電鏡-電子能譜分析
本專題涉及電鏡-電子能譜分析的標(biāo)準(zhǔn)有91條。
國際標(biāo)準(zhǔn)分類中，電鏡-電子能譜分析涉及到分析化學(xué)、光學(xué)設(shè)備、光學(xué)和光學(xué)測量、無損檢測、詞匯、長度和角度測量、醫(yī)學(xué)科學(xué)和保健裝置綜合、金屬材料試驗(yàn)。
在中國標(biāo)準(zhǔn)分類中，電鏡-電子能譜分析涉及到電子光學(xué)與其他物理光學(xué)儀器、基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)與通用方法、重金屬及其合金、顏料、電化學(xué)、熱化學(xué)、光學(xué)式分析儀器、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、放大鏡與顯微鏡、化學(xué)、造紙綜合、金相檢驗(yàn)方法。
英國標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會，關(guān)于電鏡-電子能譜分析的標(biāo)準(zhǔn)
- BS ISO 23420:2021 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜分析能量分辨率的測定方法
- BS ISO 24639:2022 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜元素分析能量標(biāo)度的校準(zhǔn)程序
- 20/30380369 DC BS ISO 23420 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜分析能量分辨率的測定方法
- 21/30404763 DC BS ISO 24639 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜元素分析能量標(biāo)度的校準(zhǔn)程序
- BS ISO 25498:2018 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
- 24/30479937 DC BS ISO 25498 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
- BS ISO 10810:2019 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南
- BS PD ISO/TR 19319:2003 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測定
- BS ISO 18516:2006(2010) 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率的測定
- BS ISO 19830:2015 表面化學(xué)分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的最低報(bào)告要求
- BS ISO 10810:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜法.分析指南
- BS ISO 16129:2018 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 X 射線光電子能譜儀日常性能評估程序
- 12/30245653 DC BS ISO 15932 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
- BS ISO 21270:2004(2010) 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)度線性度
- BS ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析 X 射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度尺度的線性
- BS ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評估規(guī)程
海灣阿拉伯國家合作委員會標(biāo)準(zhǔn)組織，關(guān)于電鏡-電子能譜分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GSO ISO 24639:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜法元素分析能級的校準(zhǔn)程序
- GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析掃描電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
- GSO ISO 15932:2015 微量分析 分析電子顯微鏡 詞匯
- GSO ISO 10810:2013 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析說明
- GSO ISO 18516:2013 表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率的測定
- GSO ISO 19830:2016 表面化學(xué)分析 電子能譜 X射線光電子能譜峰擬合的最低報(bào)告要求
- GSO ISO 21270:2014 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)度的線性
巴林國家計(jì)量局，關(guān)于電鏡-電子能譜分析的標(biāo)準(zhǔn)
- BH GSO ISO 24639:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 電子能量損失譜法元素分析能級的校準(zhǔn)程序
- BH GSO ISO 25498:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
- BH GSO ISO 15932:2017 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
- BH GSO ISO 10810:2016 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜分析指南
- BH GSO ISO 18516:2016 表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率的測定
- BH GSO ISO 19830:2017 表面化學(xué)分析 電子能譜 X射線光電子能譜峰擬合的最低報(bào)告要求
- BH GSO ISO 16129:2015 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 評估X射線光電子能譜儀日常性能的程序
- BH GSO ISO 21270:2016 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)度的線性
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織，關(guān)于電鏡-電子能譜分析的標(biāo)準(zhǔn)
- ISO 23420:2021 微束分析.分析電子顯微鏡.電子能量損失譜分析用能量分辨率的測定方法
- ISO 24639:2022 微束分析.分析電子顯微鏡.用電子能量損失光譜法進(jìn)行元素分析的能量標(biāo)度校準(zhǔn)程序
- ISO/DIS 25498:2024 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
- ISO/CD 25498:2023 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
- ISO 15932:2013 微光束分析.分析電子顯微鏡.詞匯
- ISO 10810:2019 表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜分析指南
- ISO 19830:2015 表面化學(xué)分析. 電子能譜. X射線光電子能譜峰擬合的最低報(bào)告要求
- ISO 10810:2010 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜學(xué).分析導(dǎo)則
- ISO 21270:2004 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性
- ISO 16129:2018 表面化學(xué)分析 - X射線光電子能譜 - 評估X射線光電子能譜儀日常性能的方法
- ISO/TR 19319:2003 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測
- ISO 16129:2012 表面化學(xué)分析.X射線光電子能光譜學(xué).X射線光電子能譜儀日常性能評估規(guī)程
國家質(zhì)檢總局，關(guān)于電鏡-電子能譜分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 17359-1998 電子探針和掃描電鏡X射線能譜定量分析通則
- GB/T 17507-1998 電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣通用技術(shù)條件
- GB/T 18873-2008 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線能譜定量分析通則
- GB/T 18873-2002 生物薄試樣的透射電子顯微鏡-X射線 能譜定量分析通則
- GB/T 25189-2010 微束分析.掃描電鏡能譜儀定量分析參數(shù)的測定方法
- GB/T 26533-2011 俄歇電子能譜分析方法通則
- GB/T 17362-1998 黃金飾品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
- GB/T 17362-2008 黃金制品的掃描電鏡X射線能譜分析方法
- GB/T 18907-2013 微束分析 分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法
- GB/T 17507-2008 透射電子顯微鏡X射線能譜分析生物薄標(biāo)樣的通用技術(shù)條件
- GB/T 28632-2012 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.橫向分辨率測定
- GB/T 30704-2014 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 分析指南
- GB/T 19500-2004 X射線光電子能譜分析方法通則
- GB/T 18907-2002 透射電子顯微鏡選區(qū)電子衍射分析方法
- GB/T 21006-2007 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)的線性
- GB/T 29556-2013 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析器所能檢測到的樣品面積的測定
- GB/T 2679.11-2008 紙和紙板 無機(jī)填料和無機(jī)涂料的定性分析.電子顯微鏡/X射線能譜法
- GB/T 17361-2013 微束分析 沉積巖中自生粘土礦物鑒定 掃描電子顯微鏡及能譜儀方法
- GB/Z 32494-2016 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜 化學(xué)信息的解析
國家市場監(jiān)督管理總局、中國國家標(biāo)準(zhǔn)化管理委員會，關(guān)于電鏡-電子能譜分析的標(biāo)準(zhǔn)
- GB/T 41072-2021 表面化學(xué)分析 電子能譜 紫外光電子能譜分析指南
- GB/T 35099-2018 微束分析 掃描電鏡-能譜法 大氣細(xì)粒子單顆粒形貌與元素分析
- GB/T 41073-2021 表面化學(xué)分析 電子能譜 X射線光電子能譜峰擬合報(bào)告的基本要求
韓國科技標(biāo)準(zhǔn)局，關(guān)于電鏡-電子能譜分析的標(biāo)準(zhǔn)
- KS D 2518-2005 鎘光電子能譜分析法
- KS D 2518-1982 鎘光電子能譜分析法
- KS D ISO 19319-2005(2020) 表面化學(xué)分析－俄歇電子能譜和X射線光電子能譜－分析儀橫向分辨率、分析面積和樣品面積的測定
- KS D ISO 21270-2020 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)度線性度
- KS D ISO 21270:2005 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀.強(qiáng)度標(biāo)的線性
- KS D ISO 19319-2020 表面化學(xué)分析 俄歇電子能譜和X射線光電子能譜 橫向分辨率、分析面積和分析儀觀察到的樣品面積的測定
- KS D ISO 21270-2005(2020) 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀強(qiáng)度標(biāo)度的線性
- KS D ISO 19319:2005 表面化學(xué)分析.俄歇電子能譜和X射線光電子能譜.分析員對橫向分辨率、分析區(qū)域和樣品區(qū)域的目視檢測
福建省地方標(biāo)準(zhǔn)，關(guān)于電鏡-電子能譜分析的標(biāo)準(zhǔn)
- DB35/T 110-2000 油漆物證檢測電子探針和掃描電鏡X射線能譜分析方法
阿曼規(guī)格和計(jì)量局，關(guān)于電鏡-電子能譜分析的標(biāo)準(zhǔn)
- OS GSO ISO 25498:2015 微束分析 分析電子顯微鏡 使用透射電子顯微鏡進(jìn)行選區(qū)電子衍射分析
- OS GSO ISO 15932:2015 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
- OS GSO ISO 10810:2013 表面化學(xué)分析X射線光電子能譜分析指南
- OS GSO ISO 18516:2013 表面化學(xué)分析俄歇電子能譜和X射線光電子能譜橫向分辨率的測定
- OS GSO ISO 16129:2014 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 評估X射線光電子能譜儀日常性能的程序
- OS GSO ISO 21270:2014 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜儀和俄歇電子能譜儀 強(qiáng)度標(biāo)度的線性
美國材料與試驗(yàn)協(xié)會，關(guān)于電鏡-電子能譜分析的標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM E996-94(1999) 俄歇電子能譜分析和X射線光電子光譜分析數(shù)據(jù)報(bào)告的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)程
- ASTM E1588-10 用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進(jìn)行槍擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1588-08 用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進(jìn)行槍擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1588-95 用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進(jìn)行槍擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
- ASTM E1588-95(2001) 用掃描電子顯微鏡/能量色散光譜法進(jìn)行槍擊殘留物分析的標(biāo)準(zhǔn)指南
法國標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會，關(guān)于電鏡-電子能譜分析的標(biāo)準(zhǔn)
- NF ISO 15932:2014 微束分析 分析電子顯微鏡 詞匯
- NF X21-071:2011 表面化學(xué)分析.X射線光電子能譜法.分析用導(dǎo)則
德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會，關(guān)于電鏡-電子能譜分析的標(biāo)準(zhǔn)
- DIN ISO 16129:2020-11 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜 X射線光電子能譜儀日常性能評估程序
- DIN ISO 16129 E:2020-01 表面化學(xué)分析 X射線光電子能譜-評估X射線光電子能譜儀的日常性能的程序
- DIN ISO 15632:2022 微束分析 用于掃描電子顯微鏡 (SEM) 或電子探針微分析儀 (EPMA) 的能量色散 X 射線譜儀 (EDS) 的規(guī)范和檢查的選定儀器性能參數(shù)
工業(yè)和信息化部，關(guān)于電鏡-電子能譜分析的標(biāo)準(zhǔn)
- YB/T 4676-2018 鋼中析出相的分析 透射電子顯微鏡法
