8-2002 鈦合金化學成分光譜分析方法.第8部分:火焰原子吸收光譜法.測定微量銅含量
  • HB 7716.5-2002 鈦合金化學成分光譜分析方法.第5部分:火焰原子吸收光譜法.測定微量鉬含量
  • HB 7716.14-2002 鈦合金化學成分光譜分析方法.第14部分:電感耦合等離子體原子發(fā)射.光譜法測定微量釔含量
  • HB 6731.1-2005 鋁合金化學成分光譜分析方法 第1部分:火焰原子吸收光譜法測定銅含量
  • HB 6731.2-2005 鋁合金化學成分光譜分析方法 第2部分:火焰原子吸收光譜法測定鎂含量
  • HB 6731.3-2005 鋁合金化學成分光譜分析方法 第3部分:火焰原子吸收光譜法測定鋅含量
  • HB 6731.4-2005 鋁合金化學成分光譜分析方法 第4部分:火焰原子吸收光譜法測定鉛含量
  • HB 6731.5-2005 鋁合金化學成分光譜分析方法 第5部分:火焰原子吸收光譜法測定鎘含量
  • HB 6731.6-2005 鋁合金化學成分光譜分析方法 第6部分:火焰原子吸收光譜法測定鐵含量
  • HB 6731.7-2005 鋁合金化學成分光譜分析方法 第7部分:火焰原子吸收光譜法測定錳含量
  • HB 6731.8-2005 鋁合金化學成分光譜分析方法 第8部分:火焰原子吸收光譜法測定鎳含量
  • HB 6731.9-2005 鋁合金化學成分光譜分析方法 第9部分:火焰原子吸收光譜法測定鉻含量
  • HB 7716.7-2002 鈦合金化學成分光譜分析方法.第7部分:火焰原子吸收光譜法.測定銅含量
  • HB 7716.9-2002 鈦合金化學成分光譜分析方法.第9部分:火焰原子吸收光譜法.測定錳含量
  • HB 7716.11-2002 鈦合金化學成分光譜分析方法.第11部分:火焰原子吸收光譜法.測定鐵含量
  • HB 7716.12-2002 鈦合金化學成分光譜分析方法.第12部分:火焰原子吸收光譜法.測定硅含量
  • HB 7716.1-2002 鈦合金化學成分光譜分析方法.第1部分:火焰原子吸收光譜法.測定鋁含量
  • HB 7716.2-2002 鈦合金化學成分光譜分析方法.第2部分:火焰原子吸收光譜法.測定釩含量
  • HB 7716.3-2002 鈦合金化學成分光譜分析方法.第3部分:火焰原子吸收光譜法.測定鉻含量
  • HB 7716.4-2002 鈦合金化學成分光譜分析方法.第4部分:火焰原子吸收光譜法.測定鉬含量
  • HB 7716.6-2002 鈦合金化學成分光譜分析方法.第6部分:火焰原子吸收光譜法.測定錫含量
  • HB 6731.11-2005 鋁合金化學成分光譜分析方法 第10部分:電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法測定鈹含量
  • HB 6731.12-2005 鋁合金化學成分光譜分析方法 第12部分:電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法測定硅含量
  • HB 7716.17-2022 鈦合金化學成分光譜分析方法 第17部分:電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法測定硼含量

丹麥標準化協(xié)會,關于質譜分析分子量的標準

  • DS/EN 12938/AC:2001 錫的分析方法 原子光譜法測定合金元素和雜質元素含量
  • DS/EN 12938:2001 錫的分析方法 原子光譜法測定合金元素和雜質元素含量
  • DS/EN ISO 10927:2011 塑料 通過基質輔助激光解吸/電離飛行時間質譜法(MALDI-TOF-MS)測定聚合物種類的分子質量和分子質量分布
  • DS/EN 27627-1:1993 硬質合金.火焰原子吸收光譜法化學分析.第1部分:一般要求

立陶宛標準局,關于質譜分析分子量的標準

YU-JUS,關于質譜分析分子量的標準

  • JUS C.A1.546-1990 硬質金屬.火焰原子吸收光譜法化學分析.含量在0.01到2 %時鉻含量的測定(質量比)
  • JUS C.A1.650-1987 銀的化學分析方法.雜質含量測定.光譜法

US-ACEI,關于質譜分析分子量的標準

IPC - Association Connecting Electronics Industries,關于質譜分析分子量的標準

NL-NEN,關于質譜分析分子量的標準

  • NEN-ISO 7627-6:1993 硬質合金.火焰原子吸收光譜法化學分析.第6部分:含量在0.01%2至2%(質量比)的鉻的含量的測定
  • NEN-ISO 7627-4:1993 硬質合金.火焰原子吸收光譜法化學分析.第4部分:含量在0.01%至0.5%(質量比)的鉬,鈦和釩的含量的測定(ISO 7627-4-1983)
  • NEN-ISO 7627-5:1993 硬質合金.火焰原子吸收光譜法化學分析.第5部分:含量在0.5%至2%(質量比)的鈷;鐵;錳;鉬;鎳;鈦和釩的含量的測定

遼寧省標準,關于質譜分析分子量的標準

  • DB21/T 2070-2013 硅酸鋁質耐火材料化學分析 原子吸收光譜法
  • DB21/T 3851-2023 畜產(chǎn)品質量安全檢測色譜分析方法驗證規(guī)范

中華人民共和國國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會,關于質譜分析分子量的標準

  • GB/T 3884.19-2017 銅精礦化學分析方法 第19部分:鉈量的測定 電感耦合等離子體質譜法
  • GB/T 35655-2017 化學分析方法驗證確認和內(nèi)部質量控制實施指南 色譜分析
  • GB/T 20899.14-2017 金礦石化學分析方法 第14部分:鉈量的測定 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法和電感耦合等離子體質譜法
  • GB/T 8152.13-2017 鉛精礦化學分析方法 第13部分:鉈量的測定 電感耦合等離子體質譜法和電感耦合等離子體-原子發(fā)射光譜法
  • GB/T 8151.21-2017 鋅精礦化學分析方法 第21部分:鉈量的測定 電感耦合等離子體質譜法和電感耦合等離子體-原子發(fā)射光譜法
  • GB/T 33236-2016 多晶硅 痕量元素化學分析 輝光放電質譜法

TH-TISI,關于質譜分析分子量的標準

  • TIS 2250.3-2005 塑料.用排阻色譜法測定聚合物的平均分子質量和分子質量分布.第3部分:低溫法
  • TIS 2250.4-2005 塑料.用排阻色譜法測定聚合物的平均分子質量和分子質量分布.第4部分:高溫法
  • TIS 2250.1-2005 塑料.用排阻色譜法測定聚合物的平均分子質量和分子質量分布.第1部分:一般原則
  • TIS 2250.2-2005 塑料.用排阻色譜法測定聚合物的平均分子質量和分子質量分布.第2部分:通用校準法

歐洲標準化委員會,關于質譜分析分子量的標準

  • EN 15111:2007 食品.微量元素的測定.ICP-MS(感應耦合等離子體質譜分析法)測定碘含量
  • EN ISO 15192:2021 土質.利用堿性消化和帶光譜光度測量探測的離子色譜分析法測定土壤材料中鉻(VI)含量
  • EN ISO 10927:2018 塑料.用輔助矩陣激光吸附/電離飛行時間質譜法測定聚合物物種的分子質量和分子質量分布
  • EN ISO 10927:2011 塑料.用輔助矩陣激光吸附/電離飛行時間質譜法測定聚合物物種的分子質量和分子質量分布

國家軍用標準-總裝備部,關于質譜分析分子量的標準

行業(yè)標準-化工,關于質譜分析分子量的標準

  • HG/T 2954~2955-2008 原子吸收光譜分析方法標準編寫格式 分子吸收光譜分析方法標準編寫格式

行業(yè)標準-電子,關于質譜分析分子量的標準

  • SJ/T 10553-2021 電子陶瓷用二氧化鋯中雜質的發(fā)射光譜分析方法
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  • SJ/T 10552-1994 電子陶瓷用二氧化鈦中雜質的發(fā)射光譜分析方法
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行業(yè)標準-黑色冶金,關于質譜分析分子量的標準

行業(yè)標準-商品檢驗,關于質譜分析分子量的標準

  • SN/T 2698-2010 鎢制品中雜質元素分析 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法

CZ-CSN,關于質譜分析分子量的標準

  • CSN 35 6535-1983 電子測量儀器.連續(xù)過程光譜分析儀.參數(shù)命名

印度尼西亞標準,關于質譜分析分子量的標準

VN-TCVN,關于質譜分析分子量的標準

  • TCVN 7409-2010 食品.經(jīng)過輻射含脂肪的食品的檢測.2-烷基環(huán)丁酮的氣相色譜分析/質量色譜分析

國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局,關于質譜分析分子量的標準

  • SN/T 4501.3-2017 鎳精礦化學分析方法 第3部分:金、鉑、鈀含量的測定 電感耦合等離子體質譜法

美國電子電路和電子互連行業(yè)協(xié)會,關于質譜分析分子量的標準

國家計量技術規(guī)范,關于質譜分析分子量的標準

  • JJF 1029-1991 電子探針定量分析用標準物質研制規(guī)范

質譜分析 分子量,質譜分析分子量,質譜分析質譜分析,質譜分析分子量多23,+++++質譜分析質譜分析,質譜質譜分析質譜分析氣體?,質譜分析 基峰,質譜分析樣品,質譜分析 時間,化學質譜分析,質譜分析 離子,質譜分析序列,串聯(lián)質譜分析質譜分析過程,質譜分析時間,色譜-質譜分析,質譜分析結果,質譜分析 組成。

 

可能用到的儀器設備

 

MALDI-8030雙極性臺式線性MALDI-TOF質譜儀

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島津企業(yè)管理(中國)有限公司/島津(香港)有限公司

 

AXIMA Assurance線性基質輔助激光解析飛行時間質譜儀

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島津企業(yè)管理(中國)有限公司/島津(香港)有限公司

 

MALDI mini-1基質輔助激光解吸

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島津企業(yè)管理(中國)有限公司/島津(香港)有限公司

 

MALDI-7090高端MALDI-TOF/TOF

MALDI-7090高端MALDI-TOF/TOF

島津企業(yè)管理(中國)有限公司/島津(香港)有限公司

 

串聯(lián)飛行時間質譜儀AXIMA PerformanceMALDI質譜 MALDI-TOF 快速準確分析蛋白質C-末端氨基酸序列

串聯(lián)飛行時間質譜儀AXIMA PerformanceMALDI質譜 MALDI-TOF 快速準確分析蛋白質C-末端氨基酸序列

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